Устройство для обнаружения коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах Советский патент 1986 года по МПК G01R31/26 G01R31/27 

1

Изобретение относится к контролю готовых полупроводниковых приборов и может быть испопьзов.ано для раздельного обнаружения кратковременных и постоянных коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых диодах и диодных матрицах.

Целью изобретения является расширение функциональных возможностей устройства путем обеспечения контроля как полупроводниковых диодов, так и мостовых диодных матриц.

На чертеже представлена функциональная схема устройства для обнаружения коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах.

Устройство содержит генератор 1 напряжения, первый, второй, третий и четвертый выходы которого соединены соответственно с первым, вторым, третьим и четвертым входами блока 2 подключения, выход которого соединен с входами блоков 3 и 4 обнаружения соответственно постоянных и кратковременных неисправносте выходы которых соединены с входами соответственно первого и второго блоков 5 и 6 регистрации. При этом генератор 1 выполнен в виде сетевого трансформатора 7, выводы первой вторичной обмотки которого соответствуют первому и второму выходам генератора 1, а выводы второй вторичной обмотки - третьему и четвертому его выходам. Блок 2 подключени выполнен в виде первой шинь 8 для подключения проверяемого диода 9, которая соединена с первым входом блока подключения, второй вход которого соединен с о-бщей шиной устройства и с второй шиной 10 дпя подключения проверяемого диода через первый резистор 1 1 . Третий и четвертый входы блока подключения соединены соответственно с третьей и четвертой лшнами 12 и 13 дпя подключения диодной матрицы 14, пятая и шестая шины 15 и 16 для подключения диодной матрицы соединены соответственно с общей шиной устройства непосредственно и через второй резистор 17, Вторая шина 10 и шестая шина 16 соединены соответственно с первым и вторым входами переключателя 18, выход которого соединен с выходом блока 2 подключения. Блок 3 обнаружения постоянных неисправностей выполнен в виде последова116752

тельно соединенных фильтра 19 низких частот и триггера 20, а блок 4 обнаружения кратковременных неисправностей выполнен в виде фильтра вы5 соких частот.

Устройство дпя обнаружения коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах работает следующим образом.

10Постоянные короткие замыка;ния

и обрывы однаруживаются по интегральному эффекту, возникающему при работе проверяемых диодов или мостовой диодной матрицы в схеме выпрямителя

15 с фильтром низких частот (ФНЧ). В случае постоянных обрывов и или коротких замыканий постоянное напряжение на выходе ФНЧ меньше номинального значения U , которое равно

20 0,319 и, для диода и 0,638 U для диодной матрицы, где - амплитуды напряжения соответственно на первой и второй обмотках сетевого трансформатора 7. Эти обмотки вы- , 25 полнены так, чтобы при исправном диоде 9 или диодной матрице 14

напряжения на выходе ФНЧ 19 были одинаковыми. Переключатель 58 позволяет переключать входы блоков

30 3 и 4 с первого на второй резисторы, что обеспечивает возможность контроля одновременно установленных в блоке проверяемых диода 9 и диодной матрицы 14.

Наличие постоянных кратковременных замыканий или обрывов в диоде приводит к отсутствию напряжения на выходе ФНЧ 19 для диода.

I

При проверке мостовой диодной

матрищ 1 14 с постоянными короткими замыканиями или обрывами напряжение на выходе ФНЧ 19 равно либо О, либо 0,319 и, в зависимости от количества и сочетаний неисправных диодов в мостовой диодной матрице }4. Частота среза ФНЧ должна быть ниже частоты сети Fg , и за полосой пропускания его входное сопротивление не должно шунтировать переключаемую

цепь и вход фильтра 4.

С выхода ФНЧ 19 постоянное напряжение поступает на триггер, пороговое напряжение которого имеет низкую величину, так что при исправ55 ном диоде или диодной матрице триггер срабатывает и блок регистрации регистрирует исправность прибора. При наличии постоянных коротких

35

замыканий или обрывов в проверяемом приборе триггер не переходит в новое состояние и регистрируется несправность прибора.

