Способ отбраковки потенциально нестабильных цифровых интегральных микросхем Советский патент 1989 года по МПК G01R31/317 

1525637

Изобретение относится к технике неразрушающего контроля, в частности к диагностике цифровых интегральных микросхем, и может быть использова- с но для контроля их надежности.

Цель изобретения - повышение достоверности отбраковки потенциально нестабильных цифровых интегральных микросхем за счет выявления дефектов, jo развивающихся при повышенной температуре.

На чертеже изображена схема устройтва для реализации предлагаемого спооба . 5

На чертеже приняты следующие обозначения : блок 1 программного Управения , блок 2 формирования кодового воздействия} измерительная головка 3, спытуемая цифровая микросхема А (ЦМС)20

нагреватель 5, эталонная ЦМС 6; пре - образователи 7 и 8 ток - напряжение, лок 9 вычитания, источники 10 и 11 питания, широкополосный усилитель 12i усилитель 13 с регулируемым коэффици-25 ентом усиления; квадратичный детектор 14; -усредняющий блок 15j индикатор .16,

Устро йство работает следующим об-, разом.

Блок 1 пр.ограммного управления вы-30 полняет функции приема, хранения перечня .команд программы контроля и управления .блоком 2 формирования кодового воздействия 2. Последний вырабатывает сигналы кодового воздейст- 5 ВИЯ, которые через измерительную головку 3 подаются на испытуемую и эталонную 6 ЦМС. Измерительная головка содержит контролирующие элементы для контролируемой и-эталонной цифро- Q вых микросхем, необходимые для создания условий контроля (буферные элементы, нагрузка, согласующие, развязывающие или преобразующие элементы), От источников 10 и 11 питание подает-дд ся соответственно на испытуемую А и эталонную 6 ЦМС. Одновременно напряжение с преобразователей 7 и 8 подается на блок 9 вычитания, который вырабатывает напряжение прямо пропорциональное разности токов потребления обеими микросхемами. Флуктуации напряжения усиливаются широкополосным усилителем 12 и усилителем 13 с регулируемым коэффициентом усиления.

Регулировка коэффициента усиления обеспечивает нормальную работу квадратичного детектора 1, усредняющего блока 15 и индикатора 16. Время усред50

55

не ле вр во пр че ст

по

кр те об и ра ци ни фл до си

ра ср ни ны сп но ра зу ту ми

ма из го та но сн ци эт пе ни

Ф

не ми на гр да им фл мо на ло ли

нения мощности флуктуации при контроле надежности устанавливается равным времени действия входного кодового воздействия. Для обнаружения неисправной цепи оно равно времени включения цепи после начала действия теста..

Способ осуществляется в следующей последовательности.

На контролируемую и эталонную микросхемы подают напряжение питания и тестовые воздействия. С помощью.преобразователей 7 и 8 ток - напряжение и вычитающего блоке 9 формируется разность сигналов напряжения, пропорциональных флуктуациям тока потребления микро,схем. Измеряют мощность флуктуации сформированной разности до и после нагрева микросхем до максимально неразрушающей температуры.

. Информативным параметром разность мощностей флуктуации, по, сравнению .которой с заданным значением производит отбраковку нестабильных микросхем. Возможно осуществление способа и без использования эталонной микросхемы., в этом случае вместо разности сигналов напряжения используют сигнал пропорциональный флуктуациям тока питания контролируемой микросхем.ы.

Для определения величины максимально неразрушающей температуры производят следующие операции: заведомо годную микросхему данного типа, считают пороговой, определяют максимально неразрушающую температуру путем снятия зависимости мощности флуктуации тока питания от температуры.При этом максимально неразрушающую температуру определяют в момент насыщения зависимости.

Формула изобретения

1. Способ отбраковки потенциально нестабильных цифровых интегральных микросхем, заключающийся в том, что на контролируемую и эталонную интегральные микросхемы одновременно подают напряжение питания и входное импульсное воздействие, преобразуют флуктуации тока питания контролируе- мой и эталонной микросхем в сигналы напряжения, формируют разность сигна-. лов напряжения от эталонной и контро лируемой микросхем и измеряют мощ 51525637.

ность флуктуации разности сигналовнагревом и после охлаждения контролинапряжений и выбирают ее в качестверуемой интегральной микросхемы и по

информативного параметра, о т л и-результату сравнения разности инфорчающийся тем, что, с целью по- ,мативных параметров с заданным знавышения достоверности отбраковки по-чением отбраковывают потенциально

тенциально ненадежных интегральныхнестабильные интегральные микросхемы, микросхем, нагревают контролируемую

интегральную микросхему до максималь-2, Способ поп. 1,отличаюно неразрушающей температуры, и вы- юЩ и и с я тем, что максимальную недерживают под нагревом заданное вре-разрушающую температуру определяют по

мя, охлаждают контролируемую инте-моменту-насыщения температурной загральную микросхему, измеряют инфор-висимости мощности флуктуации тока

мативный параметр, определяют раз-питания эталонной интегральной миность информативных параметров перед 151кросхемы.

Изобретение относится к технике неразрушающего контроля и может быть использовано для контроля надежности и отбраковки цифровых интегральных микросхем. Цель изобретения - повышение достоверности отбраковки. На контролируемую и эталонную микросхемы 4 и 6 одновременной подают напряжение источников 10 и 11 питания и через измерительную головку 3 заданную тестовую последовательность от блока 1 програмного управления и блока 2 кодового воздействия. Преобразователи 7,8 ток-напряжение в шинах питания и вычитающий блок 9 формируют разностный сигнал флуктуаций тока питания обеих микросхем. Измерение мощности флуктуаций разностного сигнала осуществляется до и после нагрева контролируемой микросхемы 4 до максимально- неразрушающей температуры с помощью микрополосного усилителя 12, регулируемого усилителя 13, квадратичного детектора 14 и усредняющего блока 15. Результат, отображенный на индикаторе 16, сравнивается с заданным значением. 1 ил.