Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков и устройство для его осуществления Советский патент 1985 года по МПК G01R27/26 

Описание патента на изобретение SU1176266A1

Изобретение относится к радиотехнике и может быть использовано при измерении диэлектрической проницаемости радиотехнических материалов.

Цель изобретения - повышение точнести определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков.

На чертеже изображена структурная электрическая схема устройства для определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков.

Устройство для определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков состоит из блока питания СВЧ-генератора 1, СВЧ-генератора 2, поляризатора 3, первого уголкового поворота 4, диэлектрической призмы 5 второго уголкового поворота 6, разделителя 7 поляризации отраженной волны первого и второго преобразователей 8 и 9 сигналов, измерителя-10 отношений двух напряжений, экстрематора 11, генератора 12 тактовых импульсов, счетчика 13, индикатора 14, шагового двигателя 15, измерительного столика

16и исследуемого листового диэлектрика 17. Перед началом измерений контролируемый листовой диэлектрик

17помещают на основание диэлектрической призмы 5 путем поднятия измерительного столика 16.

Устройство для определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков работает следующим обра- . зом.

Амплитудно-модулированная волна от СВЧ-генератора 2 проходит через поляризатор 3, после которого становится линейно поляризованной, и попадает науголковый поворот 4, который направляет СВЧ-волну перпендикулярно боковой грани на основание диэлектрической призмы 5. В поляризаторе 3 плоскость поляризации волны устанавливается равной 45относительно miocкости падения. Таким образом в падающей волне имеются две равные по величине ортогональные составляющие: лежащая в плоскости падения и перпендикулярная к ней. Отраженная СВЧ- . волна попадает во второй уголковый поворот 6, который направляет ее в

разделитель 7, выполненный нА основе одномерной проволочкой решетки. Он разделяет отраженную волну на две ортогональные составляющие, соответствующие малой и большой полуосям эллипса поляризации, и направляет их на первый 8 и второй преобразователи 9 сигналов. Напряжение с первого и второго преобразователей сигналов СВЧ-излучения одновременно поступает ,на входы измерителя 10 отношений двух напряжений, с выхода которого сигнал, определяющий эллиптичность отраженной СВЧ-волны, поступает на вход экстрематора 11, выполненного на основе операционного усилителя с нелинейной обратной связью. После включения генератора 12 импульсы поступают с выхода генератора на счетчик 13 и управляющий вход шагового двигателя 15. Вд1Л шагового двигателя 15 механически связан с измерительньм столиком, перемещающимся вместе с исследуемым листовым диэлектриком, перпендикулярно основанию диэлектрической призмы 5.

Работа генератора 12 и, следовательно, шагового двигателя 15 продолжается до тех пор, пока не поступит сигнал с экстрематора 11, который выключает генератор 12. Экстрематор 11 срабатывает только в том случае, если эллиптичность отраженно СВЧ-волны принимают экстремальное значение. После выключения генератора 12 число импульсов, записанное в счетчике 13, пропорционально величине смещения измерительного столика 16 или толщине воздушного слоя между исследуемым листовым диэлектриком 17 и основанием диэлектрической призмы 5. Толщина воздушного слоя однозначно связана с величиной диэлектрической проницаемости материалов для малых величин диэлектрической проницаемости. Отградуировав шкалу индикатора 14 в соответствующих единицах, можно непосредст.венно считать значение диэлектрической проницаемости исследуемого -.листового диэлектрика после выключения генератора 12 экстрематором 11,

MI

13

/2

f 7 iY.

f

Похожие патенты SU1176266A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий металлов 1982
  • Любецкий Николай Васильевич
  • Пунько Николай Николаевич
  • Конев Владимир Афанасьевич
SU1103069A1
Эллипсометрический способ измерения расстояния или плоскостности 1989
  • Тиханович Сергей Александрович
  • Максимович Елена Степановна
SU1657952A1
Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков 1988
  • Тиханович Сергей Александрович
SU1569748A1
Способ измерения диэлектрической проницаемости жидкостей 1989
  • Тиханович Сергей Александрович
  • Максимович Елена Степановна
SU1681279A1
Способ измерения толщины диэлектрических покрытий металлов и устройство для его осуществления 1990
  • Любецкий Николай Васильевич
  • Михнев Валерий Александрович
SU1753379A1
Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий 1986
  • Конев Владимир Афанасьевич
  • Любецкий Николай Васильевич
  • Счисленок Георгий Михайлович
  • Швайко Александр Николаевич
SU1318938A1
Способ и устройство для измерения диэлектрической проницаемости веществ 1983
  • Тиханович Сергей Александрович
  • Кочев Владимир Афанасьевич
SU1167535A1
СВЧ-эллипсометр 1987
  • Пунько Николай Николаевич
  • Клушин Александр Моисеевич
  • Волков Владимир Васильевич
SU1499196A1
Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий металлов 1987
  • Тиханович Сергей Александрович
  • Конев Владимир Афанасьевич
  • Любецкий Николай Васильевич
SU1506387A1
Способ контроля анизотропии материалов с малой диэлектрической проницаемостью и устройство для его осуществления 1987
  • Тиханович Сергей Александрович
  • Конев Владимир Афанасьевич
SU1427262A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 176 266 A1

Реферат патента 1985 года Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков и устройство для его осуществления

1. Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков, заключающийся в том, что исследуемый листовой диэлектрик облучают линейно поляризованной электромагнитной волной, разделяют отраженную волну, на ортогональные составляющие и определяют ее эллиптичность, отличающимися тем, что, с целью повыщения точности, при измерении листовых диэлектриков с малым З1начением диэлектрической проницаемости, исследуемый .листовой диэлектрик облучают через введенную диэлектрическую призму с углом при основании, большим критического, при это основание параллельно поверхности исследуемого листового диэлектрика. изменяют расстояние между ними, фиксируют то его значение :( , при котором эллиптичность (отраженной волны принимает минимальное значение, определяют диэлектрическую проницаемость листового диэлектрика по зависимости, связьшающей ее со значением d . 2. Устройство для определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков, содержащее СВЧгенератор, соединенный с поляризатором, разделитель поляризации отраженной волны, к выходам которого соответственно подсоединены первый и второй преобразователи сигнала, (Я выходы которых соединены соответственно с входами измерителя отношений, и индикатор, отличающееся тем, что, с целью повьпиения точности при измерении листовых диэлектриков с малым значением диэлектрической проницаемости, введена диэлектричес l кая призма с углом при основании, О) большим критического, при этом осIN9 нование размещено параллельно исОд следуемому листовому диэлектрику, Од который установлен с возможностью перемещения в направлении, перпендикулярном основанию, а между выходом измерителя отношений и входом индикатора последовательно включены экстрематор, генератор тактовых импульсов и счетчик.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1985 года SU1176266A1

ника
Планшайба для точной расточки лекал и выработок 1922
  • Кушников Н.В.
SU1976A1
Способ изготовления электрических сопротивлений посредством осаждения слоя проводника на поверхности изолятора 1921
  • Андреев Н.Н.
  • Ландсберг Г.С.
SU19A1
с
Парный автоматический сцепной прибор для железнодорожных вагонов 0
  • Гаврилов С.А.
SU78A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОМПЛЕКСНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ВЕЩЕСТВ НА СВЧ 0
SU282460A1
Прибор с двумя призмами 1917
  • Кауфман А.К.
SU27A1

SU 1 176 266 A1

Авторы

Конев Владимир Афанасьевич

Тиханович Сергей Александрович

Даты

1985-08-30Публикация

1983-09-30Подача