Способ определения предельно допустимой растягивающей нагрузки для световодов и световодных кабелей Советский патент 1989 года по МПК G01M11/08 

Изобретение относится к методам испытания световодов и световодных кабелей на механическую устойчивость.

Цель изобретения - повьшение достоверности определения путем регистрации динамики развития дефектов в процессе нагружения образца.

На фиг.1 изображена схема устройства для осуществления предлагаемого способа; на фиг.2 - кривые зависимости затухания от длины волны зондирующего излучени я после различного количества циклов нагружения} на фиг.З - кривая, поясняющая динамику роста размеров микродефектов в процессе нагружения .

Устройство для осуществления предлагаемого способа содержит силоизмери- тель 1, направляющие ролики 2, изгибающие ролики 3, ползун 4, натяжное приспособление 5, к которому прикрепляют испытываемый образец 6. Другой конец образца 6 закреплен в силоизме- рителе 1о Кроме того, устройство содержит полихроматический источник 7 света, дифракционную решетку 8 и привод 9 ее поворота, а также входную щель 10.

Эти элементы расположены со стороны силоизмерителя 1. Со стороны натяжения приспособления 5 расположены фотоприемник 11, усилитель 12 и блок 13 регистрации.

Способ осуществляют, следующим образом.

Образец закрепляют одним концом в силоизмерителе 1, а другим - в натяжном приспособлении 5, пропустив предварительно образец 6 через направляющие 2 и изгибающие 3 ролики. Затем натяжным приспособлением 5 соз- . дают растягивающую нагрузку. После

ел

3,151

этого ползун 4 совершает некоторое количество возвратно-поступательных движений изгибая образец 6 на одном ролике 3 в одну сторону-, а на другом ;ролике 3 - другую сторону. Затем производят измерения пропускания образцом 6 излучений с различными длинами

волн в диапазоне от Л дo

максЭто

излучение получают от полихроматического источника 7 с помощью поворотной дифракционной решетки 8. При колебании дифракционной решетки 8 под действием привода 9 через входную щель 10 последовательно проходят составля- |кицие с различными длинами волн в диапазоне Aj, - Д ддацс , задаваемого диапазоном углов поворота дифракционной |решетки 8. Прошедшее через .образец 6 излучение детектируется фотоприемником 11, усиливается усилителем 12 и рег 1стрируется в блоке 13, которьм синхронизирован с приводом 9 поворота дифракционной решетки 8. После снятия |кривой зависимости прохождения излу- :чения через образец 6 от длины волны |излучения цикл нагружения повторяют |и производят вторичное измерение про- шускание указанным образом.

: Длины , , Tv и А-з. волн, при которых затухание зондирующего излучения при прохождении излучением образца 6 Достигает максимума (кривые 14-16 на фиг.2), определяют характерный размер

4

дефектов в материале образца 6 при различном числе N циклов нагружения. Зависимость динамики роста микродефектов в волоконных световодах при механическом нагружении позволяет сделать выводы о механизме деградации материалов образца 6 и предсказать изменение затухания излучения

после прохождения образца 6 при повторении циклов нагружения.

Формула изобретения

Способ определения предельно допустимой растягивающей нагрузки для световодов и световодных кабелей, включающий растяжение образца и знакопеременный его изгиб, определение допустимой нагрузки по величине затухания сигнала, отличающий- с я тем, что, с целью повышения достоверности определения путем регист- рации динамики развития дефектов в процессе нагружения образца, затуха- ние сигнала определяют в режиме сканирования по длинам волн пропускаемого через световоды излучения, регистрируют максимумы эатухания на каждой длине волны и по Зависимости затухания от длины волны зондирующего излучения после различного количества циклов нагружения судят о величине предельно допустимой растягивающей

нагрузки.

Изобретение относится к методам испытания световодов и световодных кабелей на механическую устойчивость и позволяет повысить достоверность определения предельно допустимой растягивающей нагрузки для световодов и световодных кабелей. Затухание в световодах после заданного количества циклов нагружения определяют в режиме сканирования по длинам волн пропускаемого через световоды излучения и по зарегистрированным максимумам затухания судят о характерных размерах микродефектов в световодах и динамике их развития в процессе нагружения образца. 3 ил.

фиа1

///////////

Фиг. 2

20 30 фиг.З