Способ измерения атмосферной рефракции Советский патент 1992 года по МПК G01N21/41 

Описание патента на изобретение SU1603985A1

Способ заключается в посьшке через исслсдуам1-гй слой атмосферы пучка оптического излучения на два недиффуз- н ых отражателя, размеры которых различны и опреде-пягатся соотношением

Р,/Р,7, где

Изобретение относится к атмосферной оптике и может быть использовано для определения атмосферной рефракции.

Целью изобретент-1я является noi hiiiie- ние дальности и надежности измерений,

р +....L Ul21i/E).l.+

: . - M;()+QQ,..4l-L/F)H-a2Q2 ; (1-2L/F)2

22iLt.iLbr.lll2b/:F2.C25,;+2(lrL/F)(bl

м;Гм;(1+ ai) + QC2,,(1-LVF) + 2S2 p;(1-2L/F)

для зеркальньк и

p 1 S2S tll cii1-2L/F}2

M;(1+a27ap+c b,,-Ki41-L/F)2+n2j V;(-2L/F)2 для уголковьк отражателей,,

T-{; 1- - 2 - -4CV; ), (L) j dE|U(2L)(1-z)j (L) dzjT,(zL) 7.,

,2 - номер oTpaacaTejfH; ()

градиент дяэлектркческой проницаемое- пер ёменная интегрирования, нормирован- тк вдоль измерительной трассы; z -ная на длину измерительной трассы L;

Способ заключается в посьшке через исслсдуам1-гй слой атмосферы пучка оптического излучения на два недиффуз- н ых отражателя, размеры которых различны и опреде-пягатся соотношением

Р,/Р,7, где

.+

H-a2Q2 ; (1-2L/F)2

25,;+2(lrL/F)(bl

Oi

о

Сдд

00

ел

Q.21, ,. ,

,a,F - радиусы гучка оптического jgjiyMeHHHs КхПгерентчгостИ и кривизны волнового фронта на входе измерительной трассы, ар;ч- эффективные радиусы отражателей) Ка

V Ь

числа Френеля пучка и отражателей; K ZlT/TV - волновое число. Далее строят изображения отраженного обоими отражателями пучка и по разности угловых положений ,.ц этих изображений рудят об угле 0 рефрак1щи по со- отногаению д ос.

.

На чертеже изображен вариант устройства для; осуществления способа.

Устройство содержит источник 1 оптического излучения с оптической системой 2, формирующей пучок излучения с заданными характеристиками, плоскопараллельную пластину 3, уста- . новленнЬ1й на конце измерительной трассы 4 недиффузный отражатель 5, перед которым установлена сменная диафрагма 6, оптически связанная с плоскопараллельной пластиной 3, -приемную -оптическую cиcтe Iy 7, измеритель 8 углового положения изображения: пучка, установленный в плоскости изображения приемной системы 7. Угловое положение изображения пучка может определяться оператором, например, с помощью теодолита,-в качестве отражателей 5 установлены зеркальные или уголковые отражатели. С помощью оптической системы 2 формируется пучок оптич.еского излучения, фокусированг ный в любой точке трассы 4, в-том числе на обратной трассе между отражателем 5 и приемной оптической системой 7 Ш1И за приемной оптич еской системой 7,

Устройство работает следующим образом.. .

Излучение источника 1, сформиро-: ванной оптической системой 2, имеюПри использовании уголковых отражателей пучок может фбкусироваться на обратной трассе за приемной оптической системой, а размеры уголковых отражателей и пучка оптического излучения определяются условием Р,- Использование нё т;иффузньсх отражателей (зеркальных и уголковых) позволяет Повысить дальность измерений, так как коэффициент отражения йозрас- тает в два-три раза и более. Кроме того, дальность возрастает за счет того, что расходимость пучка излучения при отражении от зеркальных и уголковых отражателей сохраняется, в..то время, как.при отражении от диффузного отражателя излучение рассеивается в полусферу и плотность иэлу- ;. 45 чения уменьшается пропорционально квадрату расстоядагя. Использование фокусированных пучков позволяет дополнительно поднять потешдиал по сравнению с коллимированными и расходящи35

40

щее на входе измерительной трассы ра- ... мися пучками за счет уменьшения раз- диус а, радиус когерентности а, и. меров пучка на приемной системе. За кривизны волнового фронта F; про- : счет исключения ошибки при совмещении ходит через полупрозрачную пласти- оптических осей двух пучков различной

геометрии достигается повышение надежности .измерений.

