Способ определения ширины полосы и длины волны максимума пропускания интерференционного светофильтра Советский патент 1986 года по МПК G02B5/28 

Изобретение относится к оптичес- KObfy приборостроению,в частности к методам из14ерения характеристик уэкополосных интерференционных светофильтров, и является усовершен ствованием известного способа по авт. св. № 1024862.

Целью изобретения является повьше ние точности измерения Характеристик интерференционного светофильтра за счет увеличения точности определения угла падения излучения на свето. фильтр, соответствующего половине максимума интенсивности й рошедшего излучения.

По основному авт. св. № 1024862 известен способ определения ширины полосы и дайны волны максимума пропускания интерференционного светофильтра путем его просвечивания параллельным пучком монохроматического света и последующей регистрации интенсивности прошедшего излучени при изменении угла падения излучения .на светофильтр. Просвечивание осуществляют излучением с длиной волны. меньшей длины, соответствукицей максимуму пропускания фильтра. Далее измеряют угол падения пучка на светофильтр, соответствукщий максимуму интенсивности прошедшего излучения, а также угол падения, соответствующий половине максимума интенсивности прошедшего излучения. Ширину полосы и длину волны максимума пропускания определяют по следующим соотношениям:

4,)

Ul fQjMK l Q :

маис

де - длина волны, соответствующая максимуму пропускания:

Aj, - длина волнь просвечивающего пучка:

махс- угол падения пучка на светофильтр, соответствующий максимальной интенсивности прошедшего излучения;

П - показатель преломления разделительного слоя светофильтра;

51 .2

S-ii - ширина полосы пропуска-ния светофильтра; Qg, - угол падения пучка на светофильтр, соотнетствующий половине максимума интенсивности про- шедшего излучения. Известно, что формы полос пропускания и отражения узкополосного ин- терференционного светофильтра являются взаимно дополнительными, поэтому при условии малости потерь световой энергии на поглощение внутри светофильтра интенсивность отра- женного -И прошедшего через светофильтр излучения также дополнительны друг другу с точностью до постоянной составля ощей. Таким образом, устранив постоянную составляющую от- раженного пучка, можно получить,

что при угле падения светового излучения, соответствующем половине

максимума пропускания светофильтра, интенсивности отраженного и прошед

шего через светофильтр излучения

одинаковы, а их разность равна нулю. Это обстоятепьство позволяет более точно определить угол, соответствующий половине максимума пропускания

светофильтра. Пои этом постоянная составляющая отраженного пучка : может быть измерена при установке фильтра под углом, соответствующим его максимуму пропускания.

В процессе измерения угла наклона светофильтра измеряются два близких по величине световьк потока, поэтому ошибка измерения, вызываемая нелинейностью фотоприемного устройства, мала. Кроме того, значительно ослабляется влияние мешающих фоновых засветок, так как вносимая ими погрешность пропорциональна разности световых потоков фонового излучения, а н-г самому световому потоку. По стой причине нестабильность мощности источника излучения такхсе мало сказывается на результатах измерения .

Предлагаемый способ позволяет повысить точность измерения основных характеристик узкополосных и контрастных светофильтровразличных порядков.

55

Формула изобретения

Способ определения ширины полосы и длины волны максимума пропускания интерференционного светофильтра по авт. св. № 102Д862, о т л и - чающийс я тем, что, с цельк повышения точности измерения характеристик интерференционного светофильтра за счет увеличения точности определения угла падения излучения на светофильтр, соответствующего половине максимума интенсивности прошедшего излучения, одновременно с регистрацией интенсивности прошед

167Ы-4

шего через светофильтр излучения ре- . гистрируют интенсивность отраженного от него излучения, а угол падения излучения на светофильтр, соот- J вествующий половине максимума пропускания, измеряет в момент, когда разность интенсивностей прошедшего и отраженного излучений равна интен- сивностиотраженного отсветофильтра из- 10 лучения при угле падения,соответствующем максимуму пропускания светофильтра.

Изобретение позволяет повысить точность измерения характеристик интерференционного светофильтра за счет увеличения точности определения угла падения излучения на светофильтр, соответствующего поло- вине максимума интенсивности прошедшего излучения. Для этого одновременно с регистрацией интенсивности прошедшего через светофильтр излучения измеряют угол падения пучка на светофильтр, соотйетствую- щий максимуму интенсивности прошедшего излучения. Угол падения излучения на светофильтр, соответствующий половине максимума пропускания, измеряют в момент, когда разность интенсивностей прошедшего и отраженного излучений равна интенсивности отраженного от светофильтра излучения при угле падения, соответствующем максимуму пропускания светофильтра. Постоянная составляющая отраженного пучка может быть измерена при установке фильтра под углом, соответствующим его максимуму пропускания. Q S (Л ел