Способ определения ошибок круговых, штриховых шкал Советский патент 1960 года по МПК G01B9/04 G02B27/32 

В ОСНОВНОМ авт. св. № 115496 описан фотоэлектрический микроскоп . для определения ошибок деления круглых шкал. Принцип действия этого микроскопа состоит в том, что увеличенное изображение штриха шкалы образуется в плоскости колеблюш;ейся ш:ели. Полученные от половин изображения штриха модулированные световые потоки превращаются фотоэлектронным умножителем в соответствующие изменения фототока Амплитуды световых потоков от половин изображения плтриха будут равны только при симметричном положении щтриха относительно колеблющейся щели. Соответствующие амплитуды выходного напряжения, снимаемые с нагрузочного сопротивления в цепи фотоумножителя, сравниваются на экране электролучевой трубки и определяется величина ошибки деления шкалы.

Описываемый способ определения ошибок круговых штриховых шкал методом сравнения испытываемой шкалы с эталонной осуществляется при, помощи фотоэлектрических микроскопов, описанных в основном авт. св. № 115496.

Способ состоит в том, что микроскопы устанавливают попарно - по два для каждой шкалы - и все четыре на одной оси, являющейся диаметральной осью обеих соосно установленных шкал. Для устранения влияния эксцентриситета установки шкал обе осциллограммы эталонной шкалы совмещают на экране осциллографа и производят замер ошибок проверяемой шкалы. Такой способ повышает точность отсчета замеряемых ошибок.

На чертеже изображена схема определения ошибок круглой штриховой шкалы по описываемому способу.

Образцовый круг / и испытуемый круг 2 укреплены на одной оси так, чтобы их пояски делений были концентричны оси вращения, а ну