Способ измерения площади поперечного сечения объемных тел Советский патент 1960 года по МПК G01C11/28 

Описание патента на изобретение SU126619A1

. Изггестны способы измерения лггиеГшых размеров тел, основанные чз. использовании фотоэлемента, неред которым размещают измеряемый предмет. Однако с помощью этих способов гельзя измерить площадь сечения объемных тел. В описываемом способе это достигается тем, что ц-еред фотоэлементом перпендикулярно плоскому световому лучу, интенсивность которого нарастает по линейному закону, помещают измеряемый образец, приводят его во вращение и по усредненному току фотоэлемента судят о площади поперечного сечения. На чертеже изображена скелетная схе.ма устройства по описываемому способу. Световой поток, гйлученный от источника света /, формируется з плоский пучок оптической системой 2 и падает на фотоэлемент 3. Перед фотоэлементо г перпендикулярно пучку света помещен образец 4. При одинаковой интенсивности светового пучка по его сечению освещенное гь фотокатода фотоэлемента пропорциональна зате.мненному участку пучка света, который образуется площадью тела (образца) 4. Если тело 4 прчвести во вращение, то ток фотоэлемента будет пропорционален среднему радиусу образца. При интенсивности пучка света, линейно возрастающей от оси вращения, средний ток фотоэлемента будет пропорциоиален площади поперечного сечения образца 4. 0::и;:апный способ измерения площади поперечного сечения объемных тел позволяет автоматизировать процесс измерения и повысить его точность. Предметизобретения. Способ измерения площади поперечного сечения объемных тел, о тличающийся тем, что, с целью автоматизации и увеличения точносги

измерения, перед фотоэлементом перпендикулярно плоскому световому лучу, 11нтенеив1юсть которого н-арастает по линейному закону, помещают измеряемый образец, приводят его во вращение и по усредненному току фотоэлемента судят о площади поперечного сечения образца.

Похожие патенты SU126619A1

название год авторы номер документа
Способ измерения площади поперечного сечения объемных тел 1961
  • Оржевский О.Б.
SU145762A1
Электронный стабилизатор высокого напряжения 1957
  • Денненбург В.Л.
  • Оржевский О.Б.
SU126527A1
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ ПЛОТНОСТИ СЛАБОПОГЛОЩАЮЩИХ ВОЛОКНОСОДЕРЖАЩИХ МАТЕРИАЛОВ 1991
  • Шляхтенко П.Г.
  • Суриков О.М.
  • Зиновьев А.В.
  • Гылыкова Р.П.
RU2024011C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАЗМЕРОВ ПОПЕРЕЧНОГО СЕЧЕНИЯ ТЕЛ СЛОЖНОЙ ФОР,\1Ы 1970
SU284319A1
ЛАЗЕРНАЯ ЗОНДИРУЮЩАЯ СИСТЕМА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ТОНКОЙ ПЛАСТИНЫ МАТЕРИАЛА, ИМЕЮЩЕЙ АПЕРТУРУ, СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ШИРИНЫ ЩЕЛЕЙ В ДВИЖУЩЕЙСЯ ТОНКОЙ ПЛАСТИНЕ МАТЕРИАЛА И СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ТОНКОЙ ПЛАСТИНЫ МАТЕРИАЛА, ИМЕЮЩЕЙ АПЕРТУРЫ 1996
  • Джеймс Р. Фендли
  • Брюс Х. Циммерман
RU2159407C2
Способ определения спектральных направленно-полусферических коэффициентов отражения образцов 1990
  • Судариков Николай Иванович
  • Скоков Игорь Владимирович
  • Титов Александр Леонидович
  • Фомичев Евгений Константинович
SU1770850A1
Прибор для измерения небольших перемещений 1937
  • Орлов В.И.
SU55059A1
СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ НАНОСКОПИЧЕСКИХ ДЕФЕКТОВ В СТРУКТУРЕ МАТЕРИАЛА 2006
  • Лебедев Василий Тимофеевич
  • Лебедев Виктор Михайлович
  • Земцов Александр Николаевич
  • Огарышев Сергей Иванович
RU2327976C2
Устройство для стабилизации траектории ионного луча в масс-спектрометрах 1956
  • Берлин Г.С.
  • Оржевский О.Б.
  • Рагозин Ю.Д.
SU114351A1
Способ измерения коэффициента поглощения света в прозрачных твердых телах 1982
  • Генкин В.Н.
  • Демочко Ю.А.
  • Миллер А.М.
  • Соустов Л.В.
SU1136605A1

Иллюстрации к изобретению SU 126 619 A1

Реферат патента 1960 года Способ измерения площади поперечного сечения объемных тел

Формула изобретения SU 126 619 A1

SU 126 619 A1

Авторы

Оржевский О.Б.

Фистуля В.И.

Даты

1960-01-01Публикация

1958-11-24Подача