Зеркально-оптический способ исследования деформированного состояния моделей пластинок Советский патент 1961 года по МПК G01B9/08 

Известны зеркально-оптические способы исследоваиия деформироваиного состояния моделей пластинок, основанные на фотографировании линий экрана, отраженных в зеркальной поверхности модели (см. статью Bowen G, Shatter «Flat slab Dodvkdby mode Analysis Jonzna ACU № 6 ,за 1955 г.).

Однако известные способы не обеспечивают требуемой точности при исследовании. Кроме того, они трудоемки прп своем осуществлении.

Предлагаемый способ указанного недостатка не имеет. Это достигается тем, что для осуществления способа приме11яется оптический кривизномер, на экранной насадке которого нанесена базовая окружность с фиксированными диаметрами. Кривизна в каждой точке определяется по замерам отраженной и сфотографированной окрул ности экранной насадки в положениях до и после деформирования.

На фиг. 1 изображена схема осуществленияпредлагаемого способа; на фиг. 2 - оптический кривизномер в общем виде. К стоике / крепится рамка 2, в которой устанавливается исследуемая модель 3, изготовленная из упругого материала и имеющая с одпой стороны гладкую полированную поверхность.

Параллельно зеркальной поверхности модели устанавливается координатная рамка 4 с кареткой 5. Каретка перемещается по направляЕощим рамки и фиксируется винтами 6. По каретке о перемещается малая каретка 7, аналогичной конструкции. В каретке 7 крепится кривизномер 8: Так как на рамке 4 и каретке 5 имеются миллиметровые щкалы 9, то положение кривизномера 8 внутри контура координатно рамки каждый раз известно.

Кривизномер 8 состоит из длиннофокусного объектива 10 с установочным кольцом 11 диафрагмы. Объектив при помощи раздвижного

143580 ...-2- .

тубуса / крёпйтся к зеркальной узкопленочной фотокамере 13, имеющей пентап,р.изд1у /4,..позволяющую видеть прямое изображение объекта через окуляр У5.

На объектив надевается экранная насадка 16, на которой нанесена окружность с двумя; зафиксированными взаимно-перпендикулярными диаметрами.в центре экранной головки - отверстие. Так как при работе объектив диафрагмируется до относительного отверстия 1/32 и 1/64, отверстие в экранной насадке делается меньще диаметра линз объектива. Плоскость экранной насадки подсвечивается лампами.

Если модель пластинки не нагружена и ее отражающая поверхность не имеет искривлений, то линии экранной насадки без искажений отразятся в модели и могут быть сфотографированы. После приложения нагрузки произойдет деформация модели и отражающая ее поверхность известным образом искривится. Это повлечет за собой искажение отраженных линий экранной насадки. В таком положении производится вторичное фотографирование.

По имеющемуся заключению предлагаемый способ прост в обращении и позволяет определять кривизну в любой точке модели с погрешностью, значительно меньшей, чем в существующих способа.х.

Предмет изобретения

Зеркально-оптический способ исследования деформированного состояния моделей пластинок, основанный на фотографировании линий экрана, отраженных в зеркальной поверхности модели, отличающийся тем, что, с целью повыщения точности и уменьщения трудоемкости, используется оптический кривизномер, на экранной насадке которого нанесена базовая окружность с фиксированными диаметрами, а кривизна в каждой точке определяется по замерам отраженной и сфотографированной в положении до и после деформирования окружности экранной насадки.