Эталонный образец для определения качества магнитных дефектоскопических материалов Советский патент 1991 года по МПК G01N27/85 

Описание патента на изобретение SU1629831A2

Фиг. 2

J

Изобретение относится к средствам магнитной дефектоскопии и является усовершенствованием устройства по авт. св.№ 1087871.

Целью изобретения является повышение технологических возможностей образца за счет регулировки напряженности поля на внешней поверхности образца имитатора дефекта - щели.

На фиг. 1 показан эталонный образец, общий вид; на фиг. 2 - магнитопровод

С ПрОВОДОМ, ПОДКЛЮЧеННЫМ К ИСТОЧНИКУ TOK3J

на фиг. 3 - сечение А-А на фиг. 2.

Эталонный образец содержит магнитопровод, составленный из двух симметричных частей 1 и 2, каждая из которых представляет собой цилиндр с основанием в виде плоскости 3, ограниченной витком спирали 4 и отрезком прямой 5, соединяющим начало и конец витка спирали 4. Части магнитопровода сопряжены своими основаниями, место сопряжения которых является имитатором 6 дефекта-щели. Образец содержит также постоянный магнит 7, выполненный в виде намагниченного вдоль оси цилиндра и установленный в магнитопроводе соосно с ним. На боковой поверхности 8 магнитопровода вдоль имитатора б дефекта- щели нанесены равномерная шкала 9 и неравномерная шкала 10.

Эталонный образец снабжен изолированным проводом 11, предназначенным для подключения к источнику 12 тока, а в сопряженных основаниях обеих частей магни- топровода выполнены пазы 13, образующие отверстие, концентричное боковой поверхности магнита, в котором размещен провод 11.

Эталонный образец при определении качества магнитных дефектоскопических мате- риалов работает следующим образом.

Силовые линии магнитного поля постоянного магнита 7 замыкаются по магни- топроводу через имитатор 6 дефекта в радиальных плоскостях. Вдоль щели создается магнитное поле рассеяния, интенсивность которого зависит от радиуса кривизны этой поверхности и намагниченности постоянного магнита. Испытуемый магнитный порошок, нанесенный на поверхность магнитопровода, под воздействием магнитного поля рассеяния оседает вдоль щели. Качество порошка определяется путем сравнения длины выявленного с его помощью участка щели с длиной участка щели; выявленного с помощью порошка, принятого за эталон. Оценка качества порошка производится одновременно по двум шкалам 9 и 10, имеющим разные чувствительности при одинаковом количестве делений. Для удаления порошка с поверхности шкалы в проводе 11 устанавливается определенное значение тока с помощью источника 23. Создаваемое током магнитное поле, компенсирует поле постоянного магнита 7. Таким образом, на боковой поверхности результирующее поле равно нулю и магнитный порошок легко удаляется.

При необходимости ток в проводе 11 может пропускаться во время оценки качества порошка с целью усиления или ослабления магнитного поля постоянного магнита 7.

Пример. Проводят оценку качества пасты КМК для магнитопорошкового контроля. По окончании работ остатки пасты не удается удалить даже струей воды. После этого в проводнике устанавливают постоянный ток 5 А и остатки пасты легко удаляются с помощью окунания образца в ванну с водой.

Применение проводника с током в виде витка, охватывающего постоянный магнит, позволяет расширить технологические возможности эталонного образца при оценке качества дефектоскопических материалов.

Формула изобретения

Эталонный образец для определения качества магнитных дефектоскопических материалов по авт. св. № 1087871, отличающийся тем, что, с целью расширения технологических возможностей, он снабжен изолированным проводом, предназначенным для подключения к источнику тока, а в сопряженных основаниях обеих частей магнитопровода выполнены пазы, образующие отверстие, концентричное боковой поверхности магнита, в котором размещен провод.

