Способ регистрации неоднородностей в плоских диэлектрических материалах с шероховатой поверхностью Советский патент 1989 года по МПК G03B41/00 

Изобретение относится к технике неразрушающего контроля диэлектрических материалов. Целью изобретения является повышение точности локализации проводящих включений в образце. Сущность способа состоит в следующем. Образец материала размещают на поверхности одной из обкладок 10 измерительного конденсатора (ИК). Второй обкладкой ИК служит прозрачное проводящее покрытие 9,на поверхности стеклянной крьшки 8, На обкладки ИК можно подавать высокочастотное напряжение с частотой, близкой к резонансной частоте контура с ИК. Между диэлектрической сеткой 13 и покрытием 9 размещают фотоматериал, например фотопленку, которая экспонируется свечением разряда. Перед экспозицией определяют нижние значения напряжения разряда, при котором свечение равномерно покрьшает всю поверхность образца и стабильно. Затем отводят электрода друг от друга на расстояние, равное (3-5) h, где h - высота шероховатостей на поверхности образца. Затем гасят разряд, не меняя настройку источника напряжения, вставляют фотоматериал между сеткой 13 и покрытием 9 и зажигают разряд при той же настройке источника, при которой он был погашен. После экспозиции и проявления изображения судят о местах локализации проводящих вкляг- чений в материале. 2 ил. а Ф (Л

сриг,1