Способ контроля качества плоских изделий с отверстиями Советский патент 1988 года по МПК G01B11/02 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности для контроля качества печатных плат и других плоских изделий с отверстиями произвольной формы, а также для сравнения любых бинарных транспарантов, например, от- печэтков, пальцев, осциллограмм и т.д.JO

Цель изобретения - расширение области использования за счет обеспечения возможности контроля бинарных транспарантов и повышение информатив- ности контроля за счет того, что все и правильные отверстия, количество ко- торых велико (может измеряться сотня- ми штук), становятся невидимыми и не мешают видеть неправильные отверстия, количество которых невелико,а также 2п за счет того, что можно различать недостающие и лишние отверстия для исправления изделия или анализа функции, изображенной на контролируемом транспаранте, (т.е. позволяет 25 знать не только наличие неправильностей, но и их характер).

На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующего способ контроля качества плоских изделий с отйерстиями.

Устройство содержит камеры 1 и 2, полупрозрачное зеркало 3, блок 4 питания и регулятор 5. В одной камере 1 установлены источник 6 света, матовое стекло 7 и эталон 8, а в другой 35 камере 2 установлены источник 9 света,, матовое стекло 10 и контролируемое изделие 11.

Способ осуществляют следующим образом,

Освещают эталон 8, в качестве которого используют его негатив, световым потоком от источ гика 6 света через матовое стекло 7, а контролируемое изделие 11 - световым потоком от 45 источника 9 света через матовое стекло 10, Наблюдая через полупрозрачное зеркало 3, совмещают изображения эталона 8 и контролируемого изделия 11 по их базовым элементам (не показа 50 ны), .в качестве которых могут быть отверстия для крепления кромки (края) либо стороны, от которых ведется раз30

O

п 5

5

5 0

0

метка изделия. Изменяя мощность блока 4 питания с помощью регулятора 5, добиваются изменения освещенности одного из световых потоков (или от источника 6 света, или от источника 9 света) до тех пор, пока изображе- ния базовых элементов станут невидимыми, по оставшимся в поле зрения темнь1м пятнам судят о недостающих элементах и недостающих частях элементов, а по светлым пятным судят о лишних элементах и лишних частях элементов,

В случае необходимости недостающие и лишние отверстия можно отметить прямо на контролируемом изделии (например, карандашом, краской и т.п.) либо сделать фотоснимок. Во втором случае для облегчения нахозвдения координат неправильных отверстий на фотоснимке можно поместить в плоскости эталона 8 транспарант, на котором изображена координатная стека, состоящая из тонких черньгх взаимно перпендикулярных равноотстоящих друг от друга линий.

Формула изобретения

Способ контроля качества плоских изделий с отверс тия и., заключающийся в том, что освещают эталон и контролируемое изделие световыми потоками, совмещают изображения эталона и конт- ролируемого изделия и судят о качестве контролируемого изделия, о т л и - чающийся тем, что, с целью расширения области использования за счет обеспечения возможности контроля бинарных транспарантов и повышения информативности контроля, используют в качестве эталона его негатив, освещение производят рассеянным световым потоком, совмещение изображений эталона и контролируемого изделия производят по их базовым элементам, после совмещения изображений изменяют освещенность одного из световых потоков до тех пор, пока изображения базовых .элементов станут невидимыми, а по оставшимся в поле зрения темным и светлым пятнам судят о качестве контролируемого изделия.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для контроля качества .печатных плат и других плоских изделий с отверстиями произвольной формы, а также для сравнения любых бинарных транспарантов, например от- пвчат1 ов пальцев, осциллограмм и т.д. Цель изобретения - расширение области использования за счет обеспечения возможности контроля бинарных транспарантов и повышения информативности контроляi поскольку способ позволяет знать не только наличие неправильностей, но и их характер. Освещают зта- лон 8, в качестве которого используют его негатив, световым потоком от источника 6 света через матовое 7, а контролируемое изделие.11 - световым потоком от источника 9 света через матовое стекло 10. Совмещают - ; изображения эталона 8 и контролируемого изделия 11 по их базовым элементам Изменяя мощность блока 4 питания с помощью регулятора 5, добиваются изменения освещенности одного из све- товых потоков до тех пор, пока изоб- ® ражения базовых элементов станут не- видимыми по оставшимся в поле зрения темным пятнам судят о недостающих элементах, а по светлым пятным судят о лишних элементах. 1 ил. 6 1