00
оо сд
I Изобретение относится к оптике 1рассеиваю1дих сред и может быть ис- 1польэовано для измерения оптических постоянных взвесей порошкообразных материалов, пигментов, веществ, на- ;ходя1цихся в дисперсном состоянии, определения отражательной способнос- ти слоя рассеивающей среды. j Целью изобретения является повышение точности определения коэффициента отражения рассеивающей среды.
Сущность способа заключается в том, на кювету с рассеивающей средой направляют коллимированный поток светового излучения, измеряют интенсивность падающего и отраженного пото- 1ков и по их отношению судят о коэффициенте отражения, после измерения интенсивностей потоков накладывают зеркальную подложку по крайней мере ла одну из боковых граней кюветы и повторяют измерение интенсивности отраженного потока, сравнивают полученные значения интенсивностей отра- ;кенных потоков и в случае их неравен |:тва увеличивают число -зеркальных подложек, устанавливаемых по перимет )у кюветы, до получения максимального значения интенсивности отраженно- )-о потока, которое используют для определения отношения интенсивности отраженного потока и интенсивности падающего
Пример, Проводят определение 1соэффициента отражения слоя взвеси частиц полистиролового латекса. Диаметр частиц полистирола 0,44 мкм„ Используют стандартную схему измере- ия: источник коллимированного тепло фого излучения , полупрозрачное зер- , кювета прямоугольного сечения, : еркальные подложки, интерференцион- светофильтр с полосой пропуска- () нм. Интенсивность (;ветовых потоков измеряют с помощью фЭУ-79, Измеряют коэффициенты отраже слоев, которые характеризуются 1|1родольной оптической плотностью fy 6,10 и 20, при поперечной опти- еской плотности и Интен (Ьивность падающего потока поддержива фт постоянной. При этом необязатель- Ло характеризовать слой его оптичес- itHMH размерами. Их можно заменить
на эквивалентные геометрические размеры (50X50X50 мм), Концентрация частиц 1/см, Величина отраженного с светового потока без подложек
240 тКА, Устанавливают зеркальную подложку на боковую грань кюветы и вновь измеряют отраженный световой поток, который равен 300 тКА, Третья
0 подложка, установленная на боковую часть кюветы, изменяет отраженный поток, который равен 350 тКА, Второе и третье значения отраженных потоков довольно близки по своему значению,
5 Поэтому устанавливают еще одну под- ложку. Величина отраженного светового потока 290 тКА, Это происходит вследствие интенсивного ухода квантов в направлении проходящего свето0 вого потока, так как t y мало. Коэффициент отражения рассчитывают по третьему максимальному значению потока. Его величина равна 0,35, Аналогично проводят измерения для кювет
5 других размеров - 50 50X50 и 50 X X50X25 мм ,
Формула изобретения
0 Способ определения коэффициента отражения рассеивающей среды, заключающийся в тон, что на кювету с рассеивающей средой направляют коллимированный поток светового излучения,
с измеряют интенсивность падающего и отраженного потоков и по их отношению судят о коэффициенте отражения, отличающийся тем, что, с цепью повьш1ения точности определеQ ния коэффициента отражения, после измерения интенсивности потоков накла- дывают зеркальную подложку по крайней мере на одну из боковых граней кюветы и повторяют измерения интен5 сивности отраженного потока, сравнивают полученные значения интенсивностей отраженных потоков и в случае их неравенства увеличивают число зеркальных подложек, устанавливаемых
по периметру кюветы, до получения -: максимального значения интенсивности отраженного потока, которое используют дпя определения отношения интен- сивности отраженного потока к интенсивности падающего
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ определения оптической плотности рассеивающей среды | 1985 |
|
SU1312455A1 |
Способ определения вероятности выживания кванта в дисперсных средах | 1987 |
|
SU1476355A1 |
Способ определения формы индикатрисы рассеяния светового излучения | 1986 |
|
SU1409899A1 |
Двухлучевой фотометр | 1987 |
|
SU1476324A1 |
Способ контроля эффективной толщины планарного оптического волновода | 1983 |
|
SU1224766A1 |
ПРИБОР ДЛЯ МОНИТОРИНГА ПАРАМЕТРОВ ВЗВЕШЕННЫХ ЧАСТИЦ | 1996 |
|
RU2106627C1 |
УСТРОЙСТВО ЭКСПОНИРОВАНИЯ ПРИ ФОРМИРОВАНИИ НАНОРАЗМЕРНЫХ СТРУКТУР И СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ НАНОРАЗМЕРНЫХ СТРУКТУР | 2010 |
|
RU2438153C1 |
ФОТОКОЛОРИМЕТР-РЕФЛЕКТОМЕТР | 1999 |
|
RU2154260C1 |
УСТРОЙСТВО ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО СВЕТОДИОДА | 2013 |
|
RU2545492C1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДИАГНОСТИКИ ЖИДКИХ СРЕД В ПРОЦЕССЕ АМПЛИФИКАЦИИ И/ИЛИ ГИБРИДИЗАЦИИ | 2007 |
|
RU2406764C2 |
Авторы
Даты
1988-07-07—Публикация
1986-11-18—Подача