Устройство для получения дифференциальных спектров отражения Советский патент 1988 года по МПК G01J3/42 

(21)4023983/24-25i

(22)19.02.86

(46) 23.01.88. Бюл. № 3 (72) П.И.Борисова, Ю.В.Воробьев, В.Н.Захарченко, Э.А.Исмагилова и В.В.Карпов

(53)535.853(088.8)

(56)Спектрометр инфракрасный ИКС-24. Техническое описание и инструкция по эксплуатации. ЛОМО, 1970.

Спектрофотометр СФ-8. Техническое описание и инструкция по эксплуатации. ЛОМО, 1972.

(54)УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫХ СПЕКТРОВ ОТРАЖЕНИЯ

(57)Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению. Целью изобретения является повышение точности и локальности измерений. Свет от источника I проходит через монохроматор 2 и с помощью первого объектива 3 фокусируется на рабочей плоскости держателя 9 образца. В

двухлучевой оптической системе 4 двухканальным коммутатором является двухстороннее плоское зеркало 5. Ког да зеркало 5 установлено за объективом 3, оно отражает излучение на рабочую плоскость держателя 8 эталона. Когда зеркало 5 фиксируется перед объективом 10, оно направляет излучение, отраженное от образца, установленного в держателе 9, на объектив 10. Рабочие плоскости держателей 8 и 9 параллельны. Симметрично между ними перемещается зеркало 5. Для обеспечения локальности рабочие плос кости держателей 8 и 9 оптически соп ряжены с задним фокусом объектива 3 и передним фосусом объектива 10. Пос ле объектива 10 установлен приемник 11, через усилитель 12 соединенный с регистратором 13. Уменьшение погрешности примерно в 5 раз достигается использованием минимального количества зеркал в двухлучевой оптической системе. 1 ил.

Ф

(Л

САЭ О) 00 О5 СГ

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению.

Цель изобретения - повышение точности, и локальности измерений.

На чертеже изображена блок-схема устройства.

Устройство содержит источник 1 излучения, монохроматор 2, первый формирующий объектив 3, двухлучевую оп- тичёскую систему 4, двухстороннее плоское зеркало 5 с отражающими поверхностями 6 и 7, держатель 8 эталона, держатель 9 образца, второй формирующий объектив 10, приемник 11 Излучения, усилитель 12, регистратор 13 спектра. Держатели 8 и 9 находятся в заднем фокусе первого формирующего объектива 3 и в переднем фокусе второго формирующего объектива 10,

Устройство работает следующим образом.

Для измерения спектров отражения в держатели 8 и 9 устанавливают эталон и образец, В момент, изображен- ный на чертеже, излучение от источника 1, пройдя через монохроматор 2 и первый формирующий объектив 3, попадает на образец, установленный в держателе 9 образца. Отраженный от образца пучок излучения поступает на зеркальную поверхность 7 двухстороннего плоского зеркала 5, занимающего положение перед вторым объективом 10 и направляющего на последний отраженный от об.разца поток излучения. Объектив 10 направляет излучение в приемник 11, где оно преобразуется в электрический сигнал и поступает в усилитель 12, после которо- го записывается регистратором 13 спектра, В следующий момент времени зеркало 5 занимает положение, изображенное пунктиром, и выходящее из объектива 3 излучение, отразившись от зеркальной поверхности 6 зеркала 5, попадает на эталон, установленный в держателе 8, /Отраженное от эталона излучение попадает во второй формирующий объектив 10, далее как в первом случае. Таким образом, один и тот же оптический поток, поочередно отражаясь от исследуемого образца и эталона, поступает в приемник 11, вырабатывающий переменный электрически

сигнал, соответствующий разности сигВНИШИ

Заказ 279/40

налов от образца и эталона. Этот сигнал после усилителя 12 записывается регистратором 13. Поступающий из мо- нохроматора пучок излучения с последовательно изменяющейся длиной волны но монохроматический в каждые два описанных момента времени, отражающийся поочередно от образца и эталона, позволяет получить и зафиксировать на регистраторе 13 спектральную зависимость разностного сигнала отражения от длины волны, характеризующую физические свойства данного образца.

При измерении на устройстве -спектров отражения погрешность измерений спектров примерно в 5 раз ниже из-за уменьшения паразитного сигнала, возникающего вследствие большого количества зеркал в известном устройстве.

Формула

и 3

обретения

5 о 0

5

5

Устройство для получения дифференциальных спектров отражения, содержащее оптически связанные источник излучения, монохроматор, первый формирующий объектив, двухлучевую оптическую систему, снабженную двухканаль- ным коммутатором и держателями эталона и образца с рабочими плоскостями, второй формирующий объектив и приемник излучения, а также регистратор спектра, через усилитель соединенный с приемником излучения, о т л и- чающееся тем, что, с целью повьшения точности и локальности измерений, рабочие плоскости держателей эталона и образца установлены взаимно параллельно, а двухканальный коммутатор выполнен в виде двухстороннего плоского зеркала, установленного симметрично рабочим плоскостям держателей эталона и образца с возможностью перемещения в своей плоскости и поочередной фиксации по ходу излучения за первым формирующим объективом и перед вторым формирующим объективом, при этом плоскости каждого держателя оптичес- ки сопряжены с задним фокусом первого формирующего объектива и передним фокусом второго формирующего объектива.

Тираж 499 Подписное