Способ определения ширины полосы и длины волны максимума пропускания интерференционного светофильтра Советский патент 1986 года по МПК G02B5/28 

1

Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к методам измерения характеристик светофильтров, и .является усовершенство-ва- нием изве.стного способа по авт. ев, № 1024862.

Известен способ определения ширины полосы и длины волны максимума пропускания интерференционного светофильтра путем его просвечивания па- раллельньм пучком монохроматического света и регистрации интенсивности прошедшего излучения при изменении угла падения излучения на фильтр. Просвечивание осуществляют излучением с длиной золны, меньшей длины, соответствующей максимуму пропускания фильтра. При этом измеряется угол падения пучка на фильтр, соответствую- максимуму интенсивности прошедшего излучения, а также угол падения соответствующий половине максимума интенсивности прошедшего излучения. Длину волны максимума пропускания и ширину полосы определяют по следующим соотношениям:

1242890

5

0

Ленин разделительного слоя светофильтра.

Поставленная цель достигается тем,

ЧТО согласно-способу определения ширины полосы и длины волны максимума порпускания интерференционного светофильтра дополнительно просвечивают светофильтр вторым зондирующим П учком излучения с длиной волны, меньшей длины волны, соответствующей максимуму пропускания светофильтра, не равной длине волны основного зондиг рующего пучка излучения, и измеряют угол падения второго пучка излучения на светофильтр, соответствуюшд й максимуму интенсивности прошедшего излучения, а также угол падения, соответствующий половине максимума интенсивности прошедшего излучения, причем ширину полосы и длину волны максимума пропускания светофильтра Лд,, определяют по следующим соотношениям:

макс

и

Mate

где мп);г длина волны, соответствующая максимуму пропускания;

п длина волны просвечивающего пучка;

&УИЙКС угол падения пучка на фильтр, соответствующий максимальной интенсивности прошедшего излуче- ния;,

И - показатель преломления разделительного слоя фильтра;

ofl - ширина полосы пропускания фильтра;

Qgc угол падения пучка на фильтр, соответствующий половине максимума интенсивности прошедшего излучения ij.

Недостатком известного способа является низкая точность определения характеристик интерференционного светофильтра, ограниченная точностью, с которой предварительно определен эффективньй показатель преломления разделительного слоя фильтра.

Цель изобретения - повышение точности измерения характеристик интерференционного светофильтра за счет исключения влияния показателя прелом5

на светофильтр, соответствующие максимальной интенсивности прошедшего излучения с длинами волн -Д и fl 0,5, и SO.F

Z

- углы падения пучков

0

5

а светофильтр, соответствующие половине максимума интенсивности прошедшего излучения с длинами волн , и/Л .

Описанная модификация способа измерения характеристик интерференционных светофильтров позволяет исключить из соотношений, связывающих искомые характеристики фильтра, с измеряемыми углами, эффективный показатель преломления разделительного (шоя фильтра п и тем самым

.значитбшъно увеличить точность измерения.,

Способ реализуется при использовании перестраиваемого источника квазипараллельного монохроматическо- 5 го излучения, например двухчастот- ного лазера, длины волн излучения которого, меньше длины волны соответствующей максиму 1у пропускания иссле0

дуемого фильтра. При этом фильтр просвечивается излучением сначала с одной длиной волны и определяются углы, соответствующие максимуму прошедшего через фильтр излучения и половине от максимальной интенсивкости, а затем определяются аналогичные углы для второго зондирующего пуска и определяются характеристики фильтра по приведенным формулам..

Экспериментальная проверка способа осуществляется на фильтре со сле- дуюЩими паспортным данными: И а кс б45,6 нм, - . 0,15. Фильтр

Л.

.. - просвечивается излучением модифициро фанного He-Ne лазера ЛГ-52-2, в котором путем внутрирезона торных перестроек имеется возможность изменять

длйну волны излучения.. Используют характеристик узкрполосных интерлинии генерации с длинами врлн ференционных фильтров не только в ла- i, 632,8 и 640,1 нм. Интенсивг бораторых, но и в заводских условиях.

Редактор Н. Бобкова Заказ 3701/45

Составитель П.Яковлев

Техред О.Сопко Корректор В.Бутяга

Тираж:501 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г.Ужгород, ул. Проектная,4

5 10

5 28904

нос ть прошедшего излучения регистрируется фотодиодом. Углы наклона фильтра измеряются с помощью угломерного столика. Полученные результаты с точностью до 1% совпадают с паспортными данными фильтра. Таким образом, в отличие от. известного способа, точность которого ограничивается точностью определения эффективного показателя разделительного слоя фильтра И, предлагаемый способ позволяет обойти указанную трудность и значительно увеличить точность измерения характеристик фильтра. При этом, чем более узкополостным является светофильтр, тем точнее могут быть проведены измерения.

Предлагаемый способ является перспективным для применения при измере