Способ измерения толщины слоев Советский патент 1989 года по МПК G01B7/06 

СО

4

со

СП

05 4:

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано при измерении толщины многослойных изделий.

Целью изобретения является повышение производительности контроля за счет умень- щения числа операций и отказа от регистрации аналогового тока к контуре.

На чертеже представлен трехслойный объект.

Между слоями 1-3 с соответствующи- Ю ми толщинами Т1-ТЗ и на поверхности объекта расположены линейные проводни-- ки 4-7, а на поверхности установлен преобразователь 8 поля. Кроме того, приведены источники 9 и 10 тока.

Способ реализуют следующим образом.

Образуют пару электрических контуров путем объединения линейных проводников 4, 5 и 6, 7. В каждый из полученных

изделия нумеруют проводники последовательно от наиболее удаленного от преобразователя 8 и описанным способом определяют значения толщин для наиболее удаленного слоя и оставшихся слоев, считая их за один слой, затем аналогичным образом определяют толщину предпоследнего слоя, и так до определения толщины каждого слоя.

Формула изобретения

Способ измерения толщины слоев многослойных изделий с числом слоев , заклю- 5 чающийся в том, что при изготовлении изделия между его слоями и на обеих поверхностях размещают линейные проводники так, чтобы они находились в одной плоскости, размещают накладной индуктивный преобразователь на поверхности изделия,

контуров включают источники 9 и 10 тока 20 образуют пару электрических контуров путем с напряжением Е1 и Е2 соответственно.объединения попарно четырех линейных проЗатем регистрируют величину HI напряженности поля в месте расположения преобразователя 8 поля. После чего изменяют ток в одном из контуров и регистрируют

так, что образующиеся магнитные поля син- фазны, регистрируют величину напряженности магнитного поля и величины токов, затем произвольно изменяют величину тока в одном из контуров, регистрируют полувеличину поля Н2.

Решая систему уравнений для неизвестных расстояний t2 и 1з, по полученным значениям HI и Н2 вычисляют значения расстояний t2 и ts, если известны величины

водников, по каждому из контуров пропускают синфазный переменный ток, отличающийся тем, что, с целью повышения произ- 25 водительности контроля, токи пропускают

конструктивный размер преобразователя t4 ЗО ченные значения напряженности поля и веи ti суммы и общей толщиы t объекта, которые определены заранее. Затем из равенств определяют толщины слов

Tl ti-12; T2 t2-ta; T3 t3-14. Для последовательного измерения толщины каждого из слоев многослойного 35 изделия.

личин токов и по полученному значению определяют толщину слоев между линейными проводниками, последовательно используют все линейные провоники, группируя их по четыре, и определяют толщину всех слоев

изделия нумеруют проводники последовательно от наиболее удаленного от преобразователя 8 и описанным способом определяют значения толщин для наиболее удаленного слоя и оставшихся слоев, считая их за один слой, затем аналогичным образом определяют толщину предпоследнего слоя, и так до определения толщины каждого слоя.

Формула изобретения

так, что образующиеся магнитные поля син- фазны, регистрируют величину напряженности магнитного поля и величины токов, затем произвольно изменяют величину тока в одном из контуров, регистрируют полуводников, по каждому из контуров пропускают синфазный переменный ток, отличающийся тем, что, с целью повышения произ- водительности контроля, токи пропускают

личин токов и по полученному значению определяют толщину слоев между линейными проводниками, последовательно используют все линейные провоники, группируя их по четыре, и определяют толщину всех слоев

Изобретение относится к неразрушаемому контролю и может быть использовано при измерении толщины многослойных изделий. Целью изобретения является повышение производительности контроля за счет уменьшения числа операций и регистрации аналогового тока в контуре. Первоначально создаются два контура из объединяемых попарно четырех линейных проводников, расположенных на различных расстояниях к преобразователю 8 поля. В полученных контурах возбуждаются электромагнитные поля для двух фиксированных значений токов. По результатам измерений составляется система линейных уравнений, которая разрешается относительно толщины двух слоев. При измерении многослойных объектов первоначально измеряют толщину наиболее удаленного слоя, считая оставшиеся слои за один слой, а затем путем продолжения подобных операций находят величину каждого слоя. 1 ил.