Способ -может использоваться для. измерения рефракции в геодезических измерениях истинных углов направле1дая на объекты, для определения точностну 3, атмосферную измерительную тграс- . су 4 длиной L и через диафрагму б попадает на отражатель 5. Отраженное излучение повторно проходит измери- .тельную Tpdccy 4, отражается от полу- прозрачной пластины 3 и принимается

о. :бо10

15

20

:

i(

оптической системой 7, которая строит изображение пучка излучения. Угловое положение изображения пучков, отра- г женных отражателями, определяется оператором или измерителем Я углового положения.

В качестве измерителя углового положения изображения может быть использован теодолит. Проводя последовательно измерения с диафрагмами радиусов а, и , определяют угол ре- фракции. В качестве отражателей используются зеркальные или уголковые отражатели .

При этом на отражатели могут посылать пучок когерентного или частично когерентного оптического излучения радиусом больше первой зоны ренеля. При использовании зеркальных отражателей пучок может фокусироваться, на обратной трассе между отражателями и приемной оптической системой, при этом размеры зеркальных отражателей и радиус пучка оптического излучения определяются условием

При использовании уголковых отражателей пучок может фбкусироваться на обратной трассе за приемной оптической системой, а размеры уголковых отражателей и пучка оптического излучения определяются условием Р,- Использование нё т;иффузньсх отражателей (зеркальных и уголковых) позволяет Повысить дальность измерений, так как коэффициент отражения йозрас- тает в два-три раза и более. Кроме того, дальность возрастает за счет того, что расходимость пучка излучения при отражении от зеркальных и уголковых отражателей сохраняется, в..то время, как.при отражении от диффузного отражателя излучение рассеивается в полусферу и плотность иэлу- ;. 45 чения уменьшается пропорционально квадрату расстоядагя. Использование фокусированных пучков позволяет дополнительно поднять потешдиал по сравнению с коллимированными и расходящи25

30

35

40

ных характеристик приборов, работаю-. щих через атмосферу, например дальномеров, теодолитов и других. При разработке устройства могут быть использованы известные устройства - рефрактометры, измерители углового положения центра изображения, теодолиты и другие.

Формула изобретения

на отражатель, приема в месте посьэт- Ю1 отраженного излу 1ания приемной оптической системой, отличающийся тем, что, с целью пАньте- ния дальности и надежности измерений пучок излучения дополнительно посылают на другой отражатель, строят . изображения отраженного обоими отраж телями пучка и по разности угловых положений этих изображений судят об угле рефракции, при этом пучок оптического излучения посьшают на недиЛ- фузные, зеркальныд или уголковые

1. Способ измерения атмосферной рефракции путем посыпки по измерительной трассе через исследуемьй слой 15 отражатели, размеры которых определя атмосферы пучка оптического излучения ются условием

p.i4- E lUi5I n(l:.2L/F)l

0

на отражатель, приема в месте посьэт- Ю1 отраженного излу 1ания приемной оптической системой, отличающийся тем, что, с целью пАньте- ния дальности и надежности измерений, пучок излучения дополнительно посылают на другой отражатель, строят . изображения отраженного обоими отражателями пучка и по разности угловых положений этих изображений судят об угле рефракции, при этом пучок оптического излучения посьшают на недиЛ- фузные, зеркальныд или уголковые

