СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ АТМОСФЕРНОЙ РЕФРАКЦИИ Советский патент 1994 года по МПК G01N21/41 

Описание патента на изобретение SU1438419A1

Изобретение относится к атмосферной оптике и может быть использовано для определения угла атмосферной рефракции.

Целью изобретения является повышение точности и чувствительности измерения угла атмосферной рефракции и истинного направления на источник.

На фиг. 1 представлена схема устройства, реализующего способ; на фиг. 2 - зависимость параметра Р от Ω .

Устройство содержит когерентный 1 и некогерентный 2 источники излучения, модулятор 3, параллельную полупрозрачную пластину 4, атмосферную трассу 5, фокусирующую систему 6, измеритель 7 углового положения изобретения.

Устройство работает следующим образом. Оптические оси пучков когерентного источника 1 с формирующей оптикой и некогерентного источника 2 совмещаются с помощью плоскопараллельной полупрозрачной пластины 4. Пройдя атмосферную трассу 5, излучение приходит на приемную фокусирующую оптическую систему 6, которая строит изображение этих источников. В плоскости резкого изображения установлен измеритель 7 углового положения. Угловое положение изображений может быть измерено, например, оператором с помощью теодолита, совмещающего фокусирующую систему 6 и измеритель 7. Чтобы оператор отличал пучки друг от друга, один из них, например, некогерентный, модулируется модулятором 3 частотой 1 Гц, что обеспечивает мигание источника и его индентификацию. По измеренным угловым положениям источников θ 1 и θ2и их параметрам (радиусам пучков а, кривизны волнового фронта F и когерентности aк на выходной апертуре) определяют угол рефракции и истинное направление на источник. Для определения только угла рефракции достаточно измерять лишь разность угловых положений источников Δθ = θ 1 - θ 2, а не их абсолютные величины относительно заданного направления, например горизонта.

Угол рефракции рассчитывается по формуле
α= ;
αист= , где Pi= ,
i = 1, 2 - номер источника;
Ωi= ;
К = 1 π/λ ;
аi - радиус пучка;
Fi - радиус кривизны волнового фронта пучка;
акi - радиус когерентности пучка;
λ - длина волны излучения;
L - длина трассы;
αист - истинное угловое положение источников.

Таким образом, измеряя разность углового положения изображения источников, определяют угол рефракции, измеряя же угловые положения этих источников относительно опорного направления, например горизонта, можно определить также истинное угловое положение источников.

Оценим точности измерения рефракции дисперсионным (спектральным) и описанным методами.

Относительное изменение индекса N рефракции для двух длин волн, например λ1 = 0,4 мкм, λ2 = 1 мкм, равно ≈0,0393 , т. е. разность импульсов рефракции составляет ≈ 4% от абсолютной рефракции на λ1. Так, при величине угла рефракции α ( λ1) = 600'' , разностная рефракция Δα≈ 24'' , а при α(λ1) = 25'' Δα≈ 1 '' , т. е. сравнима с ошибками измерений.

В описанном способе измеренная разность углов рефракции значительна. Это поясняется примером расчета для коллимированных пучков (F _→ ∞ ) с различным параметром Ω и ак. Как видно из фиг. 2, для когерентных пучков с Ω > 10 и Ω < 0,1 угол рефракции отличается в 2 раза (на фиг. 2 кривые: 8 - а/ак = 0, ак_→ ∞ ; 9 - а/ак = 10; 10 - а/ак= 20; 11 - а/ак = 50; 12 - а/ак = 100).

Для фокусированных пучков F > 0 величина угловых смещений изображения может быть больше или меньше, чем в 2 раза, по сравнению с некогерентным источником. Покажем это на примере. Из формулы для Рiкогерентного источника (ак -> ∞ ) следует, что при заданном Ω iзначение Рi достигает экстремума (максимума или минимума) при значениях = 1≠Ω-i

1, при >1 - минимум (фокусировка за приемную оптическую систему), при <1 - максимум (фокусировка перед приемной оптической системой). Так, при Ω = 10, = 0,9 P= = 5 ; θ = α (1 + Р), что в 6 раз больше, чем в некогерентном.

Таким образом, фокусировка одного из пучков или обоих в разные точки трассы позволяет существенно (в несколько раз) повысить точность и чувствительность способа. При этом фокусировка производится либо перед передней, либо за заднюю фокальную плоскость приемной оптической системы. Это связано с тем, что оптическая система строит мнимое изображение фокусированного пучка, если он находится между передней и задней фокальной плоскостями. (56) Авторское свидетельство СССР N 792102, кл. G 01 N 21/41, 1979.