Блок 5 регистрации может быть выполнен, например, в виде лампы накаливания,

Определение кратковременных коротких за№1каний и обрывов про- изводится по импульсам, выделяемым на выходе фильтра 4 высоких частот частота среза которого выбирается из условия Fg 10Fp для исключени гармоник выпрямпенного сигнала. Таким образом, на выходе фильтра появляются только импульсы, вызванные наличием кратковременных обрыв или коротких замыкания в проверяем приборах. Эти импульсы регистрируюся в блоке 6, который может быть выполнен в виде счетчика импульсов например прибора типа 43-36.

Формула изобретени

, .Устройство дпя обнаружения коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах, содержащее первый и второй блоки регист- ращ1и, входы которых соединены с выходами соответственно блока обнаружения постоянных неисправ- ностей и блока обнаружения кратковременных неисправностей, входы которых соединены с выходами блока подключения, первый и второй входы которого соединены соответственно с первым и вторым выходами генератора напряжения, блок подключени выполнен в виде первой шины для подключения, проверяемого прибора, соединенной с первым входом блока подключения, и второй шины для

Составитель В.Карпов Редактор И.Рыбченко Техред А.Кикемезей Корректор Т.Колб

Заказ 637/50Тираж 730 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, ,.Раушская наб., д. 4/5

Филиал ГШП Патент, г.Ужгород, ул. Проектная, 4

11675

подключения проверяемого прибора, соединенной через первый резистор с вторым входом блока подключения, отличающееся тем, что,

с с целью расширения функциональных возможностей, генератор напряжения выполнен в виде сетевого трансформатора с двумя вторичными обмотками, блок подключения снабжен двумя

to дополнительными входами, четырьмя дополнительными шинами дпя подключения проверяемого прибора, вторым резистором и переключателем, блок обнаружения постоянных неис-

t5 правностей выполнен в виде последовательно соединенных фильтра низких частот и триггера, а блок обнаружения кратковременных неисправностей выполнен в виде филь2Q тра верхних частот, при этом выводы первой вторичной обмотки сетевого трансформатора соответствуют первому и второму выходам генератора напряжения, а выводы второй вто- 25 ричной обмотки - третьему и четвертому его выходам, которые соединены соответственно с третьим и четвертым входаьш блока подключения, которые соединены с третьей и четвертой шинами дпя подкл|очения проверяемого прибора, пятая шина для подключения которого соединена с вторым входом блока подключения, первым выводом второго резистора и общей шиной устройства, шестая шина дпя подключения проверяемого прибора соединена с вторым выводом второго резистора и первым входом переключателя, второй вход которого соединен с второй шиной для подключения проверяемого прибора, а выход переключателя соединен с выходом блока подключения.

30

35

40

Изобретение касается контроля готовых полупроводниковых приборов и может быть использовано для раздельного обнаружения кратковременных и постоянных коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых диодах и диодных матрицах. Цель изобретения - расширение функцио нальных возможностей. Устройство содержит генератор 1 напряжений, блок 2 подключения, блок 3 обнаружения пострянных неисправностей, выполненный в виде последовательно соединенных фильтра 19 низких частот и триггера 20, блок 4 обнаружения кратковременных неисправностей, выполненный в виде фильтра высоких частот, блоки 5 и 6 регистрации, шины 8 и 10, проверяемый диод 9, резисторы 11 и 17, шины 12, 13, 15 и 16 для подключения диодной матрицы 14, переключатель 18. Предложенное выполнение генератора 1 напряжений, блока 3 обиа- ружения постоянных неисправностей и блока 2 подключения позволяет контролировать как полупроводниковые диоды, так и мостовые диодные матрицы. 1 ил. i (Л Э) ел