Устройство контроля надежности омических контактов полупроводниковых диодов Советский патент 1979 года по МПК G01R31/26 G01R31/02 

1

Изобретение относится к электронной технике. Устройство, в частности, предназначено для контроля качества полупроводниковых диодов при испытании их на воздействие вибрации и механических ударов с целью определения кратковременных и постоянных обрывов и коротких замыканий омических цепей испытуемых приборов.

Известно устройство для проверки полупроводниковых диодов на обрыв и короткое замыкание 1, содержащее уравновешенный мост, в одно из плеч которого включен испытуемый диод, а в другое - эталонный прибор, а также импульсный усилитель, включенный параллельно испытуемому диг оду, триггер и исполнительное устройство. Возникновение неисправности фиксируется по разбалансу моста.

Недостатками данного устройства являются необходимость подбора эталонного диода при испытании разных типов диодов, а также необходимость предварительного уравновешивания мостовой схемы.

Наиболее близким к предлагаемому является устройство контроля надежности омических контактов полупроводниковых диодов 2, содержащее генератор импульсов, блок обнаружения обрывов и коротких замыканий и блок индикации, причем возникновение неисправностей в испытуемом диоде фиксируется по увеличению высокочастотных гармонических составляющих импульсов, снимаемых с испытуемого диода.

Недостатком данного устройства является низкое быстродействие, определяемое быстродействием используемых аналоговых устройств обработки сигнала, что не позволяет обнаружить кратковременные отказы длительности менее определенной величины, т. е. снижает точность и достоверность результатов измерений.

Целью изобретения является повыщение

точности измерений и упрощение конструкции.

Указанная цель достигается тем, что блок обнаружения обрывов и коротких замыканий содержит два согласующих устройства, триггер и устройство разделения импульсов, вход

которого соединен через согласующее устройство с одной из клемм для подключения испытуемого диода, а выходы соединень с блоком индикации и с управляющим вхоДОМ триггера, при этом тактовый вход триггера соединен через второе согласующее устройство с генератором импульсов и второй клеммой для подключения испытуемого диода, а выход - с блоком индикации. Структурная схема описываемого устройства контроля надежности полупроводниковых диодов представлена на чертеже. Устройство содержит генератор 1 двуполярных импульсов блок 2 обнаружения обрывов и коротких замыканий, включающий согласующие устройства 3 и 4, устройство 5 разделения импульсов с выходами 6 F 7, а также триггер 8 и блок индикации 9, образуемый двумя идентичными счетчиками импульсов. Устройство 5 представляет собой совокупность резистивнодиодных вентилей, обеспечивающих разделение импульсов положительной и отрицательной полярности, приходящих на его вход Для обнаружения и фиксации кратковременных постояннь х обрывов и кратковременных коротких замыканий в цепи контролируемого диода DJJ, например, при воздействии механических ударов или испытаниях на вибропрочность он подключается через соединительные проводники или контактное устройство к клеммам между выходом генератора 1 импульсов и входом устройства 5 разделения импульсов через согласующее устройство 3. Двуполярные сигналы от генератора 1, проходя через исправный испытуемый диод Dj(, преобразуются в импульсы отрицательной полярности, воздействующие на вход устройства разделения импульсов. При этом на входе 7 устройства разделения импульсов присутствует сигнал логического нуля, а на выходе б, соединенном с управляющим входом триггера 8 - импульсы, соответствующие импульсам входной последовательности с генератора 1. На тактовом входе триггера присутствуют импульсы, соответствующие импульсам входной последовательности с генератора 1, противофазные импульсам на выходе 6 устройства 5. Благодаря этому на выходе триггера присутствует неизменный сигнал, например, логического нуля. Таким образом, при контроле исправного диода на выходе блока индикации 9 отсутствуют показания. В случае возникновения обрыва в цепи проверяемого диода на управляющем входе триггера устанавливается постоянный потенциал логической единицы и первый, импульс на тактовом входе триггера переключает его в другое устойчи1о :остояние. Перепад напряжения на п ьчсде триггера фиксируе я бл()К(;м индикации. При пропадании и появлении дефекта (дребезг) блок индикации подсчитывает количество отказов. Постоянный обрыв устройство фиксирует как наличие одного обрыва. Если происходит короткое замыкание в цепи проверяемого диода, то сигналы отрицательной полярности проходят аналогично описанному выще и блок индикации 9 обрывы не фиксирует, а импульсы положительной полярности проходят через другу(р цепь устройства 5 разделения импульсов и сигнал на его выходе 7 фиксируется блоком индикации 9 как наличие в схеме короткого замыкания. При восстановлении дефекта устройство автоматически устанавливается в исходное состояние, а в« случае повторения неисравностей схема работает аналогично описанному выше. Таким образом,, предлагаемое устройство позволяет обнаруживать и фиксировать кратковременные и постоянные обрывы и кратковременные короткие замыкания в цепи диодов в широком диапазоне типономиналов диодов, его схемное решение существенно проще схемы прототипа. Выбор частоты генератора импульсов позволяет фиксировать кратковременные отказы требуемой длительности. Формула изобретения Устройство контроля надежности омических контактов полупроводниковых диодов, содержащее генератор импульсов, блок обнаружения обрыва и коротких замыканий и блок индикации, отличающееся тем, что. с целью повышения точности измерений и упрощения конструкции, блок обнаружения обрывов и коротких замыканий содержит два согласующих устройства, триггер и устройство разделения импульсов, вход которого соединен через согласующее устройство с одной из клемм для подключения испытуемого диода, а выходы соединены с блоком индикации с управляющим входом триггера, тактовый вход которого соединен через второе согласующее устройство с генератором импульсов и второй клеммой для подключения испытуемого диода, а выход - с блоком индикации.. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство СССР № 277954, кл. G 01 R 31/26, 07.04.69. 2.Авторское свидетельство СССР № 397857, кл. G 01 R 31/26, 21.11.70.