Устройство для определения адгезии металлических пленок Советский патент 1986 года по МПК G01N19/04 

Описание патента на изобретение SU1260769A1

пачивает на угол 90

жидкость ц ПОПСМ.

riJiocKOCTTi поляризации проходящего через нее .линейно-поляризованного излучения .Отраженный от поверхности 7 и преломленный зеркалом 9 поток излучения тгопадает через поляризатор 12 на приемник 10 поляризованного излучения. Скрещенные поляризаторы 11 и 12 позволяют измерять

Изобретение относится к испытательной технике, а именно к устройствам для определения адгезии- ме- таллическчк пленок.

Цель изобретения - повышение точности определения адгезии металлических пленок к поверхности подложек, выполненных из оптически прозрачных материалов.

На чертеже показана схема предлагаемого- устройства.

Устройство содержит подложку 1 из оптически прозрачного материала, одна из поверхностей которой предназначена для нанесения на нее металлической пленки, держатель 2 подложки 1, ванну 3 без дна, установленную на держателе 2 и заполненную жидкой средой, в качестве которой использована гиротропная жидкость 4, например спиртовой раствор сахара, источник 5 ультразвуковых колебаний, концентратор 6, установленный в ванне 3 со стороны подложки 1, предназначенной для нанесения на нее металлической пленки, обращенная к подложке 1 поверхность 7 которого выполнена зекальной, и регистрирующую систему, выполненную в виде источника 8 поляризованного излучения, установ- ленногб вне ванны 3 напротив концен тратора 6 по другую сторону от подложки 1, полупрозрачного зеркала 9, установленного под острым углом к подложке 1, приемника 10 поляризованного излучения и двух скрещенных поляризаторов 11, 12, один из ткото- рых установлен между полупрозрачным зеркалом 9 и источником 8 поляризованного излучения, а другой - между

769

только интенсивность потока излучения, прошедшего через зоны раз- р шеиия пленки 16, и получать информацию о кинетике и степени ее разрушения. Полупрозрачное зеркало 9, .установленное под острым углом к подложке 1, обеспечивает посьшку излучения на приемник 10 поляризованного излучения. 1 ил.

полупрозрачным зеркалом 9 и приемником 10 поляризованного излучения.

Подложка 1 является дном ванны 3.

Источник 8 поляризованного излу- чения выполнен в виде ксеноновой лампы 13 и линзы 14, а приемник 10 поляризованного излучения выполнен в. виде матрицы 15 фотодиодов, электрически связанной с системой (на чертеже не показана) обработки, данньк.

Устройство работает следующим образом.

Подложку 1 с нанесенной на нее металлической пленкой 16 устанавливают на держателе 2 и закрывают ею дно ванны 3. Ванну 3 заполняют гиротропной жидкостью 4, Включают источник 8 и приемник 10 поляри- зованного излучения и проводят юстировку оптической системы и про- ектирование оптического изображения поверхности раздела подложка - металлическая пленка на поверхности датчиков матрицы 15 фотодиодов. Включают источник 5 ультразвуковых колебаний, концентратор 6 которого передает колебания гиротропной жидкости 3, под действием которой в металлической пленке 16 возникает нарушение ее сплошности и появляются зоны разрушения. При этом поток излучения от ксеноновой лампы 13, пройдя через фокусирующую линзу 14 и поляризатор 11, попадает на полупрозрач- ное зеркало 9 и частично отражается а оставшаяся часть потока излучения проходит через подложку 1 на поверхность, раздела подложка - металлическая пленка. При отсутствии зон разрушения металлической пленки 16

поток излучения отражается и полностью задерживается поляризатором 12, при наличии зон разрушения металлической пленки 16 поток излучения проходит через металлическую пл ку 16 и попадает в гиротропную жидкость 4, которая начинает поворачивать плоскость поляризации. Дли- , ну оптического пути излучения в гиро тропной жидкости подбирают такой, чтобы после выхода из подложки 1 Поток излучения имел плоскость поляризации, повернутую на угол 90 по отношению к потоку, падающему на поверхность металлической пленки 16 Поток излучения попадает на зеркальную поверхность 7 концентратора 6, отражается от нее и, вторично пройдя зоны разрушения металлической пленки 16, преломляется зеркалом 9 в направлении поляризатора 12. После прохождения потока через поляризатор 12 его интенсивность целико определяется сплошностью металлической пленки 16, и поток приобретает состояние, удобное для отражения на матрице 15 фотодиодов приемника 10 поляризованного излучения.

Выполнение рабочей поверхности 7 концентратора 6 зеркальной позволя- ет использовать ее одновременно в качестве зеркала регистрирующей системы и в качестве средства для воздействия на жидкую среду и возбуждения в ней колебаний высокой частоты.

Выполнение жидкой среды гиротроп ной, т.е. способной вращать плоскость поляризации проходящего через нее линейно-поляризованного излучения, позволяет изменять плоскость поляризации излучения, падающего на приемник 10.

