Способ измерения толщины слоев Советский патент 1990 года по МПК G01B7/06 

(21)4413100/25-28

(22)15.02.88

(46) 23.07.90. Бюл. № 27

(71)Львовский лесотехнический институт

(72)Б. А. Аграновский, В. Г. Брандорф, Ю. Н. Кизилов и Ж. А. Ямпольский

(53)531.717.11(088.8)

(56)Авторское свидетельство СССР № 1495641, 23.11.87.

Авторское свидетельство СССР № 619783, кл. G 01 В 7/06, 1977.

(54)СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЕВ

(57)Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения толщины слоев многослойных крупногабаритных изделий Целью изобретения является упрощение, повышение точности измерения и производительности контроля. Способ реализуется следующим образом. Путем объединения линейных проводников 2i, 22 с источником 4 тока образуют контур, в котором пропускают ток силой J . Регистрируют величину Н напряженности поля преобразователем 3 и, зная его геометрические параметры, определяют толщину контролируемого слоя. Для последовательного измерения толщины каждого из слоев изделия образуют электрический контур поочередно из каждых двух соответствующих соседних линейных проводников 2|.. 2-п и определяют контролируемую величину описанным способом. I ил

(С

Изобретение относится к неразрешающему контролю и может быть использовано для измерения толщины слоев многослойных крупногабаритных изделий. Цель изобретения является упрощение, повышение точности измерения и производительности контроля. Способ реализуется следующим образом. Путем объединения линейных проводников 2 1, 2 2 с источником 4 тока образуют контур, в котором пропускают ток силой J. Регистрируют величину H напряженности поля преобразователем 3 и, зная его геометрические параметры, определяют толщину контролируемого слоя. Для последовательного измерения толщины каждого из слоев изделия образуют электрический контур поочередно из каждых двух соответствующих соседних линейных проводников 2 1...2 N и определяют контролируемую величину описанным способом. 1 ил.

cfl

л

жш

/

СП

оо

СЛ

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения толщины слоев многослойных крупногабаритных изделий.

Цель изобретения - упрощение способа, повышение точности измерения и производительности контроля путем сокращения числа одновременно работающих контуров и использования минимального количества вспомогательного оборудования.

На чертеже изображено устройство, иллюстрирующее предлагаемый способ.

Устройство содержит n-слойное изделие с толщинами слоев Ti,..., Т„.( , Тг.

Между слоями и на поверхности издеЗатем образуют контур из проводников 2г и 2з, аналогично определяют толщину Та.

Для последовательного измерения тол- ,- щины каждого из слоев многослойного изделия нумеруют проводники последовательно от наиболее близкого к преобразователю 3 и описанным способом определяют толщины оставшихся слоев.

Предлагаемый способ измерения толщи- Ю ны слоев позволяет повысить точность измерения за счет отсутствия требования обеспечения синфазности токов в образуемых контурах, расширить область применения, в случае, когда неизвестна заралии расположены линейные проводники 2ь..2. нее суммарная толщина объекта, повысить На поверхности установлен индуктивныйпроизводительность контроля за счет отпреобразователь 3 поля и источник 4 тока.сутствия операции изменения тока и реКонструктивный размер преобразователя 3гистрации его измененного значения в одобозначен ti, расстояния от него до линей-ном из контуров пары, операции априорных проводников 2i-2п обозначены соот-ного определения суммарной толщины объекветственно t2,..., , амплитуда силы тока 20 та другим способом, в контуре -I.

Способ реализуется следующим образом.

Образуют электрический контур путем объединения проводников -2 и 22, в который

включают источник 4 тока с силой тока I. „с слойных изделий, заключающийся в том, что Затем регистрируют величину Н напряжен-при изготовлении изделия между его слояности поля в месте расположения преобразователя 3 поля.

Формула изобретения Способ измерения толщины слоев многоЭта величина определяется уравнением

ми и на обеих поверхностях размещают линейные проводники так, что они находятся в одной плоскости, формируют из двух линейных проводников электрический

н --5- -2- (-1-} m

art, 2st, -гягч, V (l)

Из (1) находим величину ii

- JLk

(2)

3-23iHti

Из уравнения (2), зная конструктивный размер преобразователя 3, который определен заранее, находим значение i2. Из очевидного равенства определяем толщину слоя Ti t2-ti(3)

Затем образуют контур из проводников 2г и 2з, аналогично определяют толщину Та.

Для последовательного измерения тол- щины каждого из слоев многослойного изделия нумеруют проводники последовательно от наиболее близкого к преобразователю 3 и описанным способом определяют толщины оставшихся слоев.

Предлагаемый способ измерения толщи- ны слоев позволяет повысить точность измерения за счет отсутствия требования обеспечения синфазности токов в образуемых контурах, расширить область применения, в случае, когда неизвестна заранее суммарная толщина объекта, повысить производительность контроля за счет отдругим способом,

йных изделий, заключающийся в том, что изготовлении изделия между его слояФормула изобретения Способ измерения толщины слоев многоми и на обеих поверхностях размещают линейные проводники так, что они находятся в одной плоскости, формируют из двух линейных проводников электрический

контур, пропускают по нему переменный ток и с помощью индуктивного преобразователя, размещенного на поверхности контролируемого изделия, регистрируют значения амплитуд тока и напряженности магнитного поля, которые используют для определения толщины слоев изделия, отличающийся тем, что, с целью упрощения способа, повышения точности измерения и производительности контроля, электрический контур образуют поочередно из каждых двух соответствующих соседних линейных

проводников.