Двойной магнитный масс-спектрометр Советский патент 1961 года по МПК H01J49/26 

Предлагается двойной магнитный масс-спектрометр, который позволяет, в отличие от известных масс-спектрометров, осуществить последовательное двойное разложение ионных пучков в массовый спектр с помоидью не двух, а одного электромагнита, что существенно упрощает устройство таких приборов и дает возможность использовать их более успешно для анализа микропримесей. Сущность изобретения заключается в том, что межполюсный зазор круглого по сечению электромагнита изменяется скачками от одного заданного значения к другому.

На фиг. 1 схематически изображено устройство масс-спектрометра; на фиг. 2 - траектории двух ионных лучей.

На фиг. 1 изображен круглый по сечению электромагнит, межполюсный зазор которого скачком меняется от значения d до значения d-. В области скачка величины зазора напряженность магнитного поля электромагнита плавно изменяется от одного постоянного значения к другому. По топографии магнитного поля в зазоре электромагнита строится траектория движения ионных пучков.

На фиг. 2 изображены траектории двух ионных лучей, выходящих под одним углом к другому из ионного источника И. Угловая фокусировка лучей в этом случае имеет место в точках Л и В под углами 180 и 360° соответственно. Фокусировка под углом 360° более соверщенна, чем Б секторных магнитных полях.

Предмет изобретения

Двойной магнитный масс-спектрометр с фокусировкой под углом 360°., отличающийся тем, что, с целью осуществления последовательного двойного разложения ионных пучков в спектр в зазоре одного электромагнита, межполюсный зазор круглого по сечению электромагнита изменяется скачком от одного заданного значения к другому.