Способ счета отдельных заряженных частиц полупроводниковым счетчиком Советский патент 1958 года по МПК G01T1/24 

Известные способы счета отдел ьных заряженных частиц с помощью электронных приборов основаны на применении источников питания детекторг излучения. Приложение внешнего напряжения к детектору создает шум в приборе и исключает возможность применения прибора в ряде исследований.

Отличительная особенность описываемого способа заключается в отсутствии источников питания. В качестве детектора используется фотодиод, который включается в схему в режиме вентильного фотоэлемента.

На чертеже приведена блок-схема способа счета отдельных заряженных частиц.

Схема содержит полупроводниковый фотодиод /, нагрузочное сопротивление 2, усилитель 5, регистрирующий прибор 4, например, осциллограф. {5-направление излучения заряженных частиц).

Возможность счета отдельных заряженных частиц фотодиодами без применения источников питания детектора следует из рассмотрения их вольт-амперных характеристик, которое показывает, что амплитуда импульсов должна увеличиваться с понижением температуры. Понижение температуры позволяет прнленять большее сопротивление нагрузки путем увеличения внутреннего сопротивления фотодиода и этим увеличить амплитуду импульса, а также облегч -ет ряд исследований, которые производятся при сверхнизких температурах.

Предмет изобретения

Способ счета отдельных заряженных частиц полупроводниковым счетчиком, отличающийся тем, что, с целью уменьшения шума детектора, отсутствует источник детектора излучения, а используется физическая особеннссть п-р перэходоз, когда при попадании в полупроводник ионизируюш.ей частицы ка переходе образуется импульс

напряжения А(р через я-р переход, вызванный

актом -ионизации, iRo-вкутреннее сопротивление полупроводника, R-сспротивление нагрузки.