Устройство для измерения погрешности масштабного преобразователя высокого напряжения Советский патент 1987 года по МПК G01R35/02 

Изобретение относится к измерител ной технике и может быть использова-- но для определения метрологических характеристик масштабных преобразователей (в том числе трансформаторов делителей напряжения) высоких и сверхвысоких напряжений различных типов в процессе проведения их испытаний, поверки или экспериментальных исследований.

Цель изобретения - повышение точности и ускорение процесса проведения измерения, а также снижение материалоемкости устройства .

На чертеже представлена функциональная схема устройства дня измерения погрешности масштабного преобразователя высокого напряжения.

Устройство содержит клеммы для подключения испытуемого масштабного преобразователя 1, аттестованный при половинном напряжении образцовый масштабный гфеобразователь 2, источник 3 напряжения питания, вольтодобавоч- ный регулируемый источник 4, вспомогательный масштабный преобразователь 5, изменитель 6 полярности, первьш 7 и, второй 8 приборы сравнения, причем низкопотенцкальный вход аттестованного при половинном напряжении образцового масштабного преобразователя 2 подключен к низкопотенциальному входу масштабного преобразователя 1 и соединен с низкопотенциальным выходом источника 3 напряжения питания средняя точка которого соединена с одним из входов вольтодобавочного регулируемого источника 4, другой вход.которого соединен с высокопотенциальным входом образцового масштабного преобразователя 2 и одним из входов вспомогательного масштабного преобразователя 5, другой вход которого первоначально подключается к низкопотенциальному входу образцового масштабного преобразователя 2, а затем к постоянному соединению вы- сокрпотенциального выхода источника 3 напряжения питания и высокопотен- циального входа испытуемого масштабного преобразователя 1, при этом выход вспомогательного масштабного преобразователя 5 соединен с входом изменителя 6 полярности, а выход образцового масштабного преобразователя 2 соединен с входами первого 7 и второго 8 приборов сравнения, другой вход одного из которых соединен

0

5

0

5

0

5

0

5

0

5

с выходом испытуемого масштабного . преобразователя 1, а другого - с одним из выходов изменителя 6 полярности. ,

Устройство работает следующим образом.

В исходном положении вспомогательный масштабный преобразователь 5 включают параллельно образцовому масштабному преобразователю 2 и повышают напряжение на схеме до за-г данного уровня, которьш контролируют по вольтметру второго прибора 8 сравнения, переключаемый вход которого соответственно требуемой для работы прибора полярности соединен с одним из выходов изменителя 6 полярности. При достижении заданного уровня напряжения производят сравнение выход™ ных напряжений образцового масштабного преобразователя 2 и изменителя 6 полярности с помощью второго прибора 8 сравнения и фиксируют его показания. Изменяют включение вспомогательного масштабного преобразователя 5 путем соединения его. входа с высокопотенциальным выходом источника 3 напряжения питания, при этом указанный вход второго прибора 8 сравнения соединяют с другим выходом изменителя 6 полярности. Регулировкой источника 3 напряжения питания и вольтодобавочного регулируемого источника 4 достигают.тех же показаний вольтметра второго прибора 8 сравнения и производят отсчет показаний первого прибора 7 сравнения. Искомую погрешность испытуемого преобразователя по отношению к удвоенному номинальному значению масштабного коэффициента образцового масштабного преобразователя 2 определяют суммиро-- ванием погрешности образцового масштабного преобразователя 2 и показа- НИИ первого прибора 7 сравнения.

Формула изобретения

Устройство для измерения погрешности масштабного преобразователя высокого напряжения, содержащее клеммы для подключения испытуемого масштабного преобразователя, атестован- ный при половинном напряжении образцовый масштабный преобразователь напряжения, источник напряжения питания, вольтодобавочный. регулируемый источник, вспомогательный масштабный

313

преобразователь, два прибора сравнения, низкопотенциальные входы образцового и испытуемого масштабных преобразователейсоединены с низкопотенциальным выходом источника напряжения питания, выход образцового масштабного преобразователя соединен с входами приборов сравнения, другой вход первого из них соединен с вы- ходкой клеммой испытуемого преобра- зовате ля, отличающееся тем, что, с целью повьшения точности и ускорения процесса проведения измерения, а также снижения материалоем- кости устройства, оно дoпoJJнитeльнo содержит изменитель полярности выходного напряжения вспомогательного масштабного преобразователя, причем вы

ход вспомогательного масштабного пре-2о тенциальной входной шины испытуемого образователя соединен с входом Ьзме- масштабного преобразователя.

Редактор А. Огар

Составитель С. Сафохин Техред И.Попович .

Заказ 3959/43Тираж 730Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб,, д, 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

нителя полярности, один из выходов которого соответственно требуемой для работы второго прибора сравнения полярности соединен с его вторым входом, а средняя точка источника напря- жени питания соединена с одним из входов вольтодобавочного регулируемого источника, другой вход которого соединен с высокопотенциальным входом образцового масштабного преобразователя и одним из входов вспомогатель7 ного масштабного преобразователя, другой вход которого первоначально соединен с низкопотенциальным входом образцового масштабного преобразователя, а затем с постоянным соединени- ем высокопотенциального выхода источника напряжения питания и высокопоКорректор М. Демчик

Устройство для измерения согрешности и масштабного преобразователя (МП) высокого напряжения, например трансформаторов, делителей напряжения, содержит испытуемый МП 1, образцовый МП 2, источник 3 напряжения питания, вольтодобавочный регулируемый источник 4, вспомогательный МП 5, изменитель 6 полярности, приборы 7,8 сравнения. Изобретение повышает точность и ускоряет процесс проведения измерения и снижает материалоемкость устройства. 1 ил. i (Л со со о со со