Способ селективного подсчета частиц с разной длиной контура Советский патент 1961 года по МПК G01N15/02 G01N21/00 

Известные способы селективного подсчета частиц не обеспечивают автоматизацию процесса, в связи с чем они не могут гарантировать исключения субъективных ошибок, искажающих действительное количество частиц.

В предлагаемом способе поиск частиц осуществляется с помощью строчного растра электронно-лучевой трубки с управляемым расстоянием между строками, которое изменяют в зависимости от размера частиц. После выявления всех частиц данного размера, находящихся в поле зрения, длину контура определяют по частоте огибающей напряжения, возникающего на выходе следящей развертки при обходе лучом по контуру анализируемой частицы. Это отличие позволило автоматизировать процесс подсчета и увеличить его точность.

На чертеже приведена принципиальная схема устройства для осуществления предлагаемого способа.

Луч с электронно-лучевой трубки / проектируется через анализ руемое изображение 2 на фотоэлемент 3, сигналы с которого усиливаются усилителем 4. Движение анализируемого луча вдоль изображения осуществляется с помощью строчной 5 и кадровой 6 разверток.. Сигнал, появившийся на выходе ограничителя 7, размыкает ключи 8, 9, отключая при этом накопители 10, 11, предназначенные для запомин.-лния координат точек начала обхода контура частицы, от накопителей 12, 13. Одновременное появление сигналов на выходах блоков совпадения 14, 15 свидетельствует о попадании луча в точку начала обхода контура (блоки 14, 15 подключены к накопителям 10, 11 и 12, 13). В этот момент срабатывает блок 16 совпадения, сигнал с которого попэдает на пересчетную схему 17.

Пересчетная схема размыкает ключ 18 на время, достаточное для схола луча с контура. Сигналы с ограничителя 7 попа.цают также через