Устройство для измерения коэффициента отражения Советский патент 1987 года по МПК G01R27/06 

Изобретение относится к технике ысокочастотных измерений и может быть использовано для определения коэффициентов отражения от материа- ов при падении электромагнитных волн в диапазоне углов.

Целью изобретения является повышение точности и локализации измерений.

На фиг. 1 представлена структурная схема устройства для измерения коэффициента отражения; на фиг. 2 - вид А на фиг.1.

Устройство для измерения коэффициента отражения содержит СВЧ-гене- ратор 1, выход которого соединен с передающей антенной 2, отражатель 3, образованный внутренней поверхностью усеченного конуса, ограниченного поверхностью, проходящей через ось усеченного .конуса, исследуемый материал 4, расположенный вдоль усеченного конуса, приемную антенну 5, соединенную с входом приемника 6. При этом приемная и передающая ан t тенны 5 и 2 расположены под равными углами к поверхности исследуемого материала 4, обращены к отражателю 3 и установлены в одной плоскости, перпендикулярной оси усеченного конуса и с возможностью вращения относительно ее. Приемная и передающая антенны 5 и 2 установлены между исследуемым материалом 4 и отражателем 3.

Устройство для измерения )ици- ента отражения работает следующим образом.

Сигнал от СВЧ-генератора 1 с помощью передающей антенны 2 излучается в сторону отражателя 3. Геометрия отражателя 3 выбрана такой, что отраженный от поверхности отражателя 3 .сигнал попадает в середину исследуе- |мого материала 4, расположенного на оси усеченного конуса, образукщего отражатель 3. Отразившись от исследуемого материала 4 и вновь от отражателя 3, сигнал попадает в приемную

5

0

5

0

5

0

5

антенну 5, а затем на приемник 6. При синхронном повороте передающей и приемной антенн 2 и 5 относительно оси усеченного конуса, образующего отражатель 3, измеряют коэффициент отражения в диапазоне углов падения электромагнитной волны от эталонного материала при калибровке и от исследуемого материала 4- при измерении. Наличие.отражателя 3 позволяет повысить точность измерения коэффициента отражения за счет уменьшения связи передающей и приемной антенн 2 и 5 при больших углах падения и существенного сужения диаграмм направленности передающей и приемной антенн 2 и 5 в горизонтальной плоское- . ти, локализовать рабочую зону устройства.

Формула изобретения

Устройство для измерения коэффициента отражения, содержащее СВЧ-ге- нератор, к выходу которого подключена передающая антенна. Приемник, вход которого соединен с приемной антенной, исследуемый материал и отражатель, причем передающая и приемная антенны расположены под равными углами к поверхности-исследуемого материала, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и локализации измерений, отражатель образован частью внутренней поверхности усеченного конуса, ограниченного поверхностью, проходящей через ось усеченного конуса, исследуемый материал расположен вдоль оси усеченного конуса, а приемная и передающая антенны расположены между отражателем и исследуемым материалом и обращены к поверхности отражателя, приемная и передающая антенны расположены в одной плоскости, перпендикулярной оси усеченного конуса, и установлены с возможностью вращения относительно нее.

ВиЗ f

Фиг. I

Изобретение относится к технике измерений. Цель изобретения - повышение точности и локализации измерений. Устройство содержит-СВЧ-г-р 1, передающую и приемную антенны 2 и 5, отражатель 3, исследуемый материал (ИМ) 4 и приемник 6. Сигнал от г-ра 1 с помощью антенны 2 излучается в сторону отражателя 3. Геометрия отражателя 3 выбрана такой, что отраженный от его поверхности сигнал попадает в середину ИМ 4, расположенного на оси усеченного конуса, образующего отражатель 3. Отразившись от ИМ 4 и вновь от отражателя 3, сигнал попадает в антенну 5, а затем на приемник 6. Наличие отражателя 3 позволяет повысить точность измерения коэффициента отражения за счет уменьшения связи антенны 2 и 5 при больших углах падения и существенного сужения диаграмм направленности антенн 2 и 5 в горизонтальной плоскости, а также локализовать рабочую зону устройства. 2 ил. i (Л