Балансная схема для поляриметрических измерений Советский патент 1989 года по МПК G02B5/30 

15

14

/

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для поляриметрических измерений, а также для измерения магнитных характеристик материалов. Балансная схема содержит поляризационную призму 1, выполненную в виде двух прямоугольных клиньев 2,3 из плавленного кварца, диагональные грани которых соединены, например склеены, между собой через прослойку 4 из оптически полупрозрачного материала. К выходным граням призмы 1 приклеены поляроидные пленки 5,6, например, склеивающим материалом 7, нанесенным по периметру пленок, причем азимуты пленок 5,6 взаимно ортогональны. Кроме того, в состав схемы входят два фотоприемника 8,9, включенных встречно на общую нагрузку 10. Поляризованное излучение 11, пройдя через исследуемый образец 12, на выходе призмы 1 делится на два пучка с равной интенсивностью и с взаимно ортогональной поляризацией. При этом встречное включение фотоприемников 8,9 обеспечивает компенсацию погрешностей, обусловленных относительно низкой степенью поляризации пленок 5,6, благодаря чему применение призмы 1 с небольшой стоимостью не приводит к снижению точности измерений. 3 ил.