Асферическое пробное стекло Советский патент 1986 года по МПК G02B3/02 

112

Изобретение относится к нзготогз- лению оптических компонентов, в частности к технологии изготовления и контроля асферических оптических деталей, и может быть использовано для технологического и аттестационного контроля асферических поверхностей (АЛ) второго и высших порядков, вьшуклых и вогнутых, диаметром до 1000 мм и крутизной до 30.

Цель изобретения - повышение точности контроля крупногабаритных поверхностей.

На чертеже изображено пробное стекло, изометрия.

Асферическое пробное стекло выполнено в виде тела вращения имеющего асферическую рабочую поверхность 1 заданной формы, дуговую линию 2, нанесенную на границе световой зоны отсчетную шкапу 3, нанесенную на рабочую поверхность в радиальном направлении, нерабочую полированную поверхность 4, плоскую или сферическую.

На контролируемой детали вблизи границы световой зоны (за ее пределами) наносят реперную линию, представляющую окружно.сть (i-ши часть ее радиусом, равным радиусу дуговой линии 2. Пробное стекло накладывэлст рабочей поверхностью 1 на контрол : - руемую поверхность и производят его центрировку. Операция центрирО зания пробного стекла относительно контролируемой асферической поверхности заключается в совмещении дуговой линии 2 с реперной линией детали. При толщине нанесенных 0,05 - 0,1 мм центрировка может быть выполнена с точностью 0,03-0,05 мм.

ор И.Горная 6832/43

Составитель В Карягин Техред В.Кадар

Кор Под

Тираж 501 ВНШПИ Государственно I D кЬь Итета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, , Раушская наек. , д.

Производственно-полиграфическое предприятие г.Ужгород, ул.Проектная, 4

0

15

20

76

5

25

30

35

40

t2

Возникающая в воздушном зазоре между пробным стеклом и контролируемой поверхностью интерференционная картина имеет вид совокупности дуг, концентричных относительно центра контролируемой асферической поверхности .

По отсчетной шкапе 3 определяют положение характерных элементов интерференционной картины (расстояние между кольцами, положение локальных максимумов и минимумов на образующей контролируемой поверхности, координаты прочих дефектов) , при этом координатная привязка элементов интерференционной картины не зависит от положения глаза наблюдателя, тол- псины пробного стекла и формы нерабочей поверхности 4, так как шкала нанесена на рабочей поверхности 1.Контроль всей поверхности производится путем по Cjte до нательного перемещения пробного стекла по поверхности контролируемой детали.

Формула изобретения

Асферическое пробное стекло, выполненное в виде тела вращения,имеющего рабочую поверхность заданной формы5 отличающееся тем, что, с целью иовьшения точности контроля крупногабаритных поверхностей, оно ограничено двумя вертикальными поверхностями и имеет в плане вид кругового сектора, на рабочей поверхности которого в радиальном направлении выполнена отсчетная шкала, а на границе световой зоны нанесена дуговая линия,

Корректор А.Тяско Подписное

Изобретение относится к технологии изготовления и контроля асферических оптических деталей и позволяет повысить точность контроля крупногабаритных поверхностей. Пробное стекло выполнено в виде тела вращения, ограниченного двумя вертикальными поверхностями с образованием в плане кругового сектора.На асферической рабочей поверхности 1 заданной формы в радиальном направлении нанесена отсчетная шкала 3. При наложении стекла поверхностью 1 на контролируемую поверхность сов- мещшот дуговую линию 2, нанесенную на границе световой зоны пробного стекла, с реперной линией детали. По шкале 3 определяют положение характерных элементов интерференционной картины при последовательном перемещении стекла по контролируе- .мой детали. 1 ил. I (Л tc 00 Од