Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для рефрактометрических измерений, а также для других прецизионных измерений условных величин. Целью изобретения является измерение также и угловых перемещений. На чертеже представлена схе.ма интерферо.метрического измерительного устройстваУстройство содержит источник 1 линейно поляризованного излучения и оптически связанные светоделитель 2 и два плоских зеркала 3 и 4, предметный столик 5, установленный с возможностью вращения вокруг оси, параллельной двум плоским зеркалам 3 и 4, два дополнительных плоских зеркала (не показаны), установленных на столике 5 параллельно отражающим плоскостям навстречу друг другу под- углом к оптической оси устройства, две пластины /1/4 и 6 и7, установленные перед отражающими плоскостями первых двух плоских зеркал 3 и 4, оптические оси пластин составляют соответственно углы +45° и -45° с плоскостью поляризации источника 1 излучения, электрооптический модулятор 8, оптически связанный со светоделителе.м 2 и установленный оптической осью под углом 45° к оси плоскости поляризации источника 1 излучения, и последовательно расположенные анализатор 9, блок 10 обработки информации в виде последовательно соединенных фотоумножителя, 11, узкополосного фильтра 1-2 и реверсивного счетчика 13, двустороннее зеркало 14, установленное на предметном с.толике 5 параллельно двум дополнительным зеркалам 15 и 16, светоделительный блок в виде светоделительного кубика 17 и четырех фазовых пластин 18-21, каждая из которых посажена на оптический контакт с соответствующей гранью кубика 17, установленного на оптической оси устройства между модуляторо.м 8 и анализатором 9, блок 22 настройки нулевой полосы, расположенный за светоделителем 2 по ходу потока излучения, ось которого перпендикулярна оптической оси устройства, в виде оптически связанных источника 23 немонохроматического излучения, объектива 24 , поляризатора 25 и светофильтра 26, оптически связанного со светоделителем 2. Устройство работает следующим образом. Луч от источника 1 излучения после прохождения через электрооптический модулятор 8 становится эллиптически поляризованным с осью эллипса, параллельной плоскости поляризации луча источника 1. После йластины 2 и 3 луч становится линейно поляризованным с модулированным азимутом плоскости поляризации. Светоделитель 17 образует два луча а и б которые дважды отражаются соответственно от зеркал 14, 15, 3 (луч а) и 16, 14, 4 (луч б), и интер18 ферйруют на светоделителе 17. Фазовые пластинки 19 и 20, оптические оси которых взаимно перпендикулярны, при прохождении лучей туда и обратно сквозь пластинки действуют на нихкак пластины .Я/4, поэтому на выходе и.меют место два эллиптически поляризованных луча с одинаковой эллиптичностью, одинаковым азимутом оси эллипса 45°, но с противоположным направлением вращения. В результате интерференции этих лучей образуется линейно поляризованный луч, модулированный по азимуту и интенсивности. Начальное значение азимута do ( которое .имеет место при отсутствии напряжения на модуляторе 8) зависит от разности фаз сГ между лучами а и б. Пластинки 4, 6, 7 при прохождении лучей туда и обратно действуют на них как полуволновые, меняя местами составляющие лучей с азимутом О и 90°, благодаря чему ис1 лючается влияние искажений состояния поляризации лучей на зеркалах 6 и 7. При вращении предметного столика 5, на котором жестко закреплены зеркала 14- 16 и которЬш сопряжен с исследуемым объектом (не показан) относительно исходного положения, оптический путь одного луча увеличивается, второе уменьшается. При этом, между лучами а и б образуется разность 5 R-sin. (1) При вращении столика 5 периодически меняется освещенность фотоумножителя, который равномерно освещен (бесконечно щирокая полоса), причем счет целых чисел полос (кратных) осуществляется фотоэлектрическим способом с по.мощью реверсивного счетчика 24, измерение дробной части интерференции - компенсационным способом с помощью анализатора 9. Исходным положением столика 5 является такое положение, когда зеркала 14-16 параллельны светоделителю. 17. В этом случае на выходе имеет место нулевая (бесконечно щирокая) полоса. Для настройки нулевой полосы предназначен блок 22. Интенсивность выходного луча описывается выражением I-Ioti -stni&ffo -6oSinfib)(.iniS-siiiZ4(2 где (5 и П - амплитуда и частота модуляции;б -дрейф рабочей точки модулятот -азимут анализатора 21; S -разность фаз, определяемая равенством (1). Из (2) следует, что в приведенном устройстве исключено влияние дрейфа рабочей точки модулятора на измерение угловой величины. Кроме того, симметричное построение устройства позволяет также исключить влияние гирации фазовых пластинок (если последние изготовлены, например, из кварца), уменьшить влияние неточностей изготовления фазовых пластин, чем достигается высокая точность измерений.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Рефрактометр для анизотропных кристаллов | 1982 |
|
SU1100541A1 |
Устройство для измерения поляризационных характеристик анизотропных сред | 1982 |
|
SU1021959A1 |
Способ измерения оптических параметров фазовых пластинок и устройство для его осуществления | 1983 |
|
SU1153275A1 |
Эллипсометр | 1988 |
|
SU1695145A1 |
Устройство для исследования поляризационных свойств анизотропных материалов | 1982 |
|
SU1045004A1 |
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП | 2013 |
|
RU2527316C1 |
Многолучевой интерферометр | 1982 |
|
SU1060939A1 |
Оптическое множительное устройство | 1980 |
|
SU984333A1 |
СПОСОБ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ МИКРОСКОПИИ | 2013 |
|
RU2536764C1 |
Устройство для определения углов наклона подвижного объекта | 1988 |
|
SU1569544A1 |
ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО, содержащее источник линейно поляризованного излучения и оптически связанные светоделитель и два плоских зеркала, предметный столик, установленный с возможностью вращения вокруг оси, параллельной двум плоским зеркалам; два дополнительных плоских зеркала, установленных на столике параллельно отражающим плоскостям одно навстречу другому под углом к оптической оси устройства, две пластины А /4, установленные перед отражающими плоскостями первых двух плоских зеркал, оптические оси пластин составляют соответственно углы -f45° и -45° с плоскостью поляризации источника излучения, электрооптический модулятор, оптически связанный со светоделителем и установленный оптической осью под углом 45° к оси поляризации источника излучения, и последовательно расположенные анализатор и блок обработки информации, отличающееся тем, что, с целью измерения также и угловых перемещений, оно снабжено двусторонним зеркалом, установленным на предметном столике параллельно двум дополнительным зеркалам, светоделительным блоком, выполненным в виде светоделительного кубика и четырех фазовых пластин, каждая из которых посажена на оптический контакт с соответствующей гранью кубика, установленного на оптической оси устройства между модулятором и анализатором, блоком настрой(Л ки нулевой полосы, расположенным за светоделителем по ходу потока излучения, ось которого перпендикулярна оптической оси устройства, и выполненным в виде оптически связанных источника немонохроматического излучения, объектива, поляризатора и светофильтра, оптически связанного со светоделителем, а блок обработки сигнала О5 выполнен в виде последовательно соединенсд ных фотоумножителя, узкополосного фильт оо ра и реверсивного счетчика. СХ)
г ,, Чу Л : 7 У Г
0 |
|
SU154059A1 | |
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Поляризационный интерферометр | 1980 |
|
SU940017A1 |
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Авторы
Даты
1985-07-07—Публикация
1982-07-22—Подача