Способ измерения температурного поля Советский патент 1986 года по МПК G01K11/12 

1

Изобретение относится к области термометрии и может быть использовано при измерении температурных полей преимущественно движущихся объектов.

Целью изобретения является повышение производительности процесса измерения за счет ускорения операции усреднения температуры.

Пример. На стеклянную трубку наносят двзгхслойное покрытие, состоящее из слоев меди и голова тол- щиной 2-10 А. Покрытие наносят последовательным осаждением слоев в вакууме 5-10 тор из танталовой лодоч- ки на трубку, вращающуюся с постоянной скоростью. Трубку разрезают на кольца. Определяют зависимость интенсивности луча света, отраженного от двухслойного покрытия, от температуры. Для этого каждое кольцо вьщержи- вают при фиксированной температуре в течение заданного промежутка времени, измеряя при этом изменение интенсивности отраженного луча света. Время нагрева выбирают сопоставлен- ным с временем нагрева контролируемого объекта. Используют следующие значения температур: 180, 210, 240 и 270 С и интервалы времени: 20, 40 и 60 мин. Строят градуировочный график изменения интенсивности отраженного луча света от температуры для каждого из указанных интервалов времени. На стеклянную трубку, являющуюся элементом измеряемого объекта, наносят двухслойное покрытие, состоящее из слоев меди и олова, идентичное тому, которое наносили на стеклянную трубку при градуировке. При измерении температурного поля стекРедактор О.Юрковецкая

Составитель В.Копаев

Техред и.Гайдош Корректор и,Эрдейи

Заказ 1702/43Тирад 778 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д 4/5

Филиал ППП Патент, Г.Ужгород, ул.Проектная, 4

23053 .

лянной трубки в составе объекта сканируют поверхность двухслойного покрытия на трубке лучом света от кол- лимированного источника света. Изме- 5 ряют интенсивность отраженного луча света с помощью фотодиода. Шаг сканирования выбирают в зависимости от диаметра светового луча в пределах 1-10 мм. По градуировочному графику, зная время нагрева и измеренную величину интенсивности луча света ,отраженного от какого-либо участка, определяют температуру этого участка. В результате получают распределение температур по поверхности трубки.

0

15

Формула изобретения

Способ измерения температурного поля преимущественно движущегося объекта, включающий сканирование измеряемой поверхности лучом света и измерение интенсивности отраженного луча, о тлич ающий с я тем, что, с целью повышения производительности процесса измерения за счет ускорения усреднения температуры, предварительно для двухслойного покрытия, выполненного из различных металлов, определяют градуировочную зависимость интенсивности отраженного луча от температуры для различных интервалов времени вьщержки, затем на измеряемую поверхность наносят аналогичное двухслойное покрытие, а температуру участка измеряемой по- верхнрсти определяют по измеренной интенсивности луча света, отраженного от этого участка, используя полученную градуировочную зависимость.

Изобретение относится к облас-t ти термометрии и позволяет повысить производительность процесса измерения за счет ускорения операции усреднения температуры. На стеклянную трубку наносят двухслойное покрытие из слоев меди и олова и разрезают на кольца. Каждое кольцо выдерживают при фиксированной температуре в течение заданного интервала времени, измеряя при этом изменение интенсивности отраженного луча света, и строят градуировочный график изменения интенсивности от температуры для каждого из указанных интервалов времени. Затем на стеклянную трубку, являющуюся элементом измеряемого объекта, наносят аналогичное двухслойное покрытие и сканируют его поверхность лучом света от коллимиро- ванного источника света, измеряя интенсивность отраженного луча с помощью фотодиода. По градуировочному графику определяют температуру участков трубки. (Л IND ю со сд со