Фиг. 2
| название | год | авторы | номер документа |
|---|---|---|---|
| Способ измерения параметров СВЧ транзисторов | 1981 |
|
SU1083136A1 |
| СПОСОБ ОТБРАКОВКИ ОПОРНЫХ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СТЕРЖНЕЙ ДЛЯ ВЫСОКОЧАСТОТНОГО ПАКЕТА ПРИБОРА СВЧ | 1995 |
|
RU2079178C1 |
| СПОСОБ ДИСКРЕТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОГО ЗАТУХАНИЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ВОЛНЫ В ПЛЁНОЧНЫХ ЛОКАЛЬНЫХ ПОГЛОТИТЕЛЯХ ЗАМЕДЛЯЮЩИХ СИСТЕМ ПРИБОРОВ СВЧ С ДЛИТЕЛЬНЫМ ВЗАИМОДЕЙСТВИЕМ | 2017 |
|
RU2665357C1 |
| Устройство для измерения параметров материалов | 1987 |
|
SU1493939A1 |
| Устройство для неразрушающего контроля электрофизических характеристик магнитных пленок | 1989 |
|
SU1666994A1 |
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ФЕРРОМАГНИТНЫХ ПЛЕНОК И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2019 |
|
RU2714314C1 |
| СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТ НОМИНАЛЬНОГО ЗНАЧЕНИЯ ВНУТРЕННИХ РАЗМЕРОВ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2014 |
|
RU2579644C2 |
| Устройство для измерения отношения двух переменных напряжений | 1982 |
|
SU1095080A1 |
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ | 2011 |
|
RU2451298C1 |
| СВЧ-усилитель с длительным взаимодействием | 1982 |
|
SU1128304A1 |
Изобретение относится к контрольно- измерительной СВЧ-технике и может быть использовано в технологических процессах электронной промышленности при контроле электрофизических параметров цилиндрических образцов (ЦО) из полупроводниковых, диэлектрических материалов или их структур. Цель изобретения - повышение локальности измерений ЦО. Устр-во содержит отрезок 1 прямоугольного волновода, в котором расположены источник 2 СВЧ-колебаний, детектор 3 СВЧ-колебаний, два соосных металлических стержня 4 и 5, выполненных с возможностью перемещения вдоль своей оси, с отверстиями 6 и 7 для размещения ЦО, а также регистрирующий прибор 10. Для повышения локальности измерений используется подвижный ко- роткозамыкающий поршень 8 с пазом 9. Выполнение его с возможностью перемещения на расстояние от стержней 4 и 5 обеспечивает эффективное взаимодействие СВЧ-поля в отрезке 1 преимущественно с частью ЦО в достаточно малом зазоре, а не с частями стержней 4 и 5. Следствием этого является сильная зависимость амплитуды стоячей волны и, следовательно, показаний прибора 10 от параметров ЦО. 4 ил.
& /&}
/-Г77 /
Фиг.З
Риг. t
| Датчик для измерения электрофизических параметров цилиндрических образцов | 1978 |
|
SU788039A1 |
| Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
| Устройство для измерения параметров материалов | 1987 |
|
SU1493939A1 |
| Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
