Способ определения напряженности переменного магнитного поля в рабочем зазоре магнитной головки Советский патент 1990 года по МПК G11B5/455 

L - индуктивность полуобмотки, по которой пропускался переменный ток;

g - геометрическая ширина рабочего зазора магнитной головки;

I - величина заданного переменного тока, пропускаемого через полуобмотку при измерении напряжения на другой полуобмотке;

Фкз заданный поток короткого замыкания сигналограммы.

Формула изобретения Способ определения напряженности переменного магнитного поля в рабочем зазоре магнитной головки, при котором переменный ток пропускают через полуобмотку и определяют напряженность магнитного . поля в рабочем зазоре, отличающийс я тем, что, с целью повышения точности, определения напряженности магнитного поля, при пропускании переменного тбка измеряют первичное напряжение на другой полуобмотке с равным количеством витков, затем при отключенном токе измеряют на

ней вторичное напряжение при воспроизведении низкочастотной сигналограммы, а напряженность магнитного поля определяют по формуле

U2 L Н

Нд 2

g Ui Фkз

где Нд - напряженность магнитного поля в рабочем зазоре магнитной головки;

Ua напряжение при воспроизведении низкочастотной сигналограммы на полуобмотке, с которой снималось напряжение Ui;

L - индуктивность полуобмотки, по которой пропускался переменный ток;

I - величина заданного тока, пропускаемого через полуобмотку при измерении напряжения на другой полуобмотке;

g - геометрическая ширина рабочего зазора магнитной головки;

Ui - напряжение на полуобмотке при пропускании переменного тока в другой полуобмотке;

з - заданный поток короткого замыкания сигналограммы.

Изобретение относится к приборостроению, а именно к технологическому процессу производства магнитных головок для контроля магнитных головок. Целью изобретения является повышение точности определения напряженности магнитного поля в рабочем зазоре. Пропускают переменный ток через одну полуобмотку, измеряют напряжение на другой полуобмотке, отключают ток, проходящий через одну из полуобмоток, измеряют напряжение на другой полуобмотке при воспроизведении низкочастотной сигналограммы с известным потоком короткого замыкания и определяют напряженность переменного магнитного поля в рабочем зазоре магнитной головки по формуле H G=U 2 .LJ 2/GU 1F кз, где H G - напряженность магнитного поля в рабочем зазоре магнитной головки

U 1 - напряжение на полуобмотке при пропускании тока в другой полуобмотке

U 2 - напряжение при воспроизведении сигналограммы на полуобмотке, с которой снималось напряжение U 1

F кз - заданный поток короткого замыкания сигналограммы

L - индуктивность полуобмотки, в которой пропускался ток

J - величина заданного тока, пропускаемого через полуобмотку при измерении U 1

G - геометрическая ширина рабочего зазора магнитной головки.