Способ изотопного и химического масс-спектрального анализа Советский патент 1961 года по МПК G01N27/62 B01D59/44 H01J49/26

Описание патента на изобретение SU141559A1

В известных способах изотопного и химического масс-спектрального анализа с использованием магнитного масс-спектрографа для увеличения их разрешающей способности определяющие щели, в том числе и

ионного источника делают как можно уже, что сказывается на интенсивности пучка ионов и снижении чувствительности анализа.

В предлагаемом способе для новыщения чувствительности анализа используется щирокир пучок параллельно движущихся ионов, который дважды фокусируется в однородном магнитном поле с одновременным диафрагмированием.

На чертеже схематически изображена траектория движения ионных лучей в анализирующем однородном магнитном ноле.

Положительные или отрицательные ионы, находящиеся на пластине / большой площади, под действием разности потенциалов, приложенной к пластине / и сетке 2, с ускорением входят в однородное магннтное поле перпендикулярно к его границе 3. В магнитном поле ионы двигаются по дугам окружности радиусом R (на чертеже путь ионов обозначен снлошнымн линиями). В плоскости 4, расположенной под угло, 90° к направлению входа, ионные лучи фокусируются и проходят через узкую щель, на выходе из которой лучи снова расходятся. Вторичная фокусировка лучей происходит в плоскости 5, совпадающей со второй границей одновременного магнитного поля.

За узкой щелью плоскости 5 расположен нриемник 6, подсоединенный для регистрации величины ионного тока к измерительному прибору 7. Источником ионов может быть, например, пластина, нагреваемая .до высокой температуры (термоанод).

Описываемый способ может быть использован пои изотопном анали..е труднолетучих веществ.

Предмет изобретения

Способ изотопного и химического масс-спектрального анализа с использованием магнитного масс-спектрографа, оТоТ и ч а ю щи и с я Te.Ni, что, с целью повышения чувствительности анализа, используется широкий пучок параллельно движущихся ионов, дважды фокусируемый в однородном магнитном поле с одновременным диафрагмирование.

Похожие патенты SU141559A1

название	год	авторы	номер документа
Двойной магнитный масс-спектрометр	1960	Ионов Н.И. Каратаев В.И. Мамырин Б.А. Шустров Б.Н.	SU139031A1
Ионный микрозондовый анализатор	1988	Кузема Александр Сергеевич Лялько Иван Семенович Овчаренко Владимир Николаевич Савин Олег Ростиславович Вайсберг Эрнст Исаакович Доля Владимир Николаевич Павленко Павел Алексеевич Огенко Владимир Михайлович	SU1605288A1
СТАТИЧЕСКИЙ МАСС-АНАЛИЗАТОР ИОНОВ	2011	Саченко Вячеслав Данилович	RU2456700C1
СПОСОБ АНАЛИЗА ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ ПО ЭНЕРГИЯМ И МАССАМ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ	2010	Строкин Николай Александрович Астраханцев Николай Вениаминович Бардаков Владимир Михайлович Во Ньы Зан Кичигин Геннадий Николаевич Лебедев Николай Валентинович	RU2459310C2
Магнитный резонансный масс-спектрометр	1990	Мамырин Борис Александрович	SU1780132A1
МАГНИТНЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР С ДВОЙНОЙ ФОКУСИРОВКОЙ	2000	Коган В.Т. Павлов А.К. Гладков Г.Ю.	RU2176836C2
ЭНЕРГОМАСС-СПЕКТРОМЕТР ВТОРИЧНЫХ ИОНОВ	1990	Никитенков Н.Н. Косицын Л.Г. Шулепов И.А.	RU2020645C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНОЙ ДИСПЕРСИИ ПРИЗМЕННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО ПРИБОРА	1994	Амстиславский Яков Ефимович	RU2082115C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯЖЕННОСТИ МАГНИТНОГО ПОЛЯ САМОСВЕТЯЩИХСЯ ОБЪЕКТОВ	2000	Кобанов Н.И.	RU2178899C1
Интерференционный способ определения показателя преломления	1980	Королев Николай Васильевич Рагузин Рэм Михайлович Аспандияров Серик Билялович Фрез Алла Ильинична Зверев Виктор Алексеевич	SU868498A1

Иллюстрации к изобретению SU 141 559 A1

Реферат патента 1961 года Способ изотопного и химического масс-спектрального анализа

Формула изобретения SU 141 559 A1

ОПЕЧАТКА Ма стр. 1 в строке 7 снн;5у напечатано одновременного следует читать однородного

SU 141 559 A1

Авторы

Ионов Н.И.

Даты

1961-01-01—Публикация

1960-12-14—Подача