Способ градуировки измерителя спектральной освещенности по абсолютной чувствительности Советский патент 1986 года по МПК G01J1/16 

Изобретение относится к технической физике, в частности к энергетической фотометрии, и может быть Использовано для измерений абсолютной чувствительности фотометров предназначенных для измерения освещенности.

Целью изобретения является повышение точности градуировки.

На чертеже представлена блок-схема установки, реализующей способ.

Установка содержит осветитель 1, эталонную лампу 2, спектральный компаратор 3, поворотное вогнутое; сферическое зеркало 4, осветительные лампы 5, выходное отверстие 6, градуируемый измеритель 7,, дополнитель нов отверстие 8, диафрап гу 9 моно- хроматор 30 систему 11 регистрации компаратора интегрирующую сферу 2

Осветитель состоит из интегрирующей сферы 12, внутренняя поверхнос которой покрыта сернокислым барием Сфера освещается несколькими лампами 5, например, типа К1 19-70. Для обеспечения равномерной яркости по всей внутренней поверхности интегрирующей сферы излучение ламп поступает в сферу через молочные стекла. Сфера снабжена выходным отверстием 6, в плоскости которого устанавливают гфиемный коллектор градуируемого измерителя 7, и дополнительным отверстием 8. Спектральный компаратор представляет собой спектрометр, состоящий из входной диафраг- Mbij помещенной перед спектральной щелью дифракционного монохроматора 10, на ВЕ гкоде которого установлен фотоприемник с системой 1 регистра цип. Поворотное зеркало 4 может быть установлено в два фиксирозан- пых положения. В одном из них изображение ленты. эталоРП1ой лампы 2 проецируется с увелг-г-хеннем, равным единице, на входную диафрагму 9 спектрального компаратора. Во втором положении зеркала 4 изображение дополнительного отверстия 8 осветителя проецируется на диафрагму 9, Участок эталонной лампы, излучение с которого попадает в спектральньш компаратор, проградуирован по Государственному специальному эталону спектральной плотности энергетической яркости (СПЭЯ) в единицах СПЭуЧ,

Способ осуществляется следующим образом.

Устанавливают приемную площадку измерителя 7 в плоскости выходного отверстия 6 осветителя, сферическое зеркало 4 - в первое фиксированное

положение, механизмы сканирования спектра - на линy волны Л как в мо- нохроматоре 10, так и в монохрома- торе измерителя 7. Одновременно измеряют сигналы

1д и I. приемника компаратора 11 от отверстия 8 осветителя и измерителя соответственно5 а затем устанавливают зеркало 4 во второе положе-. ние и измеряют сигнал I. компаратора от эталонной лампы 2, Определяют СПЗЯ дополнительного отверстия 8 осветителя из соотношения:

й д

I4 А I л

где В. - известная СПЭЯ эталонной

лампы.

Затем определяют абсолютную чувствительность измерителя из соотно- шения:

с Ij

та|

Введение дополнительной операции

по измерению спектральной плотности - -,г

энергетической яркости Вд введенного

в осветитель отверстия позволяет исключить систематическую составляющую погрешности,; связанную с изменением яркости выходного отверстия осветителя после з становки приемной плош.ад

ки измерителя 7 в плоскости выходного отверстия осветителя 6.

Способ был реализован для сферы радиусом см (с площадью выходкого отверстия 40 см ) j покрытой вы- сокоотражаюшей краской на основе BaSO (,9) При градуировке измерителя использовался коллектор из молочного стекла типа МС-13 (коэффициакт отражения ), Дополнительное отверстие 8 бьшо выполнено на расстоянии 10 мм от края выходного отверстия 6 и имело диаметр 3 мм. .Значеш-тя сигналов фотоприемника

от лампы 1д ,, дополнительного отвер- стия 1д при введенном в выходное отверстие измерителе, а также СПЭЯ эталонной лампы В, . сигнал 1, фотоЛл

приемника от выходного отверстия сферы (т.е. измеритель выведен из отверстия)5 сигнал 1 измерителя на длине волны 500 нм приведены в табице. Там же приведены значения чув, 312574124.

ствительности измерителя, рассчитан- предлагаемому и известному способам ные на основании этих измерений по (S, S g соответственно).

10

1,31 10. 18,41 17,32

Отличие значений чувствительности (l-S/S g)-100% 6%.

Применение предлагаемого способа позволяет исключить систематическую погрешность, составляющую 16% для данного излучателя.

Формула изобрете. ния

Способ градуировки измерителя спектральной освещенности по абсолютной чувствительности, заключающийся в том, что измеряют на фиксированной длине волны амплитуду I, сигнала измерителя, установленного в плоскости выходного отверстия осветителя, вьшолненного в виде интегрирующей сферы, определяют спектральную плотность энергетической яр514

14,55 0,159-Ю 0,13310

кости (СПЭЯ) методом сличения на спектральном компараторе с эталонной светоизмерительной лампой и рассчитывают абсолютную чувствительность измерителя, отличающий- с я тем, что, с целью повышения точности градуировки, одновременно с измерением величины 1д определяют указанным методом СПЭЯ дополнительно вьтолненного в осветителе отверстия, а абсолютную чувствительность S измерителя определяют по формуле:

V

3 где В - величина СПЭЯ дополнительно

вьтолненного в осве тителе отверстия.

Составитель В.Капечиц Редактор К.Волощук Техред М.Ходанич Корректор Л,Пилипенко

Заказ 4905/36 Тираж 778 Подписное

ВНИИГТИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб,, д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород,ул. Проектная, 4

Способ градуировки измерителя спектральной освещенности по абсолютной чувствительности относится к области энергетической фотометрии и может найти применение при измерении чувствительности фотометрических приборов. С целью повышения точности градуировки измерения проводят на дополнительно вьтолненном в осветителе, выполненном в виде интегрирующей сферы, отверстии, после чего определяют искомую величину чувствительности. Абсолютную чувствительность измерителя определяют по математическому выражению ,/ /ПВ , где 1 - амплитуда сигнала измерителя. В, - величина спектральной плотности энергетической яркости. 1 ил. 1 табл. S (Л to ел 4