5 отражатели, размеры которых определя ются условием

Похожие патенты SU1603985A1

название год авторы номер документа
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК СВЕТОРАССЕЯНИЯ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРОВ 2007
  • Алабовский Андрей Владимирович
RU2329475C1
Способ измерения атмосферной рефракции 1989
  • Банах Виктор Арсентьевич
  • Чен Бен-Нам
  • Цвык Рувим Шахнович
SU1615604A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ АТМОСФЕРНОЙ РЕФРАКЦИИ 1986
  • Банах В.А.
  • Меламуд А.Э.
  • Миронов В.Л.
  • Носов В.В.
  • Чен Б.-Н.
  • Цвык Р.Ш.
SU1438419A1
СИСТЕМА ОБНАРУЖЕНИЯ СВЕТЯЩИХСЯ ОБЪЕКТОВ 2016
  • Жаровских Игорь Григорьевич
  • Рогалин Владимир Ефимович
  • Крымский Михаил Ильич
RU2659615C2
Оптический ориентатор 1989
  • Процко Сергей Васильевич
  • Титов Александр Дмитриевич
SU1675813A1
СИСТЕМА ОХРАНЫ ПЕРИМЕТРА И ТЕРРИТОРИИ 2010
  • Вильнер Валерий Григорьевич
  • Волобуев Владимир Георгиевич
  • Рябокуль Артем Сергеевич
RU2447459C1
Углоизмерительный прибор 2018
  • Гебгарт Андрей Янович
  • Колосов Михаил Петрович
RU2682842C1
Многопроходная оптическая линия задержки 1990
  • Бражников Андрей Евгеньевич
SU1775702A1
МОДЕЛЬ ОСВЕТИТЕЛЬНОЙ СИСТЕМЫ АЭРОДРОМА ДЛЯ ОБУЧЕНИЯ ПОСАДКЕ 1992
  • Кабачинский В.В.
  • Калинин Ю.И.
RU2042981C1
МНОГОКАНАЛЬНОЕ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЕ УСТРОЙСТВО КОРАБЕЛЬНОГО ЗЕНИТНОГО КОМПЛЕКСА ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ И СОПРОВОЖДЕНИЯ ВОЗДУШНЫХ И НАДВОДНЫХ ЦЕЛЕЙ (ВАРИАНТЫ) 2008
  • Ануфриков Эдуард Дмитриевич
  • Байков Сергей Дмитриевич
  • Котов Алексей Юрьевич
  • Миронов Сергей Андреевич
  • Морозов Александр Михайлович
  • Петровых Сергей Владиленович
  • Сафронов Алексей Владимирович
RU2406056C2

Иллюстрации к изобретению SU 1 603 985 A1

Реферат патента 1992 года Способ измерения атмосферной рефракции

Изобретение относится к атмосферной оптике и может быть использовано для опрелеленяя атмосферной. рафрак1В1и. Целью изобрететтия является поп1,гшеиив дальности и надежности нэме-- рений. Способ яаключается в посьетке через исслр.дуем1 й слой атмосферы пучка оптического излучения на два не- диффу.-эиьс-с, зеркальных чгги уголковых отряжагеля, размеры которых различны и определяются заданным соотнотением., . стро.чт ияображ(1П1я отраженного otJonNnr отра кателяяи и по разности углопых положениЛ этих ияоОраже- iinvi судят об угле рефракции атмосфе- рь. 3 з.п. й)-лы, 1 шт.

Формула изобретения SU 1 603 985 A1

M;(H--7).(1-L/F),;(1-2L/F)2

Г+ 22 L 4 iLElr :ip-2-b/z r2p ri42 1-L/F)

L м; (U |т)+йС7,;+сг (,1,/р)2ч.()О

для зеркальных и

. ,.:iIllfI biIr2L/Fl

a2

И; (1+ --+C29,;+Q2 (1-L/F) 2 Cl -2L/F)

дпя уголковых отражателей,

M;-1 + S2Q|.|+4 25; ; -5),(L) J d2|U(zL)(1-z); j,(L)}dzlu(zL)z,

,2 - номер отражателя; L - дли- на измерительной трассы; |t(zL) - градиент диэлектрической прони}5аемости вдоль измерительной трассы; z - пере- манная интегрирования, нормированная на длину измерительной трассы L;. ,,Р - радиусы пучка оптического излучения, когерентности и кривизны-: волнового фронта на входе измерительной трассы, соответственно52. Ka /L,

..V),; - числа Френеля пучка и отражателей; - волновое числоI - волны оптического излуче- дая; AikJ - ралиусы;

2.Способ по п. 1, отличающийся -тем, что на отражатели посылают пучок оптического излучения радиусом больгае первой зоны Френеля.3.Способ по пп. 1 и 2, о т л и- чающийся тем, что пучок излучения направляют на зеркальные отражатели, фокусируют на o6patHoft . трассе между ними и приемной оптической системой, при этом размеры зер- . кальных отражателей и радиус пучка оптического излучения определяются условием .4.Способ по пп, 1 и 2, о т л й- чающийся тем, что пучок излучения направляют на уголковые отражатели, фокусируют на обратной трассе за приемной оптической системой, при этом размеры уголковых отражателей

н пучка оптического излучения определяются условием Р -Р2.

1 I

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1992 года SU1603985A1

Способ измерения угловой атмосферной рефракции 1978
  • Сушков Аркадий Сергеевич
SU792102A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Устройство для определения коэффициента проницаемости гелеобразных пленок 1983
  • Лебедев Сергей Руфинович
  • Лебедев Евгений Иванович
  • Никитская Надежда Николаевна
SU1113714A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 603 985 A1

Авторы

Аксенов В.П.

Банах В.А.

Чен-Бен-Нам

Цвык Р.Ш.

Даты

1992-07-30Публикация

1988-05-18Подача