Прибор для измерения линейных размеров Советский патент 1959 года по МПК G01C3/24 

Описание патента на изобретение SU121248A1

Приборы, предназначенные для измерения линейных размеров и выполненные в виде оптического измерительного устройства со шкалой, известны. Последнее обычно устанавливается на одном конце измеряемой линии и снабжается отражательным зеркалом, установленным на другом ее конце.

Отличительная особенность предложенного прибора заключается в том, что он снабжен тремя оптическими проектирующими системами. Одна из этих систем перпендикулярна к плоскости отражательного зеркала. Оптические оси двух других систем, расположенные симметрично по обе стороны от нее, образуют с плоскостью отражательного зеркала равные углы.

Эта особенность обеспечивает возможность осуществления абсолютных измерений линейных размеров.

Кроме того, оптическая проектирующая система -прибора снабжена тремя измерительными микроскопами, один из которых расположен в середине его шкалы, а два других - симметрично по обе стороны от пего.,

На фиг. 1, 2 и 3 изображены схемы, поясняющие принцип действия прибора.

Принцип действия прибора основан на том, что измеряемый размер выделяется световыми щтрихами, которые проектируются, оптическими системами на точную щкалу, по которой отсчитывается взаимное распо.ложение и расстояние между щтрихами, равное или пропорциональное измеряемому размеру. Так, например, размер Я (фиг. 1) выделен световыми щтрихами - проекциями щели S в. точках /С и 6 ы проектируется посредством оптических систем Л и С на щкалу в точки а и с.

№ 121248- 2

При измерении расстояния до плоскости оптическая система А (фиг. 2) проектирует узкую световую щель S в точку а на шкале и в точку К на объекте под углом а.

Из точки К щель S отражается также под углом а и через оптические системы В и С щель S проектируется на щкалу в точки бис. Положение щели 5 и ее проекций на шкале рассматриваются через отсчетные микроскопы и измеряются отрезки ас, аЬ и Ьс с точностью до 0,001 мм. Теперь измеряемый размер Н, ограниченный световыми щтрихами в точке Л на объекте и в точке b на щкале, связан с отрезками ас, аЬ и be (тр-ки

аКЬ, сКЬ и а/Сс) соотношением () tga или Я „-т; измерив аЬ, be и ас w. зная tga, (угол а постоянный для прибора, наиболее удобный tga 0,05 для размеров свыше 5 м, или ,l для размеров

г чtr 1«и с

до 5 м) находят 10 ас или Я „ г. . 5 ас.

При наклоне плоскости на угол «i (фиг. 3) очевидно, что отрезки аЬ

, t, и л/ (a + 2ai) и ОС неравны, отрезок ос больше ао на величину Д/ т (из

тр-ков аКс, аК.Ь и 6/Сс).

Поэтому перед измерением расстояния Я до плоскости следует убедиться, что плоскость шкалы строго параллельна плоскости объекта, что легко и очень точно определяется по равенству отрезков аЬ и be. В качестве отражающего зеркала на объекте устанавливается тонкая лента (0,01-0,02 мм) с частотой поверхности 13 - 14 . Вдоль одного края ленты сделана матовая полоса, чтобы проектировать щель 5 через оптическую систему В на шкалу в точку Ь.

Для измерения угла наклона плоскости по отношению к базовой (плоскость шкалы устанавливается строго параллельно базовой плоскости) пользуются формулой Д/ аЬ-т , для чего точно измеряют отрезки аЬ и йс, получают Д/ и, зная tga прибфа, легко и очень точно находят угол ai (с точностью до долей секунды).

Предлагаемым прибором могут быть также измерены большие размеры в машиностроении, определены углы наклона касательной к поверхностям различной кривизны и т. п.

Предмет изобретения

1.Прибор для измерения линейных размеров, выполненный в виде оптического измерительного устройства со шкалой, установленного на одном конце измеряемой линии и снабженного отражательным зеркалом, установленным на другом ее конце, отличающийся тем, что, с целью осущес14вления абсолютных измерений линейных размеров, он снабжен тремя оптическими проектирующими системами, оптическая ось одной из которых перпендикулярна к плоскости отражательного зеркала, а оптические оси двух других систем, расположенные симметрично по обе стороны от нее, образуют с плоскостью отражательного зеркала равные углы.

2.Прибор по п. 1, отличающийся тем, что оптическая проектирующая система выполнена в виде трех измерительных микроскопов, один из которых расположен в середине шкалы, а два других - симметрично обе стороны от нее.

Похожие патенты SU121248A1

название год авторы номер документа
Фотоэлектрический прибор для бесконтактного измерения заданных координат 1961
  • Делюнов Н.Ф.
  • Никитин В.А.
SU148910A1
УСТРОЙСТВО для ПОВЕРКИ ЭЛЕКТРОИЗМЕРИТЕЛЬНЫХПРИБОРОВ 1967
SU194948A1
Бесконтактное автоматическое устройство для измерения диаметров деталей на токарных станках в процессе обработки 1960
  • Макаревич Б.К.
  • Новиков Н.И.
  • Сапожков А.И.
  • Скляднев Б.Н.
SU129828A1
Способ построения пространственной геодезической сети в виде цепочки треугольников и угломерный прибор для его осуществления 1986
  • Пышкин Валерий Николаевич
SU1613858A1
Интерферометр с переменной шкалой 1937
  • Уверский И.Т.
SU56390A1
ЩИТОВОЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ ПРИБОР СО СВЕТОВЫМУКАЗАТЕЛЕМ 1968
SU221823A1
Барометрический высотомер 1956
  • Бычковский К.П.
SU106126A1
АВТОКОЛЛИМАЦИОННЫЙ СФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ РАДИУСОВ КРИВИЗНЫ СФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ 1972
SU324489A1
Отсчетное устройство для измерения малых линейных перемещений 1961
  • Пирогов В.Г.
SU149886A1
ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫЙ ВОЛЬТМЕТР"1 ?5^_,:;-А.,я.?;-и:и НАЯ i|Пк]'аГШи-:1]{Ш|-Г;:1Ш|IР Vi- r-...,-.--r-,, ,5— . siS.-u'iVj^ ! с. Гц, А 1971
SU321763A1

Иллюстрации к изобретению SU 121 248 A1

Реферат патента 1959 года Прибор для измерения линейных размеров

Формула изобретения SU 121 248 A1

SU 121 248 A1

Авторы

Ароне Р.Г.

Кайнер Г.Б.

Даты

1959-01-01Публикация

1957-02-06Подача