Устройство для измерения угловой зависимости коэффициента отражения материала Советский патент 1990 года по МПК G01N21/55 

Изобретение относится к фотометрии и может быть использовано для измерения коэффициентов отражения материалов в диапазоне длин волн 1-50 мкм электромагнитного излучения. Цель изобретения - увеличение точности непрерывных измерений в диапазоне углов 0*98ф*98п/2. Устройство содержит источник излучения 1 с модулятором, размещенный внутри зеркального отражателя 2, выполненного в виде сегмента сферической поверхности, образованного двумя опирающимися на диаметр полуплоскостями, угол между которыми равен φ+φ, и установленную напротив выходного окна 3 отражателя 2 оптическую систему, входная ось которой лежит в плоскости, перпендикулярной одной из образующих сегмент отражателя 2 полуплоскостей, и проходит через геометрический центр держателя 4 образца. Держатель 4 образца и источник излучения 1 закреплены на поворотной оси 5, проходящей по диаметру отражателя 2, симметрично относительно геометрического центра отражателя 2 на расстоянии, не превышающем 1/10 диаметра отражателя 2 и исключающем заметное влияние оптических аберраций на точность измерений. Поворотная ось 5 обеспечивает одинаковый поворот источника излучения 1 и держателя 4 образца на заданный угол φ в интервале 0*98ф*98п/2. Оптическая система состоит из приемно-фокусирующего блока 6 и расположенных по ходу монохроматора 7 с регистратором 8, снабженным фотоприемником. 1 ил.