Ю. В. Сахаров, А, А. Алешков и Б. М. Юдович
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ
ЭЛЕКТРОННО-ДЫРОЧНОГО ПЕРЕХОДА
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ, НАХОДЯЩИХСЯ
Заявлено 27 мая 1961 т. за Л 732234/26 в Комитет по делал изобретений и открытий при Совете Мннист)ов СССР
Опубликовано в «Бюллетене изобретений Н 20 за 1962 г.
Известные способы определения температуры электронно-дырочного перехода полупроводниковых приборов в силу инерционности температурных датчиков не позволяют быстро и точно контролировать температуру электронно-дырочного перехода в перегрузочном режиме, продолжительность которого часто составляет сотые доли секунды.
Описываемый способ практически безынерционен и поэтому не имеет указанных недостатков.
Способ основан на изменении времени жизни неосновных носителей тока в полупроводниковом материале (из которого изготовлен прибор) в зависимости от температуры.
Это упрощает процесс измерения особенно при массовой проверке однотипных полупроводниковых приборов.
На чертеже изображена блок-схема измерительной установки, поясняющей описываемый способ.
Исследуемый полупроводниковый фибор (вентиль) / включается в силовую цепь, состоящую из силово-го трансформатора 2, прерывателя 3 (механического, ионного и т. п.) и нагрузки 4.
Измерительная часть представляет собой обычную схему для измерения времени жизни неосновных носителей тока по переходной характеристике электронно-дырочного перехода и состоит из: генератора 5 импульсов, импульсного осциллографа 6 и устройства 7, включающего делитель, ограничитель и переключатель.
Прерыватель 3 .синхронизован с трансформатором таким образом, что он пропускает ток в прямой полупериод и разрывает силовую цепь при прохождении прямого тока через нуль, обесточивая ис:ледуемый вентилг; 1 в течение всего обратного полупериода.
С трансформатором 2 синхронизован также генератор 5 импульсов. Запуск его происходит по истечении некоторого времени после прекраПОД НАГРУЗКОЙ
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ | 2006 |
|
RU2318218C1 |
Способ определения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниковых приборах с @ - @ переходами | 1982 |
|
SU1092436A1 |
Способ измерения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниковых р-п переходах | 1980 |
|
SU951198A1 |
Способ измерения критической чистоты коэффициента усиления по току и эффективного времени жизни неосновных носителей полупроводниковых триодов | 1960 |
|
SU134728A1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В АКТИВНОЙ ОБЛАСТИ СВЕТОДИОДА | 1990 |
|
RU2018993C1 |
Автономный инвертор | 1974 |
|
SU567197A1 |
СПОСОБ СТАБИЛИЗАЦИИ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ИМПУЛЬСНОГО ГЕНЕРАТОРА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ | 1996 |
|
RU2119213C1 |
РЕВЕРСИВНО-УПРАВЛЯЕМЫЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР | 1986 |
|
RU2006992C1 |
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЛИНЫ ДИФФУЗИИ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИНКАХ | 2015 |
|
RU2578731C1 |
Устройство для измерения времени жизни неосновных носителей полупроводниковых приборов | 1977 |
|
SU748250A1 |
Авторы
Даты
1962-01-01—Публикация
1961-05-27—Подача