Фотометрический шар для абсолютных измерений Советский патент 1985 года по МПК G01N21/55 

1 Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности фото- и спектрофотометрии, и может быть использовано в научных исследованиях, метрологии и промьшшенности. Цель изобретения - повыигение точности измерений путем исключения влияния отверстий независимо от длины волны излучения. На чертеже изображены фотометрический шар с оптической системой формующей излучение. Система включает источник 1 .излу ченшц апертурную диафрагму 2, зеркало 3, а фотометрический шар содержит входное отверстие 4, отверстие с образцом 5, которое отделено от приемника 6 непрозрачным экраном 7, в свободной поверхности учас ка шара 8 выполнено дополнительное отверстие 9. Устройство работает следующим образом. Когда зеркало 3 и экран 7 стоят в показанном пунктиром положении, свет цопадает на участок поверхности шара 8, в котором имеется дополнительное отверстие 9 такого ра мера, что выполняется следующее соотношение:где Sj - площадь участка поверхности шара 8; Sg - площадь внутренней поверхности шара; Sj - площадь отверстия 9; S - площадь входного отверстия 4. В предлагаемой конструкции шара свет, первый раз отразившись от исследуемого образца, может потерятьс 2 ко во входном отверстии, котоничем не закрыто, поэтому firH-f V fg - спектральный коэффициент отражения-покрытия внутренней поверхности шара; jJj эффективный спектральный коэффициент первого отражения всей внутренней поверхности шара. ледовательно , ys . , ; я ол 1 р - коэффициент отражения участка поверхности шара с дополнительным отверстием. тсчет приемника при освещении льзуемого вместо эталона участка рхности шара равен NO-KI P,- ; -1- р 0 S6 К - коэффициент пропорциональности; - поток входящего в шар излучения;pjj - эффективный спектральный коэффициент отражения всей внутренней поверхности шара. огда свет направляют на исследуобъект с коэффициентом отражер, отсчет N равен Н.КФРУ, ig ому для любой длины волны коэфент отражени- будет определятьез систематической погрешности.

ФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ ШАР ДЛЯ А СОЛЮТНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ, содержащий по ходу излучения входное отверстие, верстия для исследуемого образца и приемника излучения, между которым установлен прозрачный экран, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений путем исключения влияния отвер тий независимо от длины волны излу чения, в свободном от отверстий участке поверхности шара выполнено дополнительное отверстие, причем коэффициент первого отражения поверхности шара, ограниченной диаметром пучка излучения и содержащей дополнительное отверстие, равен эффективному коэффициенту первого отражения всей внутренней поверхности фотометрического шарар , определяемому по формуле , ,.iL|S л Э; f площадь внутренней поверхности шара, в котором отсутствуют отверстия; коэффициент отражения свободного от отверстий участка его поверхности; площадь и коэффициент отражения j-ro отверстия в шаре.