Авторское свидетельство СССР N 1113714, кл. G 01 N 21/41, 1983.

Похожие патенты SU1438419A1

название год авторы номер документа
Способ измерения атмосферной рефракции 1989
  • Банах Виктор Арсентьевич
  • Чен Бен-Нам
  • Цвык Рувим Шахнович
SU1615604A1
Способ измерения атмосферной рефракции 1988
  • Аксенов В.П.
  • Банах В.А.
  • Чен-Бен-Нам
  • Цвык Р.Ш.
SU1603985A1
Способ определения структурной характеристики атмосферной турбулентности 1982
  • Беленький М.С.
  • Макаров А.А.
  • Покасов В.В.
SU1217074A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УСРЕДНЕННЫХ ЗНАЧЕНИЙ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ ВОЗДУХА, УГЛОВ БОКОВОЙ И ВЕРТИКАЛЬНОЙ РЕФРАКЦИИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 2007
  • Дементьев Виктор Евлампиевич
  • Дементьев Дмитрий Викторович
RU2382985C2
СПОСОБ ОПТИЧЕСКОЙ ТОМОГРАФИИ ТРЕХМЕРНЫХ МИКРООБЪЕКТОВ И МИКРОСКОП ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1999
  • Левин Г.Г.
  • Вишняков Г.Н.
RU2145109C1
Способ определения структурной характеристикипОКАзАТЕля пРЕлОМлЕНия 1977
  • Беленький М.С.
  • Макаров А.А.
  • Миронов В.Л.
  • Покасов В.В.
SU702839A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УГЛОВЫХ КООРДИНАТ И РАСПОЗНАВАНИЯ ОБЪЕКТОВ В ОПТИЧЕСКОЙ ЛОКАЦИИ 1979
  • Бакут Петр Алексеевич
  • Свиридов Константин Николаевич
  • Шумилов Юрий Петрович
SU1840450A1
Способ измерения атмосферной рефракции 1987
  • Банах В.А.
  • Бен-Нам Чен
  • Цвык Р.Ш.
SU1464676A1
Адаптивная система апертурного зондирования компенсации искажений волнового фронта в лазерных системах 2022
  • Цвык Рувим Шахнович
  • Банах Виктор Арсентьевич
RU2791833C1
Способ бесконтактного контроля попе-РЕчНыХ РАзМЕРОВ МиКРООб'ЕКТОВ 1979
  • Краснов Андрей Евгеньевич
  • Гугунишвили Гиви Григорьевич
SU823843A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 438 419 A1

Реферат патента 1994 года СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ АТМОСФЕРНОЙ РЕФРАКЦИИ

Изобретение позволяет измерить угол атмосферной рефракции. Цель - увеличение точности и чувствительности измерений - достигается измерением угловых смещений оптического изображения двух источников света, отличающихся друг от друга и (или) когерентностью, и (или) расходимостью (фокусировкой), и (или) начальным размером светового пучка. В формуле изобретения приведено математическое выражение для параметра, связывающего перечисленные величины. Значения указанного параметра у используемых источников света не должны совпадать. 1 з. п. ф-лы, 2 ил.

Формула изобретения SU 1 438 419 A1

1. СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ АТМОСФЕРНОЙ РЕФРАКЦИИ, заключающийся в том, что пропускают через атмосферу излучение двух оптических источников, принимают это излучение приемной оптической системой, с помощью которой получают резкое изображение источников, и по угловому положению изображений этих источников судят об угле рефракции, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности и чувствительности измерения, пропускают через атмосферу пучки излучения, отличающиеся друг от друга значением параметра
Pi=
i = 1, 2,
где Ωi= KQi2 / L
ai , Fi , aki - радиусы пучка, кривизны волнового фронта и когерентности соответственно на выходной апертуре источников;
L - длина трассы;
K=
λ - длина волны излучения.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что пропускают через атмосферу излучение когерентного или частично когерентного источника, при этом резкое изображение источника получают, фокусируя излучение до передней по ходу излучения или за заднюю по ходу излучения фокальную плоскость приемной оптической системы.

SU 1 438 419 A1

Авторы

Банах В.А.

Меламуд А.Э.

Миронов В.Л.

Носов В.В.

Чен Б.-Н.

Цвык Р.Ш.

Даты

1994-02-28Публикация

1986-12-29Подача