Способ измерения световых потоков фотоэлектронным умножителем Советский патент 1987 года по МПК G01J1/30 

Изобретение относится к способам измерения световых потоков, в частности к способам измерения интенсивности слабых световых потоков -в условиях воздействия на фотоприемник ионизирующего излучения.

Цель изобретения - повышение чувствительности способа измерения светового потока в условиях воздействия ионизирующего излучения путем улучшения отношения сигнал/помеха.

На чертеже представлены амплитудное распределение импульсов от светового потока (кривая 1), амплитудное распределение импульсов от ионизирующего излучения - (кривая 2) и отношение амплитудных распределений импульсов при световом и гамма-воздействиях (кривая 3).

Способ осуществляют следующим образом.

Предварительно фотоэлектронный умножитель (ФЭУ) с сурьмяно-цезиевым

фотокатодом анодной чувствительностью 25 световых сигналов в зависимости от

300 А/мл и минимальной шириной импульса анодного тока на полувысоте 2,5 НС облучают, например, гамма-излучением с мощностью дозы Р/с, измеряют амплитудное распределение лмпульсов с помощью одноканального дифференциального дискриминатора (кривая 2) и анодный ток 1 с помощью

используемого ФЭУ путем улучшения от ношения сигнал/помеха в условиях воз действия ионизирующего излучения, Формула изобретения 30 Способ измерения световых потоков фотоэлектронным умнолдателем, при котором на фотоэлектронный умножитель предварительно воздействуют контроль ным световым потоком, определяют нап

лампового гальванометра (при Pv,

10 Р/с 1 1,1 -10 А) , Затем убирают - g ряжения дискриминации, устанавливают

источник гамма-излучения и этот же ФЭУ освещают источником света (например, лампа накаливания в режиме работы типа А). Световой поток регулируют таким образом, чтобы величина 1 при световом воздействии была равна току, полученному при гамма-облучении (в данном случае I 1 1,1 -10 А), и измеряют амплитудное распределение импульсов от светового потока (кривая 1). Это позволяет производить измерения амплитудного распределения импульсов при сравнимых скоростях счета от светового и радиационного воздействий.

По полученным, графикам строят зависимость отношения амплитудных распределений импульсов при световом и гамма-воздействиях (п /Пу) от напряжения дискриминации (кривая 3) и по расположению области плато (А,В), которое соответствует уровню 0,8-0,9 от максимального отношения амплитудных распределений импульсов при световом и гамма-воздействиях (кривая 3), определяют верхний (и, 7 В) и нижний (Uo 10 В) пороги дискриминации, при которых отношение сигнал/помеха сохраняется постоянным.

Далее для измерения световых потоков, изменяющихся от 10 до 10 лм в условиях воздействия ионизирующего

излучения (Р , Р 10 Р/с), устанавливают полученные значения порогов дискриминации Ш 7 В и Uq 10 В на амплитудном дискриминаторе и измеряют их путем счета импульсов,

5 амплитуды которых находятся между порогами дискриминации. Например, для скорости счета ими./с ве- светового потока составляет лм.

Q Способ измерения световых потоков позволяет измерить световые потоки в условиях воздействия ионизирующего излучения и при этом повысить в 2-5 раз чувствительность при измерениях

личина 10используемого ФЭУ путем улучшения от- ношения сигнал/помеха в условиях воздействия ионизирующего излучения, Формула изобретения Способ измерения световых потоков отоэлектронным умнолдателем, при котором на фотоэлектронный умножитель предварительно воздействуют контрольным световым потоком, определяют напряжения дискриминации, устанавливают

их значения и измеряют световые потоки путем счета импульсов, отличающийся тем, что, с целью повьш1ения чувствительности способа

40 измерений в условиях воздействия ионизирующего излучения путем улучшения отношения сигнал/помеха, перед воздействием измеряемым световым потоком фотоэлектронный умножитель об45 .ют ионизирующим излучением, измеряют анодный ток, устанавливают его.значение в пределах, не превьшгаю- ш;их средний допустимый анодный ток, измеряют амплитудные распределения

gQ импульсов от светового потока и иони- зирующег9 излучения, находят их отно- шерие, а напряжения дискриминации определяют на уровне 0,8-0,9 от максимального отношения амплитудных пределений импульсов, после чего путем счета импульсов, амплитуды которых находятся между напряжениями дискриминации, измеряют световые потоки.

О 20

tfO

ВО

Изобретение относится к способам измерения интенсивности слабых световых потоков в условиях воздействия на фотоприемник ионизирующего излучения. Цель изобретения - повьшение точности измерения световых потоков ,в условиях воздействия ионизирующего излучения путем улучшения отношения сигнал/помеха. Для этого предварительно воздействуют световым потоком, определяют напряжения дискриминации, устанавливают их значения, измеряют световые потоки путем счета импульсов . Перед воздействием световым током фотоэлектронный умножитель облучают ионизирующим излучением, измеряют амплитудное распределение импульсов и анодный ток, регулируя световой поток, устанавливают аналогичное значение радиационного анодного тока, измеряют амплитудное распределение от светового потока, определяют отношение амплитудных распределений импульсов от светового потока и ионизирующего излучения, строят его график, а напряжения дискриминации определяют по расположению области плато на графике, после чего путем счета импульсов, амплитуды которых находятся между напряжениями дискриминации, измеряют световые потоки. 1 ил. (Л CZ 00 4:

Редактор А.Огар

Составитель Е .Максхпкин

Техред М.Дидык Корректор А.Тяско

Заказ 4426/45Тираж 776Подписное

ВНИИГИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб,, д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4