Устройство для контроля толщины прозрачной лаковой пленки Советский патент 1962 года по МПК G01B7/06 G01B11/06 

Известны устройства для контроля толщины нрозрачной лаковой пленки в процессе ее нанесения на поверхность изделия оптическим методом с помощью фотоэлектрической системы, содержащей источник света, оптическую систему и фотоэлемент, освещаемый светом источника, отраженным от поверхности покрытого лаком изделия.

В описываемом устройстве для повышения точности измерения и возможности непосредственного отсчета значения толщины плепки использованы две фотоэлектричеокие системы, фотоэлементы которых освещены светом, отраженным-один от покрытой лаком поверхности изделия, а другой-от его чистой поверхности. Кроме того, эти фотоэлементы включены дифференциально в цепь измерительного прибора, один- непосредственно, а другой-через схему задержки времени для совмещения по Временп обоих сигналов.

На чертеже изображена схема описываемого устройства.

Устройство для контроля толщины прозрачной лаковой пленки в процессе ее нанесения на поверхность изделия включает в себя две фотсэлектрические системы 1 ц 2. Каждая из систем содерж.ит соответственно источник света 3 и 4 оптическую систему 5 и (Р и фотоэлемент 7 и 8. Фотоэлемент 7 освещен светом, отраженным от покрытой лаком 9 поверхности изделия 10, а фотоэлемент 8-от чистой поверхности последнего. Эти фотоэлементы включены дифференциально в цопь измерительного 1прибора /У, причем фотоэлемепт 7-непосредственно, а фотоэлемент 8-через схему 12 задержки врел1ени.

Принцип измерения толщины плепки основан на законах Бера и Бугера, связывающих поток лучистой энергии, падающий и прощедщий через среду определенной толщины. Поэтому константы, входящие в эти законы (например, коэффициенты рассеяния лака, отражения чистой поверхности изделия и др.), определяю.тся экспериментально и учитываются при тарировке устройства. В -Toone ct контроля