1
(21)4348695/25-28
(22)25.12.87
(46) 30.06.89. Бкш. № 24
(71)Львовский лесотехнический институт
(72)Б.А. Аграновский, В.Г. Брандорф, Ю.Н. Кизилов и Ж.А. Ямпольс%кий
(33) 620.179.142.5 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 619783, кл. G 01 В 7/06, 1977. Авторское свидетельство СССР № 879279, кл. О 01 В 7/06, 1980.
(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЕВ МНОГОСЛОЙНЫХ ИЗДЕЛИЙ (57) Изобретение относится к неразрушающему контролю. Цель изобретения - повышение точности при измерении толщины электропроводящих изделий. Повьшшние точности достигается за счет устранения влияния на результат измерения вихревых токов, наводимых в слоях изделия. Для этого по контурам, образованным проводниками, размещенными между слоями, пропускают постоянный ток, длительность пропускания которого превышает время затухания переходных процессов в электропроводящих слоях. 2 ил.
с 
| название | год | авторы | номер документа |
|---|---|---|---|
| Способ измерения толщины слоев | 1979 |
|
SU807043A1 |
| СПОСОБ ВИХРЕТОКОВОГО КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ОБЪЕКТОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ | 2015 |
|
RU2610931C1 |
| Способ измерения толщины слоев | 1980 |
|
SU879279A1 |
| Способ измерения толщины слоев | 1987 |
|
SU1495641A1 |
| СПОСОБ ВИХРЕТОКОВОГО КОНТРОЛЯ МЕДНОЙ КАТАНКИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ | 2014 |
|
RU2542624C1 |
| СПОСОБ ВИХРЕТОКОВОГО КОНТРОЛЯ ПРОТЯЖЁННЫХ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ОБЪЕКТОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ | 2017 |
|
RU2651618C1 |
| Способ измерения толщины слоев | 1988 |
|
SU1580150A1 |
| Способ контроля толщины диэлектрических покрытий | 1973 |
|
SU578558A1 |
| КАТУШКА ИНДУКТИВНОСТИ ПЕРВИЧНОГО ВИХРЕТОКОВОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩЕГО КОНТРОЛИРУЕМОГО ОБЪЕКТА | 2020 |
|
RU2749029C1 |
| Накладной вихретоковый преобразователь для контроля цилиндрических изделий | 1985 |
|
SU1272211A1 |
Изобретение относится к области неразрушающего контроля. Цель изобретения - повышение точности при измерении толщины электропроводящих изделий. Повышение точности достигается за счет устранения влияния на результат измерения вихревых токов, наводимых в слоях изделия. Для этого по контурам, образованным проводниками, размещенными между слоями, пропускают постоянный ток, длительность пропускания которого превышает время затухания переходных процессов в электропроводящих слоях. 2 ил.
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может использоваться для измерения толщины электропроводящих слоев многослойных изделий.
Цель изобретения - повьш1ение точности при измерении толгцины электропроводящих слоев изделий за счет устранения влияния вихревых токов. На фиг.1 и 2 представлено трехслойное изделие с различными комбинациями контуров.
Способ осуществляется следующим образом.
Между глеями 1 - 3 изделия и на наружных поверхностях его расположены линейные проводники 4 - 7. На поверхности изделия со стороны проводника 7 размещают накладной преобразователь 8 постоянного магнитного поля, например ферроЭонд. Для создания постоянных токов в каждый из двух контуров включаются источники 9. ..12 ЭДС постоянного тока. При этом величина ЭДС может регулироваться ,
Для компенсации полей, создаваемых двумя контурами, в преобразователе 8 источники ЭДС включают так, чтобы токи в контурах имели направления, указанные на фиг. и 2.
Измерения толщины слоев трехслойного изделия контроля осуществляется так. Образуя пару контуров (фиг.Г), изменяют величину ЭДС одного из источников от нулевого значения до момента, когда сигнал преобразователя станет равным нулю после затухания переходных процессов, связанных с вихревыми токами в слоях, возника
О
li( ел ел
ющими при изменении ЭДС. В этом положении измеряют отношение токов.
Затем образуют другую комбинацию контуров (фиг.2) аналогично получают значение
Р Ьз
и определяют толщины слоев 1-3 по формулам
Т t ,- t,; Т,
Т 3 tj- t4.
Ч- ч;
t 4t 4t .
t , --; t 3 --; а -J; . а 514
Ejl-Pj - Р() Рэ(1 + Р) О
РЗ- 1
- РО)
+ а ,)
В случае п-слойного изделия нумеруют последовательно проводники от наиболее удаленного от преобразователя, затем выбирают четыре: первый - третий и -п-й, и указанным способом определяют толщины слоев Т t -t и Т t f- tj. Затем выбирают проводники третий - пятый и п-й, находят Тз t,- t, и Т, t и т.д.
Использование переменных магнитных полей, порождаемых переменными токами, проходящими через закладные проводники, вызывает в электропроводящих слоях появление вихревых токов магнитные поля которых, накладываясь на магнитные поля закладных проводников, искажают результаты измерений.
Использование способа позволяет осуществить послойную толщинометрию крупногабаритных изделий с злектро- проводяпщми слоями с большей точ0
5
0
5
305
дО
ностью, что дает возможность улучшения контроля за качеством изготовления .
Формула изобретения
Способ измерения толщины слоев многослойных изделий, заключаюш11хся в том, что при изготовлении изделия между его слоями и на обеих поверхностях размещают линейные проводники так, что они находятся в одной плоскости, и располагают накладной преобразователь магнитного поля на одной из поверхностей изделия, из группы четырех линейных проводников образуют пару не имеющих общих ветвей электрических контуров так, что магнитные поля, созданные каждым контуром в накладном преобразователе направлены встречно, в одном из контуров пары изменяют амплитуду тока до момента, когда сигнал преобразователя равен нулю, и в этом положении измеряют и фиксируют отношение Р токов первой пары контуров, образуют другую пару контуров из той же группы четырех линейных проводников и аналогично измеряют и фиксируют отношение Р i токов второй пары контуров, по полученным отношениям определяют толщину слоев между линейными проводниками, которые использовались для образования первых двух пар контуров, затем последовательно используют все линейные проводники группами по четыре проводника и определяют толщину всех слоев изделия отличающийся тем, что, с целью повышения точности при измерении толщины электропрово- слоев, по каждому из контуров пары пропускают постоянный ток, длительность пропускания которого тфе- вьшает время затухания переходных процессов в электропроводящих слоях.
. Л
12
Фиг.
it
