Гониометр для измерения кристаллов Советский патент 1988 года по МПК G01B9/10 

Описание патента на изобретение SU1415051A1

01

о ел

Изобретение OTHOQHTCH к измери- ;тельной технике и может испопьзовать ;ся при оценке качества кристаллов пр :их получении И обработки.

Цель изобретения - повьшение производительности измерения путем материализации оси вращения гониометра с помощью осветителя и измерения реф:лексов от контролируемого среза крисj талла на экране.

j На чертеже приведена принципиальI нал схема устройства,

I Устройство содержит основание 1,

i столик 2 с лимбом 3, центрирующие салазки 4, отсчетное приспособление 5, каретку 6, установленную на столи- кб 2 параллельно ему, кристаллодержатель 7, соединенньш с кареткой 6, дуговой сектор 8, установленный с воз- можностью перемещения, второй лим (не показан), соединенньй с дуговым сектором 8, осветитель 9, измерительный узел, включшощшЧ второй осветитель Ш и экран 11, и отсчетное приспособление 12, Кроме того, пбказан кристалл 13.

Оси осветителей 9 и 10 .лежат в плоскости оси вращения столика 2 и пересекаются с ней в центре кривизны дугового сектора 8.

Дуговой сектор 8 перемещается . вдоль оси параллельной оси вращения столика 2.

Гониометр работает следующим образом.

Предварительно размещают кристалл 13 в кристаллодержателе 7 так, что одна из его осей параллельна оси вращения столика 2, Включают осветитель

9и задают им ось вращения столика 2. Перемещая кар.етку 6 по двум взаимно перпендикулярным направлениям, с помощью центрирующих салазок 4 центрируют измеряем-ую грань, приводя ее на ось столика гониометра. После чего включают второй осветитель 10 и приводят его световой пучок на измеряемую грань кристалла 13,, перемещая дуговой сектор В,

Перемещают измерительный узел (второй осветитель 10 и экран 11) вдоль дугового сектора 8 до.тех пор, пока центр световой картины. формируемой отраженным пучком осветителя

10от контролируемой грани кристалла 5, на экране 11 не совместится с его центром (центром отверстия, через которое работает осветитель),

д

5 0 5

о

5

0

5

По достижении совпадения центра световой картины с центром экрана 11 по отсчетным приспособлениям снимают угловые координаты: по.первому лимбу - азимутальный угол, а по второму лимбу - угломестный угол. Затем последовательно устанавливают все подлежащие измерению грани кристалла 13, аналогично первой и повторной операций указанные для. этой- грани.

Для получения меньгаих искажений световых фигур, характерных для каждого класса кристаллов, их наблюдают на экране сферической формы, центр кривизны которого совпадает с центром, дугового сектора, расположенного при измерениях на контролируемой грани.

Формула изобретения

1.Гониометр для измерения кристаллов, содержащий основание, столик, установленный на основании с возможностью поворота вокруг своей геометрической оси, лимб, соединенный со столиком, приспособление для измерения угла поворота столика, каретку, установленную на столике с возможностью осевого перемещения в плоскости, перпендикулярной оси вращения столика, кристаллодержатель, соединенньй

с кареткой, дуговой сектор, располо- женньй перпендикулярно столику, второй лимб с отсчетным приспособлением, соединенный с дуговым сектором, и измерительный узел, установленньш на дуговом секторе с возможностью перемещения вдоль него,.отличаю- щ и и с я тем, что, с целью повышения производительности измерения, он снабжен осветителем, установленным на дуговом секторе вдоль оси вращения- столика, измерительный узел выполнен в виде осветителя и экрана с измерительной сеткой, установленного коак- сиально осветителю и перпендикулярно его оси, измерительньй узел установлен так, что его ось находится в одной плоскости с осью вращения столика и пересекается с ней в центре дугового сектора, а последний установлен с возможностью перемещения вдоль оси, параллельной оси вращения столика.

2.Гониометр поп.1, отличающийся тем, что., с целью повьпления точности, экран вь полнен сферическим с центром кривизны, сов- падающим с центром дугового сектора.

Y////// // //////// 1

ю

Похожие патенты SU1415051A1

название год авторы номер документа
Оптический инверсор-гониометр 1986
  • Уплисашвили Джумбер Макарович
SU1330458A1
Гониометр 1990
  • Ратинский Виктор Менделевич
  • Иванова Ирина Ивановна
  • Троицкий Николай Соломонович
SU1747874A1
Способ определения разориентировки среза кристалла 1986
  • Любалин Марк Дмитриевич
  • Третьяков Вячеслав Николаевич
  • Кукуй Анатолий Львович
  • Баранов Александр Нефедьевич
SU1428914A1
РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР 1970
SU270290A1
Способ измерения распределения толщины волноводной пленки и устройство для его осуществления 1984
  • Аникин Виталий Иванович
  • Дерюгин Лев Николаевич
  • Осадчев Леонид Алексеевич
  • Половинкин Александр Николаевич
  • Семенов Евгений Валерианович
SU1320659A1
Устройство для контроля углов 1989
  • Киселев Николай Дмитриевич
  • Копейченко Владимир Михайлович
  • Цепелев Михаил Константинович
  • Цветков Николай Тимофеевич
SU1758426A1
Устройство для измерения величины зональных аберраций параболоидных вогнутых поверхностей изделий 1981
  • Штандель Станислав Константинович
  • Близнюк Юрий Александрович
SU974116A1
Автоматизированный гониометр 1982
  • Зайцев Иван Иванович
  • Хачитурян Александр Григорьевич
SU1196685A1
Осветительное устройство 2021
  • Боос Георгий Валентинович
  • Коробко Алексей Александрович
  • Смирнов Михаил Владимирович
RU2789206C1
Гониометр 1976
  • Бирулин Александр Иванович
  • Власенко Олег Сергеевич
  • Спивак Анатолий Васильевич
SU616530A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 415 051 A1

Реферат патента 1988 года Гониометр для измерения кристаллов

Изобретение может использоваться для оценки качества кристаллов при их получении и обработке. Целью изобретения является повышение производительности измерения путем материализации оси вращения столика гониометра с помощью осветителя и измерения рефлексов от контролируемого среза кристалла на экране. Формируют пучок от осветителя, расположенного на дуговом секторе вдоль оси вращения столика гониометра. Подводят изучаемый срез кристалла под пучок осветителя, перемещая его с кристал- лодержателем с помощью каретки, расположенной на столике. После этого включают второй осветитель измерительного узла, расположенного также на дуговом секторе и установленного с возможностью перемещения вдоль него. Отраженный его пучок света наблюдают на экране измерительного узла, коаксиально расположенном осветителю. Кроме того, наблюдаются световые фигуры, характерные для измеряемого кристалла. Перемещая измерительный узел вдоль дугового сектора, приводят центр симметрии световой фигуры в центр экрана. По лимбу сотсчетными приспособлениями измеряют азимутальные углы, по значениям которых судят о контролируемом параметре, например ориентации среза кристалла относительно его кристаллографической оси. 1 з.п. ф-лы, 1 ил. 2 s

Формула изобретения SU 1 415 051 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1988 года SU1415051A1

Флинт Е.Е
Практическое руководство по геометрической кристаллографии
- М., 1956, с
Устройство для отыскания металлических предметов 1920
  • Миткевич В.Ф.
SU165A1

SU 1 415 051 A1

Авторы

Любалин Марк Дмитриевич

Третьяков Вячеслав Николаевич

Горохова Валентина Петровна

Даты

1988-08-07Публикация

1987-01-16Подача