Способ проверки расстояний между штрихами штриховой меры или штрихом последней и поверхностью концевой меры Советский патент 1938 года по МПК G01B11/14 

Предлагаемый способ проверки расстояний между штрихами штриховой меры или штрихом последней и поверхностью концевой меры с точностью до 0,1 осуществляется путем наблюдения двух соседних штрихов или одного штриха и его отражения от поверхности концевой меры через интерференционный эталон в микроскоп, оптическая ось которого наклонена под углом 45° к плоскости пластинок эталона. Этот способ может быть использован и для нанесения делений на линейку /; с этой целью концевая мера заменяется ножом сзеркальной отражающей поверхностью.

На чертеже фиг. 1 иллюстрирует способ проверки расстояний между штрихами штриховой меры; фиг. 2- способ сравнения концевых мер со штриховыми; фиг. 3-прием использования вышеуказанного способа при нанесении делений на линейку.

Предлагаемый способ проверки расстояний между штрихами штриховой меры осуществляется следующим образом. Интерференционный эталон устанавливают пластинками /, 2 (фиг. 1) перпендикулярно к поверхности проверяемой шкалы 4, при этом пластинка / должна быть несколько шире, чем пластинка 2. Микроскоп 3 устанавливают над меньшей пластинкой под углом 45 к плоскости пластинок эталона, так чтобы штрих а можно было видеть сквозь первую пластинку эталона, после двукратного отражения сперва от второй пластинки, а потом от первой, а штрих b можно было видеть непосредственно сквозь первую пластинку. Таким образом, в поле зрения микроскопа, благодаря его наклонному положению, будут видны оба штриха; эти штрихи будут казаться совпадающими, если расстояние между ними равно удвоенному расстоянию между пластинками эталона. При движении шкалы в направлении, указанном стрелкой (фиг. 1), изображение, выходя из фокальной плоскости, будет исчезать и сменяться изображением следующих штрихов так, что сначала мы проверяем совпадение а с Ь, затем (Ь с с и т. д., т. е. проходим всю шкалу, отмечая расхождение.

Микроскоп можно направить и под углом 135 к шкале, поместив его

с другой стороны первой пластинки эталона, но для этого нужно предваварительно учесть влияние толщины первой пластинки, которое при описанной выше установке исключается.

Описываемый способ можно использовать и для нанесения равномерных делений на линейку в пределах разрешающей способности микроскопа. Для этой цели берут постоянный эталон 5 (фиг. 3) Ht устанавливают расстояние между пластинками, при помощи винта 6, равным половине требуемой величины делений. Тогда винт 6, приводящий в движение шкалу, может быть совершенно неравномерным и должен только обеспечивать плавное и параллельное самому себе перемещение. В качестве отражающей плоскости можно применить плоскость штриховального ножа 7, наносящего деления, и рассматривать сквозь эталон под углом 45° как нанесенную уже шкалу, так и ее изображение в зеркальной плоскости ножа. Тогда совпадение штрихов в фокальной плоскости микроскопа будет обеспечивать привильную установку ножа при работе.

Предлагаемый способ может служить также для точного сравнения концевых мер со штриховыми. В этом случае второй штрих шкалы заменяется отражением штриха от полированной плоскости концевой меры 8 (фиг. 2), наложенной на штриховую 9, которая помещается на место шкалы. Штрих последней меры будет отражаться в концевой плоскости и при наблю-дении сквозь эталон в микроскоп, поставленный под углом 4У, изображения самого штриха и его мнимого изображения в концевой мере будут совмещаться в том случае, если расстояние между концевой плоскостью и штрихом будет в точности равно расстоянию между пластинками эталона, как это видно из фиг. 2.

Описываемый способ позволяет одновременно контролировать и прямолинейность шкалы и направление штрихов, так как всякие отступления будут сопровождаться эффектом экстрафокальности в микроскопе.

Применение бинокулярного микроскопа позволяет еще более уточнить работу за счет введения в нее элементов стереокомпарирования.

Предмет изобретения.

1. Способ проверки расстояний между штрихами штриховой меры или штрихом последней и поверхностью концевой меры, отличающийся тем, что производят наблюдения пары соседних штрихов или одного штриха и его отражения от поверхности концевой меры через установленный своими пластинками перпендикулярно к поверхности проверяемой шкалы интерференционный эталон в микроскоп с оптической осью, наклоненной под углом 45 к поверхности пластинок эталона.

2 Прием выполнения способа по п. 1, отличающийся тем, что, с целью нанесения делений на линейки, концевая мера заменена ножом с зеркальной поверхностью.

к авторскому свидетельству Б. А. Остроумова

Яо 52678

фиг. j