Способ измерения влажности Советский патент 1985 года по МПК G01N21/31 

111 Изобретение отностится к способам ИК влагометрии и может быть использовано для изг-ерения влажности сыпучих материалов в потоке, транспорт руемых в виде насыпи с разными, высотеми. Целью изобретения является повьше ние точности измерения за счет умень шения погрешности, обусловленной зависимостью индикатрисы отражения излучения от высоты насыпи в потоке. На фиг.1 изображены примеры индикатрис отражения сухого и влажного хлористого калия; на фиг,2 - оптическая схема устройства, реализующег предложенный способ; на фиг.З - вращающийся диск устройства. Кривые 1 и 2 соответствуют индика рисам отражения сухого материала в интервалах длин волн, соответствующих поглощению и пропусканию излучения водой, 3 и 4 - то же, для влажного материала соответственно. Оптическая схема устройства содержит последовательно расположенные по ходу отраженного потока излучения объектив 5, вращающийся диск 6, коническое зеркало 7 и приемник 8 излучения, а также источник 9 параллельного потока излучения. Плоскости 10 и 11 соответствуют зоне колебаний высоты насыпи материала. Вращакяцийся диск 6 содержит интерференционные светофильтры 12 и 13, дополнительное отверстие 14, перемещающееся по полю изображения облучаемого участка 15 поверхности материала. Оптический преобразователь, реали зующий предлагаемый способ, работает следукяцим образом. Объект измерения - транспортируемый сьшучий материал в виде насыпи облучают источником 9 параллельного потока излучения, затем отраженный поток проходит через объектив 5 и дает изображение на вращающемся диске 6, который с помощью интерференционных светофильтров 12,13 и отвср1стия 14 поочередно ввделяет три импульса измерения: первый - монохроматический, аналитической длины волны Дд, второй - монохроматический, сравнительной длины волны Лс и тре32 . тий - интегральный. Под аналитической и сравнительными длинами волн понимаются интервалы, соответствующие поглощению и пропусканию излучения водой. Величина первого импульса пропорциальна отражательной способности при аналитической длине волны, величина второго импульса пропорциональна отражательной способности при сравнительной длине волны, а продолжительность третьего импульса пропорциональна величине изображения облученного поля материала, которая со своей стороны находится в функциональной зависимости с диаметром изображения облучаемого на поверхности материала с высотой насыпи и служит параметром для внесения коррекции по уменьшению погрешности, обусловленной отличием форм индикатрис отражения при А и влажного материала. Вьщеленные импульсы фокусируются коническим зеркалом 7, в веошине которого установлен приемник 8 излучения. Последний световые потоки преобразует в электрические, которые обрабатываются электронной схемой (не показана), давая отношение интенсивностей отраженного от материала излучения с аналитической и сравнительной длиной волны с поправкой в зависимости от высоты насыпи материала. Поправка осуществляется с помощью третьего импульса, продолжительность которого является функцией высоты насыпи: чем больше высота насыпи, тем больше площадь изображения облучаемого участка 15 материала на вращающемся диске 6 и соответственно длительность перемещения отверстия по изображению. При этом уменьшается погрешность, обусловленная тем, что формы Индикатрис отражения для аналитической и реперной длин волн, которые для сухого материала практически одинаковы, для влажных материалов становятся разными, в частности индикатриса отражения материала при с увеличением поглощения, обусловленного водой, становится более диффузной. иг. i

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВЛАЖНОСТИ, преимущественно сыпучих материалов в потоке, включающий облучение материала параллельным световым потоком, выделение в отраженном от материала излучении посредством вращающегося диска со светофильтрами двух интервалов длин волн, соответствующих поглощению и пропусканию излучения водой, и регистрацию в указанных интервалах интенсивностей отраженного излучения, по отношению которых судят о влажности материала, отличающийся тем, что, с целью повьшхения точности измерения за счет уменьшения погрешности, обусловленной зависимостью индикатрисы отражения излучения от высоты насыпи в потоке, в плоскости диска, в котором выполнено отверстие, проецируют изображение облучаемо1 о участка поверхности материала i и дополнительно регистрируют длительность светового потока, прошедшего (Л через отверстие, соответствующую длительности перемещения отверстия по изображению, по которой судят о диаметре изображения и связанной с ним высотой насыпи, и корректируют результаты измерений. 00 ел со 00