Одноступенный способ копирования диффракционных решеток и эшелетт Советский патент 1962 года по МПК G02B5/18 

Известные способы копирования дифракционных решеток и эшелетт являются двухступенными, так как требуют изготовления негативного отпечатка на полимерной пленке, которая сравнительно легко деформируется при получении позитивного отпечатка на слое желатина.

Изготовленные подобными способами копии решеток пригодны лишь для использования в спектральных приборах малой и средней дисперсии.

В предлагаемом способе исходную решетку приклеивают к подложке копии синтетической смолой холодного отвердения, и отпечаток на слое твердой смолы отделяется от исходной решетки путем временной деформации подложек. Это позволяет обеспечить высокую точность копирования и получить негативные пленки, пригодные для использования в спектральных приборах высокой дисперсии.

В соответствии с предлагаемым способом исходную плоскую дифракционную решетку или эшелетт приклеивают к подложке получаемой копии. В качестве клея используют различные синтетические смолы холодного отвердения, например, полиэфирную смолу. Отпечаток на слое твердой смолы отделяют от исходной решетки путем временной деформации подложек.

Полученную копию после отделения от исходной решетки нагревают до 100° и для повышения коэффициента отражения покрывают слоем алюминия.

Копии вогнутых дифракционных решеток получают в два приема - сначала получают первичную копию на подложке с выпуклой поверхностью, а затем ее используют для получения вторичных вогнутых копий, что обеспечивает высокое качество получаемых негативных копий и сохраняет возможность многократного копирования каждой получаемой копии.

Одноступенный способ копирования дифракционных решеток и эшелетт обеспечивает получение отражательных копий, имеющих 100,

№ 146071

300, 600 и 1200 штрихов на мм, размер заштрихованной площади до 150X150 мм и копии эшелетт от 1 до 50 штрихов на мм. Копии сравнимы с исходной решеткой по разрешающей способности и распределению энергии по порядкам спектра. Количество копий, которые можно получить с одной решетки, не ограничено, так как получепная копия может быть использована в качестве исходной решетки для получения вторичных, третичных и т. д. копий.

Негативные копии дифракционных решеток и эшелетт, получаемые по описанному способу, могут найти применение в спектральных приборах высокого класса.

П.редмет изобретения

Одноступенный способ копирования дифракционных решеток и эшелетт, отличающийся тем, что, с целью получения негативной копии, .пригодной для использования, исходная решетка приклеивается к подложке копии синтетической смолой холодного отвердения, и отпечаток на слое твердой смолы отделяется от исходной решетки путем временной деформации подложек.