Контактное устройство для контроля интегральных схем со ступенчатыми выводами Советский патент 1990 года по МПК H05K1/18 

121) 4308976/24-2J

(22) 22.09.87

(46) 23.04.90. Бюл. J5

(72) Л.Н. Петров, Б.А. Шпаков

и Б.И. Пасечник

(53)62.396.049(088.8)

(56) Авторское свидетельство СССР В 790049, кл. Н 01 L 23/72, J98G.

Авторское свидетельство СССР 943924 кл. HOI L 21, /66, 1982.

(54)КОНТАКТНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ СО СТУПЕНЧАТЫМИ ВЫВОДАМИ

(57) Изобретение относится к радиотехнике и может быть использовано для подключения интегральных схем в корпусе типа DIP, имеюших ступенчатую форму вывода. Целью изобретения является повышение надежности контактирования путем взаимодействия контакта со стуленькой на выводе контролируемой схемы. Интегральную схему 5 загружают в контактное устройство по направляющим 10, 1. В исходном состоянии контакты 2 находятся в разомкнутом положении с выводами 8 ИС5. Замыкание контактов 2 с выводами 8

Изобретение относится к радиотехнике и может быть использовано для подключения интегральных схем в корпуса типа DIP, имеющих ступенчатую форму вывода. Целью изобретения является повышение надежности контактирования путем взаимодействия контакта со ступенькой на выводе контролируемой схемы. Интегральную схему 5 загружают в контактное устройство по направляющим 10, 11. В исходном состоянии контакты 2 находятся в разомкнутом положении с выводами 8 ИС 5. Замыкание контактов 2 с выводами 8 интегральной схемы 5 производят с помощью механизма перемещения контактов. Для этого включают привод (не показан), под действием которого планки 3 перемещаются навстречу одна другой. При этом контакт 2 своими V-образными вырезами охватывает узкую часть вывода 8 на расстоянии ΔL от широкой части вывода микросхемы, создавая усилие контактирования P. При дальнейшем сближении контактов с выводами ИС в корпусе типа ДПР наружные края V-образного выреза, скользя по выводам ИС, взаимодействуют со ступеньками широкой части вывода микросхем. В результате взаимодействия в зоне контактирования возникает реакция N вывода, которая увеличивает контактное усилие и одновременно перемещает ИС на величину зазора ΔА. Дальнейшему перемещению препятствует направляющая 11. 2 п.ф. 5 ил.

/JJKSS

v5K3&Ј)

фиг /

интегральной схемы 5 производят с помощью механизма перемещения контактов . Для этого включают привод (не показан), под действием которого планки 3 перемещаются навстречу одна другой. При этом контакт 2 своими V-образными вырезами охватывает узкую часть вывода 8 на расстоянии А1 от широкой части вывода микросхемы, соз- давая усилие контактирования Р. При

дальнейшем сближении контактов с вывоi

. Изобретение относится к радиотехнике и может быть использовано для подключения интегральных схем в корпусах типа DIP, имеющих ступенчатую форму вывода.

Цель изобретения - повышение надежности контактирования путем взаимодействия контакта со ступенькой на выводе контролируемой схемы.

На фиг. 1 изображено предлагаемое контактное устройство для контроля интегральных схем (ИС)J на фиг. 2 - зона контактирования, сечение , на Фиг.З - взаимодействие V-образного выреза с заплечиками вывода ИС на фиг. 4 - начальная фаза контактирования I на фиг. 5 - конечная фаза контак тирования.

Контактное устройство содержит корпус 1 с размещенными в нем пружинящими Г-образными контактами 2 и механизм перемещения контактов, выполненный в виде планок 3, кинематически соединенных с приводом (не показан). На рабочих концах контактов выполнены V-образные вырезы 4 (фиг.2), Угол «Л между V-образующими составляет 90- П 0. Интегральная схема (ИС) 5 ступенькой 6 широкой части 7 своих выводов 8 взаимодействует с наружными краями 9 V-обрээного выреза контакт-1 Його устройства.

Устройство работает следующим образом.

ИС 5 загружают в контактное устройство по направляющим 10 и 11. В исходном состоянии контакты 2 находятся в разомкнутом положении с выводами 8 ИС 5. Замыкание контактов 2 с выводами 8 ИС 5 производят с помощью механизма перемещения контактов. Для этого включают привод (не показан),

,дами ИС в корпусе типа ДПР наружные края V-образного выреза, скользя по выводам ИС, взаимодействуют со ступеньками широкой части вывода микросхем. В результате взаимодействия в зоне контактирования возникает реакция N вывода, которая увеличивает контактное усилие и одновременно перемещает ИС на величину зазора Да. Дальнейшему перемещению препятствует направляющая И. 1 з.п.ф-лы, 5 ил.

0

5

0

5

0

5

0

5

под действием которого планки 3 перемещаются навстречу друг другу. При этом контакт 2 своими V-образными вырезами 4 охватывает узкую часть вывода 8 на расстоянии U1 от широкой части вывода микросхемы, создавая усилие контактирования Р. При дальнейшем сближении контактов с выводами ИС в корпусе типа DIP наружные края 9 V-образного выреза, скользя по выводам ИС, взаимодействуют со ступеньками 6 широкой части 7 вывода микросхем. В результате взаимодействия в зоне контактирования возникает реакция N (фиг.3-6) вывода, которая увеличивает контактное усилие и одновременно перемещает ИС на величину зазора & а. Дальнейшему перемещению препятствует направляющая И (фиг.4 и 5). При дальнейшем сближении контактов за счет взаимодействия их с заплечиками вывода ИС в зоне контакта контактное усилие возрастает, поскольку контакт, упершись в ступеньки вывода ИС, не может скользить вдоль вывода. Повышение контактного усилия без взаимного проскальзывания за счет появления силы N и использования продольной жесткости контакта увеличивает надежность контактирования и достоверность выполняемой операции. После окончания цикла измерения планки 3 разводятся, и интегральная схема 5 передается на следующую операцию.

Величина угла между V-образующими в пределах 90-110еподобрана экспериментально. При этом исключается деформация и защемление выводов при раздвижении планок 3, обеспечивается надежное контактирование с выводами интегральной схемы.

Предлагаемое устройство позволяет - автоматизировать процесс контактирования и обеспечивает надежное контактирование .

Формула изобретения

Фиг. 2

0w.J

П

CJ

22

ФиеЛ

п-тш

-f

/

о

r

ш

фиг. 5

10

/

/(

/