Способ градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды механических колебаний Советский патент 1988 года по МПК G01B11/16 

4

О

00 со

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при дистанционном измерении параметров механических колебаний в труднодоступных местах.

Цель изобретения - повышение точности градуировки при измерении колебаний в труднодоступных местах.

На чертеже приведено устройство, реализующее способ градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды механических колебаний.

Устройство содержит лазерный источник I света, объект 2 исследования, отражатель 3, соединенный с маломощным вибратором 4, щелевую диафрагму 5, установленную перед фотоприемником 6, лазерный интерферометр 7, включающий лазер 8, отражатель 9, делитель 10 лазерного луча, фотоприем- ник 11 и измерительный отражатель 12, связанный с маломощным вибратором 4, решающий блок 13 и цифровой дисплей 14.

Способ осуществляется следующим образом.

Луч света от источника 1 направляют на неподвижный объект 2 исследования вдоль его поверхности, которая частично перекрывает луч. Часть луча света, не перекрытая поверхностью объекта 2, падает на отражатель 3 и после отражения - на фотоприемник 6, проходя при этом через щелевую диафрагму 5. Луч света, выходящий из лазерного интерферометра 7, падает на измерительный отражатель 12, после отражения от которого луч падает на фотоприемник 11. На фотоприемник 11 падает также луч света, вышедший из лазера 8 и отраженный от отражателя 9. После настройки и юстировки оптической системы производят градуировку измерителя следующим обра0

5

0

5

0

5

зом. Придают колебания с требуемой амплитудой вибратору 4 и, следовательно, отражателю 3. На отражатели 3 и 12 направляют лучи света соответственно от лазеров 1 и 8. Объект 2 исследования при этом не колеблется, но перекрывает часть падающего на него луча света от источника 1. При колебаниях отражателя 3 тень от объекта 2 перемещается (сканируется) вдоль щелевой диафрагмы 5. При этом фотоприемник выдает электрический сигнал, напряжение которого пропорционально амплитуде колебаний отражателя 3. Амплитуду колебаний отражателя измеряют лазерным интерферометром 7. По измеренным параметрам решающий блок 13 подсчитывает градуировоч- ный коэффициент К™ по формуле

.

Описанную процедуру при градуировке повторяют для всего диапазона амплитуд, при которых испытывают деталь. Результаты расчета высвечиваются на цифровом дисплее 14 или могут направляться на ЭВМ.

Формула изобретения

Способ градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды механических колебаний, заключающийся в том, что освещают объект, задают ему калибровочные колебания, регистрируют показания измерителя и определяют градуировочный коэффициент как отношение показаний измерителя к амплитуде калибровочных колебаний, отличающийся тем, что, с целью повышения точности градуировки при измерении колебаний в труднодоступных местах, между объекто.м и измерителем устанавливают зеркало, а калибровочные колебания задают с помощью зеркала.

Изобретение относится к измерительной технике для градуировки измерителей и может быть использовано при дистанционном измерении параметров механических колебаний в труднодоступных местах. Цель изобретения - повьииение точности достигается тем, что нри градуировке измерителя используют имитатор вибрации. После настройки и юстировки оптической системы вибратору 4 и отражателю 3 придают колебания с требуе.мой а.мплитудой. На отражатели 3 и 12 направляют лучи света от .чазеров 1 и 8 соответственно. При колебаниях отражателя 3 тень от объекта 2 перемешается вдоль щелевой диафрагмы 5. .Амплитуду колебаний Аф отражателя 3 измеряют лазерным интерферометром,. По измеренным параметрам решающий блок 13 подсчитывает граду ировочныи 1 ил. коэффициент Крр по формуле