5 9

8

+ о -

Похожие патенты SU1629831A2

название год авторы номер документа
Эталонный образец для определения качества магнитных дефектоскопических материалов 1983
  • Боровиков Александр Сергеевич
  • Газизова Гульфира Габдулхаевна
  • Петров Виктор Петрович
  • Рождественский Сергей Михайлович
  • Семеновская Ирина Борисовна
  • Зеленов Вячеслав Олегович
  • Мартьянов Евгений Иванович
SU1087871A1
Способ определения качества магнитных дефектоскопических порошков 1983
  • Боровиков Александр Сергеевич
  • Газизова Гульфира Габдулхаевна
  • Дегтерев Александр Петрович
  • Петров Виктор Петрович
  • Тулайкова Александра Анатольевна
  • Моносов Яков Абрамович
  • Коледов Виктор Викторович
  • Левин Михаил Наумович
SU1163247A1
Способ изготовления эталонных образцов для дефектоскопии 1989
  • Кудрявцев Сергей Иванович
  • Боровиков Александр Сергеевич
  • Троицкий Владимир Александрович
  • Кривасов Александр Константинович
  • Терещенко Николай Федорович
SU1705730A1
Способ определения качества магнитных порошков и эталонный образец для его осуществления 1983
  • Боровиков Александр Сергеевич
  • Газизова Гульфира Габдулхаевна
  • Петров Виктор Петрович
SU1136070A1
УСТРОЙСТВО МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ РЕЛЬСОВ 2016
  • Марков Анатолий Аркадиевич
  • Антипов Андрей Геннадиевич
RU2634806C1
ВНУТРИТРУБНЫЙ СНАРЯД-ДЕФЕКТОСКОП С ОДОМЕТРАМИ 2005
  • Синев Андрей Иванович
  • Плотников Петр Колестратович
  • Никишин Владимир Борисович
RU2306479C2
СПОСОБ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ 2008
  • Степанов Александр Петрович
  • Степанов Максим Александрович
  • Милованов Алексей Игоревич
  • Саломатов Владимир Николаевич
  • Лопатин Михаил Васильевич
RU2387983C1
Электромагнитный преобразователь для неразрушающего контроля 1990
  • Чаплыгин Валерий Иванович
  • Коноваленко Владимир Владимирович
SU1838781A3
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАССТОЯНИЯ, ПРОЙДЕННОГО ВНУТРИТРУБНЫМ СНАРЯДОМ-ДЕФЕКТОСКОПОМ С ОДОМЕТРАМИ 2006
  • Синев Андрей Иванович
  • Плотников Петр Колестратович
  • Никишин Владимир Борисович
  • Чеботаревский Юрий Викторович
  • Чигирев Петр Григорьевич
RU2316782C1
Устройство магнитной дефектоскопии ободьев колесной пары 2018
  • Марков Анатолий Аркадиевич
RU2680857C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 629 831 A2

Реферат патента 1991 года Эталонный образец для определения качества магнитных дефектоскопических материалов

Изобретение относится к средствам магнитной дефектоскопии и может быть использовано при оценке магнитных дефектоскопических материалов. Целью изобретения является расширение технологических возможностей образца за счет регулировки напряженности магнитного поля на внешней поверхности эталонного образна Для достижения цели оценку качества порошка производят по двум шкалам, имеющим разные чувствительности. Для удаления порошка с поверхности шкалы в проводе 11 устанавливается определенное значение тока с помощью источника 12. Создаваемое магнитное поле компенсирует поле постоянного магнита, усиливая его или ослабляя 3 ил

Формула изобретения SU 1 629 831 A2

;

1

I

73

фиг.1

А-А

1

Фиг. 3

SU 1 629 831 A2

Авторы

Давыдков Алексей Алексеевич

Шарова Александра Михайловна

Романов Вячеслав Анатольевич

Выборненко Сергей Иванович

Сохин Владислав Иванович

Даты

1991-02-23Публикация

1989-03-16Подача