Способ измерения деформаций изделий Советский патент 1986 года по МПК G01B11/16 

Изобретение относится к области измерения деформаций твердых тел.

Цель изобретения - расширение технологических возможностей способа путем измерения деформаций изделий про извольной формы.

На чертеже показана схема оптической установки для осуществления способа измерения деформаций изделий.

Установка состоит из лазера 1, блока 2 зеркал, непрозрачных з-еркал 3 и 4, полупрозрачных зеркал 5-7, исследуемого 8 и эталонного 9 изделий, камеры 10 для фотосъемки.

Способ осзтцествляют следующим об- разом.

На поверхность.исследуемого изделия 8 до нагружения проецируют эталонную систему оптических меток. Одновременно с проецированием эталон- ной системы меток на исследуемое из- делие 8 проецируют эталонн то систему оптических меток на эталонное изделие 9, поверхность которого является зеркальным отражением поверхности изделия 8. Эталонную систег-гу оптических меток получают при направлении луча лазера 1 на блок 2 зеркал. Све- .ТОБОЙ луч делят на два пучка полупрозрачным зеркалом 5 и направляют их на непрозрачные зеркала 4 и 3. Отраженные от этих зеркал пучки полупрозрачным зеркалом 6 направляют на исследуемое 8 и эталонное 9 изделия. На поверхностях эти пучки ин- терферируют между собой, образу г эталоны системы оптических меток. Затем отраженную от поверхности изделия 8 систему эталонных меток фиксируют в плоскости регистрации изоб- ражения на экране камеры 10 для фотосъемок через полупрозрачное зеркало 7. Одновременно.проецируют в плоскость регистрации изображения изделия систему эталош ых меток, от- раженных от поверхности эталонного изделия через полупрозрачное зеркало 7 .

Совмещают отраженные от. поверхностей исследуемого и эталонного из- делия системы оптических меток путем перемещения эталонного издехшя до полного исчезновения образующихся в процессе совмещения интерференционных полос. Исследуемое изделие нагружают, регистрируют образующуюся в процессе нагружения интерференционную картину и по ней измеряют деформации.

В процессе деформации исследуемого изделия, поверхность которого может быть произвольной формы, между системами оптических меток от исследуемого 8 и эталонного 9 изделий возникает разность хода, которая вызывает смещение этих меток относи- тельно друг друга в плоскости регистрации изображения изделия, и на равномерно освещенном поле появляется картина из интерференционных полос, по которым определяют величину деформации.

В плоскости регистрации появляются только полосы, соответствующие величине деформации. Других полос, усложняющих определение величины деформации в процессе нагружения ис- следз емого изделия, не возникает.

Формула изоб ретения

Способ измерения деформаций изделий, заключающийся в том, что на поверхность, исследуемого изделия до нагружения проецируют эталонную систему меток, затем отраженную от поверхности изделия эталонную систему меток фиксируют в плоскости регистрации изображения изделия, одновременно проецируют в плоскость регистрации изображения изделия эталонную систему меток и совмещают ее с отраженной от поверхности изделия эталонной системой меток до полного исчезновения образующихся в процессе совмещения интерференционных полос, нагружают изделие, регистрируют образующуюся интерференционную картину и по ней измеряют деформацию, отличающийся тем, что, с целью расширения технологических возможностей способа путем измерения деформаций изделий произвольной формы, до нагружения одновременно с проецированием эталонной системы меток на исследуемое изделие проецируют эталонную систему меток на эталонное изделие, поверхность которого является зеркальным отражением исследуемой поверхности, а в плоскость регистрации изображения проецируют эталонные сис г емы меток, отраженные от поверхности исследуемого и эталонного изделий

/ 2

I-. -U-.. /ХХ И/ ХХУХЛ/ I

I j

rl

Li

I

4I-U

..-..-:c--j

i

Изобретение относится к области измерения деформаций твердых тел. Целью изобретения является расширение технологических возможностей способа путем измерения деформаций изделий произвольной формы. На поверхность исследуемого изделия до нагру- жения проецируют эталонную систему меток. Одновременно проецируют эталонную систему меток на эталонное изделие. Отраженные от поверхностей эталонного и исследуемого изделий системы эталонных меток фиксируют в . плоскости регистрации изображения исследуемого изделия. Совмещают обе системы путем смещения эталонного изделия до полного исчезновения образующихся в процессе совмещения интерференционных полос. Затем изделие нагружают, регистрируют образующуюся интерференционную картину и.по ней измеряют деформации. 1 ил. (Л ISD 4 сл 00 сл

Редактор А.Козориз

Составитель Л.Пучкова Техред М.Ходанич

Заказ 3985/31 Тираж 670Подписное

ВНИИГШ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производствегт})о-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Корректор Г.Решетник