Устройство для измерения параметров диэлектриков Советский патент 1986 года по МПК G01R27/26 

Изобретение относится к измерительной технике СВЧ-диапазона. Цель изобретения упрощение измерений параметров диэлектриков с переменной толщиной. На чертеже изображена структурна электрическая схема устройства для измерения параметров диэлектриков, Устройство для измерения парамет ров д 1электриков содержит генератор 1 СВЧ, соединенный с делителем 2 мощности, первый 3, второй 4 и третий 5 излучатели, расположенные на общем металлическом фланце 6 и соприкасающиеся с исследуемым диэлектриком 7, Расстояние между излучателями 3 и 4 равно f , а между излучателями 3 и 5 -f , В каналы из лучателей 4 и 5 включены коммутаторы 8 и 9 и управляемые фазовращател 10 и 11, а в канал излучателя 3 вкл чен циркулятор 12, соединенный через детектор 13 с измерителем 14. Устройство для измерения парамет ров диэлектриков работает следующим образом. Сигнал непрерывной генерации с генератора 1, поступая на делитель 2, делится поровну между каналами излучателей 3-5. В первый момент времени один из коммутаторов 8 или (9) открывается, а другой закрывается. Управляемьпу фазовращателем 10 (или 11), в которьй проходит сигнал через коммутатор 8 (или 9), выставляется такое значение фазового сдвига Ч , при котором сигнал с ци кулятора 12 имеет максимальную ампл туду, что фиксируется с помощью измерителя 14. Во второй момент вре мени положение коммутаторов 8 и 9 меняется на обратное и по вышеизложенной методике определяется фазовый сдвиг . Искомые значения диэлектрической проницаемости t - исследуемого материала-и изделия определяются по известным значениям фазового сдвига М, и V , получаем,гх за один цикл измерений,а по известным значениям расстояний между излучателями f и f из системы уравнений u)(f sAb{d ff) . et((;jfK:.rv{d(082 при расположении излучателей в линейку в плоскости вектора Е поля, возбуждающего излучатели. i(f)(f)v)4Jt(.fi i i()(f)-.(-M)l при расположении излучателей 3-5 в ли(чейку в плоскости вектора И поля возбуждающего излучателя. I/ KO Л , где рабочая длина волны генератора 1. Для однозначности измерения необходима, чтобы где, - максимальное значение диэлектрической проницаемости измеряемого диэлектрика 7. При использовании предлагаемого устройства отпадает необходимость в измерении толщины диэлектрика, что позволяет измерять его параметры в случаях, когда толщину диэлектрика измерить невозможно, а также в случае изменения его толщины в процессе измерения, например за счет уноса материала. Формула изобретения Устройство для измерения параметров диэлектриков, содержащее последовательно соединенные генератор СВЧ, делитель мощности, циркулятор и первый излучатель, последовательно соединенные детектор и измеритель, последовательно соединенные первый управляемый фазовращатель и второй излучатель, при этом вход детектора подсоединен к третьему плечу циркулятора, отличающееся тем, что, с целью упрощения измерений параметров диэлектриков с переменной толщиной, делитель мощности вьшолней Трекканальным, к второму выходу делителя мощности последовательно подключены первый коммутатор, второй управляемый фазовращатель и тре3тий излучатель, а между третьим выходом делителя мощности и входом 12641084 первого управляемого фазовращателя введен второй коммутатор.

Изобретение относится к измерительной технике СВЧ-диапазона. Цель изобретения - упрощение измерений параметров диэлектриков с переменной толщиной. Устройство содержит генератор 1 СВЧ, делитель 2 мощности, вьшолненный трехканальным, три излучателя (И) 3, 4 и 5, расположенные на общем металлическом фланце 6 и соприкасающг еся с исследуемым диэлектриком 7, два коммутатора (К) 8 и 9, два управляемых фазовращателя (УФ) 10 и 11, циркулятор 12, детектор 13 и измеритель 14. В каждый момент времени один из К 8 или 9 открьшается, а другой закрьшается. УФ 10 или 11, в которьй проходит сигнал через К 8 или 9, выставляет такое значение фазового сдвига, при котором сигнал с циркулятора 12 имеет максимальную амплитуду, фиксируемую измерителем 14. По известным зна- о чениям фазовых сдвигов, получаемых сл за один цшсл измерений, и по известным значениям расстояний между И 3, 4 и 5 определяют с помощью системы уравнений искомые значения диэлектрической проницаемости исследуемого материала и изделия. Цель достигается введением И5, К8и9иУФ 11. N) 1 ил.