Устройство для измерения диаметра изделий Советский патент 1989 года по МПК G01B11/08 

Описание патента на изобретение SU1516774A2

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, предназначенной для контроля диаметра, может быть использовано в металлургической промышленности для контроля диаметра проволоки rt является усовершенствованием изобретения по основному авт.св. № 1330460.

Цель изобретения - расширение эксплуатационных возможностей за счет обеспечения возможности измерения изделий с диаметром различной величины.

На фиг. 1 изображена фронтальная проекция устройства; на фиг. 2 - то же,вид сверху; на фиг. 3 - держатель с эталонным растром.

Устройство содержит эталонный растр 1, измерительный растр 2, полупрозрачный экран 3, оптическую систему 4. Проволока 5, диаметр которой измеряют, намотана на катушку 6. При этом эталонный растр 1 и полупрозрачный экран 3 расположены в плоскости изображения оптической системы 4, а измерительный растр расположен в плоскости, параллельной плоскости изображения. Механизм 7 для деформации эталонного растра 1-снабжен микрометрическим винтом 8.

Устройство работает следующим образом.

Витки контролируемой проволоки 5, плотно намотанные на катушку 6, освещаются источником излучения (не показан) и с помощью оптической системы 4 проецируются на полупрозрачный экран 3. При этом проекция витков проволоки 5 образует на полупрозрачном экране 3 р.астр. В результате взаимодействия измерительного раст- ра 2 с р астром на экране 3 и эталонСП

Од

sl

4;

го

315

ным растром 1, расположенным в плоскости изображения оптической системы 4 и имеющего частоту штрихов, соответствующую диаметру эталонной проволоки, образуются две муаровые картины. Анализируя полученные муаровые картины, определяют диаметр проволоки 5.

При изменении диаметра изделия шаг эталонного растра 1 приводится в соответствие с шагом растра на полупрозрачном экране 3 при помощи механизма 7 для деформации растра 1.

Изменением шага эталонного растра 1 добиваются идентичности двух муаровых картин, полученных в результате взаимодействия измерительного 2 и эталонного 1 растров, и измеритель16774

ного растра 2 и растра на полупрозрачном экране 3, а о величине диаметра проволоки 5 судят по изменению шага эталонного растра 1, который определяется при помощи микрометрического винта 8.

Формула изобретения

Устройство для измерения диаметра изделий по авт. св. № 1330460, о т- личающееся тем, что, с целью расширения диапазона типоразмеров контролируемых диаметров, эта- лонньй растр выполнен на эластичной основе и установлен с возможностью деформации в направлении, перпендикулярном его штрихам.

Похожие патенты SU1516774A2

название год авторы номер документа
Устройство для измерения диаметра изделий 1986
  • Бахматов Юрий Федорович
  • Кайзер Артур Викторович
  • Товарницкая Ольга Ивановна
SU1330460A1
Способ определения геометрических размеров изделия 1986
  • Бахматов Юрий Федорович
  • Кайзер Артур Викторович
SU1308831A1
Способ получения и фиксирования картины муаровых полос 1989
  • Колмогоров Герман Леонидович
  • Конников Герман Германович
  • Скиба Константин Викторович
  • Ширинкин Сергей Николаевич
  • Макарова Луиза Евгеньевна
SU1716323A1
Устройство для измерения деформаций тонкостенных оболочек 1981
  • Щербаков Юрий Константинович
SU991159A1
Способ определения углов поворота зеркальной поверхности 1985
  • Щербаков Юрий Константинович
SU1330461A1
Устройство для измерения деформаций тонкостенных цилиндрических оболочек 1981
  • Вербоноль Владимир Михайлович
  • Андреев Лев Вячеславович
SU991157A1
Способ контроля отклонения формы поверхности деталей сложной формы 1982
  • Казак Виктор Леонидович
  • Чебакова Ольга Викторовна
SU1065683A1
ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫЙ ЭЛЕКТРОННО-ПРОЕКЦИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ФОРМЫ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА 2001
  • Кузяков О.Н.
  • Кучерюк В.И.
RU2216710C2
Устройство для измерения формы и деформаций пластин 1977
  • Щербаков Юрий Константинович
SU696281A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТ ПЛОСКОСТНОСТИ ПОВЕРХНОСТИ 2004
  • Турухано Борис Ганьевич
  • Турухано Никулина
  • Добырн Владислав Вениаминович
RU2287776C2

Иллюстрации к изобретению SU 1 516 774 A2

Реферат патента 1989 года Устройство для измерения диаметра изделий

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в металлургической промышленности для контроля диаметра проволоки. Целью изобретения является расширение эксплуатационных возможностей за счет обеспечения возможности измерения изделий различного диаметра. Для этого эталонный растр выполнен на эластичной основе, а его держатель обеспечивает возможность деформации растра в направлении, перпендикулярном его штрихам. При изменении диаметра контролируемой проволоки частоту эталонного растра и, следовательно, эталонную муаровую картину изменяют путем растяжения основы растра, что позволяет использовать один эталонный растр для контроля проволоки различного диаметра. 3 ил.

Формула изобретения SU 1 516 774 A2

фаг./

Фиг. 2

Фие. J

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1989 года SU1516774A2

Устройство для измерения диаметра изделий 1986
  • Бахматов Юрий Федорович
  • Кайзер Артур Викторович
  • Товарницкая Ольга Ивановна
SU1330460A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 516 774 A2

Авторы

Бахматов Юрий Федорович

Кайзер Артур Викторович

Товарницкая Ольга Ивановна

Алексеев Алексей Николаевич

Даты

1989-10-23Публикация

1987-10-06Подача