Изобретение относится к производству полупроводниковых приборов и предназначено для использования в кон трольно-измерительном и испытательном оборудовании, в частности в стендах электротермотренировки интегральных микросхем повышенной мощности, т.е. имеющих теплоотводы для крепления по.ЛУПРОВОДНИКОВЫХ приборов. Известно устройство для крепления полупроводниковых приборов, содержащее эксцентриковый подпружиненный при жим, основание - радиатор с фиксаторами 11. Однако такое устройство имеет ограниченные .возможности применения для различных типов полупроводниковых при боров. Устройство применимо лишь для монтажа приборов с плоским корпусом, поскольку прижим посредством пружины с -эксцентриком осуществляется сверху. Кроме того, по указанной причине не представляется возможным совмещение данного устройства с контактным приспособлением, с целью обеспечений испытаний прибора и одновременного измерения его параметров. Недостатком данного -устройства является неравномерность по плоскости испытуемого прибора усилия прижима, создаваемого эксцентриком, поскольку это усилие действует на прибор по линии. В результате механический контакт тепло- отводов с ргщиаторами также неравномерен по плоскости теплоотвода, и условия для отвода тепла не одинаковы. Кроме того, устройство имеет значительные габариты,что при конструировании стендов большой емкости приводит к увеличению производственных площсщей и, следовательно, снижению производительности (в аигрыш в производительности, получаемый за счет сокращения временных затрат на установку испытуемых приборов в,испытательном стенде, теряется из-за уменьшения емкости последнего). Наиболее близким к предлагаемому является устройство для креплен ия преимущественно полупроводниковых приборов-с теплоотвбдами, содержащее основание с фиксаторами и шарнирно закрепленную на нем фигурную защелку с прижимными пружинными элементами 2 . Однако известное устройство имеет недостатки, заключающиеся в том, что оно не обеспечивает достаточно высокой надежности крепления и не может еать использовано для различных цолулроводниковых приборов. Цель изобретения - повышение надежности крепления и расширение функциональных возможностей, Указанная цель достигается тем, что устройство для крепления преимущественно полупроводниковых приборов с теплоотводами, содержащем основание с: фиксаторами и шарнирно закрепленную на нем фигурную защелку с прижимными пружинными элементами, каждый прижимной пружинный элемент защелки выполнен в виде Г-образного лепестка с отверстием на его горизонтальной полке причем Г-образнйе лепестки размещены на фигурной защелке с возможностью взаимодействия с фиксаторами основания. На фиг. 1 схематически показано устройство для крепления, общий вид, открытое - (исходное) положение; на фиг. то же,закрытое (рабочее) по ложение. Устройство для крепления преимущественно полупроводниковых приборов с теплоотводами содержит основание 1 выполняющее функции радиатора, с гнез дом 2 для размещения полупроводникевого прибора 3 с теплоотводами 4,например, интегральной микросхемы. В теплоотводах 4 выполнены отверстия 5, а на основании 1 установлены фиксаторы б, выполненные в виде размещенных в отверстиях 5 штифтов, и держатель 7 осей 8 и 9. На оси 8 шарнирно установлена фигурная защелка 10, имеющая два прижимных пружинных элемента 11, каждый из которых выполнен в виде Гобразного лепестка с отверстием 12 на его горизонтальной полке 13, причем фиксаторы 6 размещены в отверстиях 12, а на фигурной защелке 10 выполнено окно 14 для доступа к испытываемому полупроводниковому прибору 3. Прижимные пружинные элементы 11 служат для прижатия теплоотводов 4 к основа нию . Устройство работает следующим образом. В момент загрузки испытуемого полу проводникового прибора 3 Вчустройство последнее находится в открытом положении, показанном на фиг. 1. В гнездо 2 основания 1 помещается испытуемый полупроводниковый прибор 3 и фиксируется в нем посредством фиксаторов 6, совмещенных с отверстиями 5 в . теплоотводах 4. После установки полу проводникового прибора 3 фигурную за щелку 10 поворачивают вокруг оси 8, защелкивс1ют на ось 9, и тем самым устройство переводится в рабочее положение, показанное на фиг. 2. При этом Г-образные лепестки прижимных пружин ных элементов 11, совмещаясь своими отверстиями со штифтами фиксаторов 6,принимают теплоотводы 4 к основанию 1, обеспечивая между ними надежное механическое контактирование. Затем производят электротермотренировку полупроводникового прибора 3. По окончании процесса испытаний осуществляют выгрузку полупроводникового прибора 3 из устройства, для чего фигурную защелку 10 поворотом вокруг оси 8 возвращают в исходное (нерабочее) положение,(фиг. 1). Изобретение позволяет выполнить устройство для крепления преимущественно полупроводниковых приборов с теплоотводби«1 универсальным , Г-образные лепестки обеспечивают прижим теплоотвода к основанию по всей поверхности теплоотвода и тем самым улучшению условия для их надежного механического контактирования. Предлагаемое устройство обеспечивает свободный доступ к установленному в нем испытуемому полупроводниковому прибору и позволяет контактное устройство установить на прибор для подключения последнего к измерительным цепям. Габариты устройства незначительно превышают размеры полупроводникового прибора, что дает возможность .применять устройство в испытательных системах большой емкости. Экономический эффект от использования изобретения составит 6650 рублей в год при программе испытаний 2000000 шт. ИС. В качестве исходных данных для расчета брались временные затраты на установку полупроводникового прибора. Затраты времени на закрепление ИС винтаи ш составляет 20 с. При использовании изобретения время установки испытуемой ИС состовля- . ет одну секунду. На выполнение программы испытаний на стендах с винтовым креплением требуется 70 ч/дней. Формула изобретения Устройство для крепления преимущественно полупроводниковых приборов с теплоотводами, содержащее основание с фиксаторами шарнирно закрепленную на нем фигурную защелку с прижимными пружинными элементами, отличающееся, тем, что, с целью повышения надежности крепления и расширения функциональных возможностей, каждый прижимной пружинный элемент защелки в виде Г-образного лепестка с отверстием на его горизонтальной папке, причем Г-образные лепестки размещены на фигурной защелке с возможностью взаимодействия с фиксаторами основания. И.сточники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Заявка Франции W 2333351, Н 01 L 23/00, 1977. 2.Авторское свидетельство СССР 412080, кл. .В 65 D 73/02, 03.02.72 (прототип).
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
БЫСТРОУСТАНАВЛИВАЕМОЕ КОНТАКТНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОДКЛЮЧЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНОЙ МИКРОСХЕМЫ | 2022 |
|
RU2788569C1 |
СБОРНЫЙ СОТОВЫЙ СТЕНД | 2000 |
|
RU2161899C1 |
Быстросъемная система установки образцов для испытания материалов на двухосное растяжение (варианты) | 2023 |
|
RU2820031C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ | 2012 |
|
RU2511054C2 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ И КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ | 1997 |
|
RU2133522C1 |
Испытательный стенд | 1976 |
|
SU796704A1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛИМЕРНОГО ЭЛЕКТРОННОГО МОДУЛЯ | 2006 |
|
RU2314598C1 |
Контактное устройство для испытания микросхем | 2020 |
|
RU2724129C1 |
Стенд для испытания транспортных средств | 1987 |
|
SU1444638A1 |
СПОСОБ ИСПЫТАНИЙ И КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ | 2003 |
|
RU2272335C2 |
Авторы
Даты
1981-07-15—Публикация
1979-02-15—Подача