Установка скрещенньк поляризаторов 11 и 12 позволяет измерять только интенсивность света, прошедшего через зоны разрушения пленки, и получать информацию о кинетике и.

Редактор М.Товтин

Заказ 5220/41

Тираж 778 Подписное ВНРШПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

s О t5 20 25

зо

0

5

степени разрушения пленки 16 и плотности рапределения разрушений по ее поверхности. Полупрозрачное зеркало 9 регистрирующей системы, установленное под острым углом к подложке 1, обеспечивает возможность посылки излучения, дважды прошедшего через жидкую среду и исследуемую пленку приемник 10 поляризованного излучения.

Формула изобретен1(я

Устройство для определения адгезии металлических пленок, содержащее подложку из оптически прозрачного материала, одна из поверхностей которой предназначена для нанесения на нее металлической пленки.деожатель подложки , ванну, установленную на держателе и заполненную жидкой средой, источник ультразвуковых колебаний, концентратор которого установлен в ванне со стороны подложки, предназначенной для нанесения на нее металлической пленки, и регистрирующую систему, отличающееся тем, что, с целью повышения точности, подложка является дном ванны, обращенная к подложке поверхность концентратора выполнена зеркальной, в качестве жидкой среды использована гиротропная жидкость, а регистрирующая система выполнена в виде источника поляризованного излучения, установленного вне ванны напротив концентратора по другую сторону от подложки, полупрозрачного зеркала, установленного под острым углом к подложке, приемника поляризованного излучения и двух скрещенных поляризаторов, один из которых установлен между полупрозрачным зеркалом и источником поляризованного излучения, а другой - между полупрозрачным зеркалом и приемником поляризованного излучения.

Составитель В. Свиридов

Техред М.Ходанич ,Корректор Л.Дилипенко

Похожие патенты SU1260769A1

название год авторы номер документа
Устройство для определения адгезии металлических пленок 1987
  • Палий Олег Иванович
  • Петрашенко Петр Дмитриевич
  • Россол Александр Иванович
  • Холомеев Александр Владимирович
SU1483337A2
Устройство для определения адгезии металлических пленок 1987
  • Палий Олег Иванович
  • Холомеев Александр Владимирович
  • Россол Александр Иванович
  • Петрашенко Петр Дмитриевич
SU1483336A1
Измеритель оптического затухания световода 1989
  • Тарасенко Александр Федорович
  • Пивоваров Леонид Зиновьевич
  • Грибов Владимир Федорович
SU1737387A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ СНЯТИЯ СПЕКТРА ПОВЕРХНОСТНОГО ПЛАЗМЕННОГО РЕЗОНАНСА 1993
  • Алимов О.А.
  • Виноградов С.В.
  • Валянский С.И.
  • Михеев А.А.
  • Савранский В.В.
RU2096757C1
Способ определения потерь в многомодовом световоде 1985
  • Сидак Петр Иванович
  • Пивоваров Леонид Зиновьевич
SU1278645A1
ИЗМЕРИТЕЛЬ МОЩНОСТИ ИЗЛУЧЕНИЯ ИМПУЛЬСНЫХ ОПТИЧЕСКИХ КВАНТОВЫХ ГЕНЕРАТОРОВ 2008
  • Меньших Олег Федорович
RU2386933C1
СПОСОБ ГЕНЕРАЦИИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ В ТЕРАГЕРЦОВОМ ДИАПАЗОНЕ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ В ТЕРАГЕРЦОВОМ ДИАПАЗОНЕ 2013
  • Образцов Петр Александрович
  • Чижов Павел Алексеевич
  • Гарнов Сергей Владимирович
RU2539678C2
Рефрактометр для анизотропных кристаллов 1982
  • Рокос Иржи Антонович
SU1100541A1
Эллипсометр 1988
  • Ковалев Виталий Иванович
SU1695145A1
Способ контроля толщины пленки в процессе ее нанесения 1989
  • Антонюк Владимир Никифорович
  • Пищаль Елина Иосифовна
SU1746214A1

Реферат патента 1986 года Устройство для определения адгезии металлических пленок

Формула изобретения SU 1 260 769 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1986 года SU1260769A1

Устройство для исследования адгезионного соединения 1970
  • Белый Владимир Алексеевич
  • Михневич Анатолий Станиславович
  • Пинчук Леонид Семенович
SU528484A1
Способ изготовления электрических сопротивлений посредством осаждения слоя проводника на поверхности изолятора 1921
  • Андреев Н.Н.
  • Ландсберг Г.С.
SU19A1
Известия АН Латвийской ССР, 1976, № 5, с
СУРДИНА ДЛЯ МЕДНЫХ ДУХОВЫХ ИНСТРУМЕНТОВ 1923
  • Д'Альфонзо В.Р.
SU569A1

SU 1 260 769 A1

Авторы

Палий Олег Иванович

Гавриленко Владимир Николаевич

Рогачев Александр Владимирович

Даты

1986-09-30Публикация

1985-05-11Подача